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SemiBooks 24권에 나오는 용어 4915개입니다. 용어 옆 약호는 그 용어를 다루는 책이고, 누르면 그 책에서 용어를 설명하는 곳으로 갑니다. 570개는 두 권 이상에 나옵니다. 장·절 번호까지 보려면 아래 책 이름을 눌러 책별 찾아보기로 가세요.

여러 책에 나오는 용어만 4915개

ㄱ

가가속도 jerk J INF
가격 탄력성 Price elasticity IND
가동 이온 Mobile ionic charge Qm DEV CMP
가동 이온 전하 mobile ionic charge Qm FIL
가동률 Utilization IND
가둠 링 confinement ring PLS
가드 링 Guard ring DEV
가드밴드 Guard band DEV TST
가변 성형 빔 Variable shaped beam VSB LIT
가변 주사율 Variable refresh rate VRR DSP
가변 초점 Varifocal display DSP
가비지 컬렉션 Garbage collection GC MEM
가상 게이트 virtual gate PWR
가상 계측 virtual metrology VM PLS CMP
가상 원색 Imaginary primary CIS
가상 접지 Virtual ground ANA
가상 채널 Virtual channel VC SOC CIS
가설 기반 분석 Hypothesis-driven analysis FAL
가속 계수 Acceleration factor AF DEV FAL TST CIS PWR
가속 전압 Accelerating voltage FAL
가스 감지기 gas detector INF
가스 보조 증착 Gas-assisted deposition GIS FAL
가스 캐비닛 gas cabinet INF
가스 커튼 gas curtain FIL
가시도 Fringe visibility V OPT
가압-배기 퍼지 pressure-vent cycle purge INF
가용도 availability A INF
가우스 결상식 Gaussian lens equation OPT
가우스 빔 Gaussian beam OPT
가우시안 플룸 Gaussian plume model INF
가이디드 필터 Guided filter CIS
가장자리 고리 Edge ring YLD
가장자리 롤오프 edge roll-off FIL
가장자리 배치 오차 Edge placement error EPE LIT
가장자리 비 edge-to-centre density ratio h PLS
가장자리 비드 제거 Edge bead removal EBR YLD
가장자리 제외 edge exclusion EE FIL CMP
가장자리 제외 영역 Edge exclusion EE YLD
가장자리 조각 Fragment (edge segment) LIT
가장자리 처짐 edge roll-off CMP
가장자리 커패시턴스 Fringe capacitance DIG
가장자리 트리밍 edge trimming CMP
가장자리 효과 edge effect CMP
가중 함수 weighting function, kernel CMP
가중 효율 weighted efficiency PWR
가중치 고정 데이터 흐름 Weight-stationary dataflow WS SOC
가짜 무늬 Test-induced pattern YLD
가치사슬 Value chain IND
가치사슬 점유 Value-chain share IND
각 스펙트럼법 Angular spectrum method ASM CIS
각도 오차 Angular error CIS
각도 응답 Angular response OPT CIS
각도 이동 Angle shift (blue shift) OPT
각도 프로파일 Angular profile YLD
각스펙트럼법 Angular spectrum method ASM OPT
각해상도 Pixels per degree PPD DSP
간상세포 Rod cell DSP
간섭 Interference OPT
간접 밴드갭 Indirect band gap DEV
간접 수냉 indirect liquid cooling PWR
간접 ToF Indirect time-of-flight iToF CIS
갈륨 주입 Gallium implantation FAL
갈바닉 부식 galvanic corrosion CMP
감가상각 Depreciation MEM IND
감광막 Photoresist PR PRC
감도 함수 Sensitivity Function CIS
감마 Gamma γ DSP
감마 보정 Gamma correction CIS
감마 측정 Gamma measurement DSP
감산 Production cut IND
감산 공정 subtractive patterning CMP
감속 모드 Deceleration mode DOP
감쇠 뉴턴 Damped Newton TCD
감쇠 위상 변이 마스크 Attenuated PSM att-PSM LIT
감쇠비 damping ratio ζ ANA PWR INF
감지 전류 measurement (sense) current IM PWR
감지 증폭기 Sense amplifier SA SOC
강건 병합 Robust merge CIS
강결합 플라즈마 strongly coupled plasma PLS
강반전 Strong inversion ψs = 2φF DEV ANA
강유전체 메모리 Ferroelectric RAM FeRAM MEM
강유전체 트랜지스터 Ferroelectric FET FeFET MEM
강제 연속 모드 forced continuous conduction mode FCCM PWR
개구 문제 Aperture Problem CIS
개구수 Numerical aperture NA PRC LIT OPT
개구수와 회절 한계 Numerical aperture / diffraction limit NA FAL
개구율 Aperture ratio AR DSP
개기공 open pore CMP
개루프 이득 Open-loop gain A0 ANA
개방 전압 Open-circuit voltage Voc DEV CIS
갭리스 마이크로렌즈 Gapless microlens OPT
갭필 gap fill (HDP-CVD, HARP) CMP
거대 입자 macro-particle PLS
거멜 반복 Gummel iteration TCD
거멜 반복법 Gummel iteration DEV
거멜 수 Gummel number Q_B DEV
거멜 플롯 Gummel plot DEV
거미집 모형 Cobweb model IND
거버너 Governor SOC
거시 로딩 macro-loading FIL
거짓 경로 False path DIG DSN
거짓 공유 False sharing SOC
거짓 의존 False dependence (WAR / WAW) SOC
거품 Bubble (stall) SOC
건식 냉각 코일 Dry Cooling Coil DCC INF
건식 산화 dry oxidation FIL
건식 산화 / 습식 산화 Dry / wet oxidation PRC
건식 식각 Dry etching ETC
건식 투입·건식 배출 dry-in / dry-out CMP
건식·습식 식각 Dry / wet etching DSP
검사 샘플링 계획 Inspection sampling plan YLD
검사·계측 Inspection & metrology IND
검정력 Statistical power YLD
검증 Verification IND
검증 로트 Verification lot FAL
검출 양자 효율 Detective quantum efficiency DQE CIS
검출 지연 Detection delay YLD
검출 한계 Detection limit FAL
겉보기 활성화 에너지 apparent activation energy E_app FIL
게이지 R&R gauge repeatability and reproducibility GRR FIL TST
게이트 공핍 Poly-gate depletion TCD
게이트 누설 Gate leakage Ig DEV
게이트 대체 공정 Replacement gate MEM
게이트 드라이버 Gate driver DSP PWR
게이트 라스트 Replacement metal gate RMG PRC
게이트 라인 Gate (scan) line DSP
게이트 루프 링잉 gate-loop ringing PWR
게이트 루프 인덕턴스 gate loop inductance PWR
게이트 산화막 신뢰성 Gate Oxide Integrity GOI CMP
게이트 수준 시뮬레이터 Gate-level simulator DIG
게이트 스위칭 불안정 gate switching instability GSI PWR
게이트 올 어라운드 Gate-all-around GAA DEV LIT CMP TCD IND
게이트 용량 Gate capacitance Cgg TCD
게이트 유도 드레인 누설 Gate-induced drain leakage GIDL DEV TCD MEM
게이트 저항 Gate resistance R_g DEV PWR
게이트 전력 gate drive power P_G PWR
게이트 전압 스크리닝 gate voltage screening PWR
게이트 전압 창 gate voltage window PWR
게이트 전하 gate charge Q_G PWR
게이트 접촉 Gate contact TCD
게이트 커패시턴스 Gate capacitance Cg DIG
게이트 피치 Contacted poly pitch CPP LIT
게이트-드레인 거리 gate-to-drain spacing L_gd PWR
게이트-소스 커패시턴스 Gate-source capacitance Cgs ANA
게터링 Gettering PRC CIS
격리 Containment YLD
격막 게이지 capacitance manometer CM FIL
격자 Mesh / grid TCD
격자 (메시) Mesh DEV
격자 게인 맵 Grid gain map (mesh shading table) CIS
격자 방정식 Grating equation LIT
격자 산란 Lattice (phonon) scattering DEV
격자 상 Lattice image (HRTEM) HRTEM FAL
격자 상수 Lattice constant a DEV
격자 세분화 Mesh refinement TCD
격자 손상 Implant damage TCD
격자 수렴 Mesh convergence TCD
격자 정합 Lattice matching DEV
격자 페클레 수 Grid Péclet number TCD
결맞는 · 결맞지 않는 결상 Coherent vs incoherent imaging OPT
결맞음 시간 Coherence time τc CIS
결맞지 않는 두꺼운 층 Incoherent thick layer OPT
결정 격자 Crystal lattice DEV
결정 궤환 등화기 Decision feedback equalizer DFE MEM
결정 기인 결함 Crystal originated particle / pit COP YLD
결정립 성장 grain growth FIL
결정적 조사 Decisive test YLD
결함 Defect YLD FAL TST
결함 군집 Defect clustering YLD
결함 미발견 No defect found NDF · NTF FAL
결함 밀도 Defect density D₀ PRC YLD TST MEM CIS IND
결함 분류 Defect classification YLD
결함 수준 Defect level DL TST
결함 위치 추적 Fault isolation / localization FI FAL
결함 지도 defect map, spatial signature CMP
결함 커버리지 Defect coverage TST
결함 크기 분포 Defect size distribution YLD
결함 픽셀 보정 Defect pixel correction DPC CIS
결함–빈 겹치기 Defect-to-bin overlay YLD
결합 고장 Coupling fault CF MEM
결합 커패시턴스 Coupling capacitance Cc DIG
결합 파라미터 coupling parameter Γ PLS
결합 폴트 Coupling fault CF TST
결합 효율 power coupling efficiency η PLS
겹친 무늬 Mixed pattern YLD
겹침 윈도 Overlapping process window LIT
경계 스캔 Boundary scan TST
경계 윤활 boundary lubrication CMP
경계층 boundary layer FIL CMP
경로 노력 Path effort F DIG
경로 민감화 Path sensitization TST
경로 증대 배율 Path-length enhancement CIS
경로 지연 폴트 Path delay fault TST
경보 홍수 alarm flood INF
경사 Slew (transition time) DIG
경사 에지법 Slanted-edge method CIS
경사 접합 Linearly graded junction DEV
경시 절연 파괴 Time-Dependent Dielectric Breakdown TDDB DEV
경질 세그먼트 hard segment CMP
계단 구조 Staircase MEM
계단 근사 · 격자 해상도 Staircasing / mesh resolution OPT
계단 흐름 성장 step-flow growth PWR
계단형 필드 플레이트 stepped field plate PWR
계면 고정 전하 fixed oxide charge Qf PWR
계면 전하 Interface charge Qf, Qit TCD
계면 트랩 Interface traps Qit DEV FIL
계면 트랩 밀도 Interface trap density Dit DEV PWR
계면 포획 전하 Interface trapped charge Qit PRC
계면층 interfacial layer IL FIL
계면층 재성장 interfacial layer regrowth FIL
계측 Metrology YLD
계층적 정렬 Coarse-to-fine alignment CIS
계통 결함 Systematic defect YLD
계통 손실 Systematic loss YLD
계통 수율 Systematic yield Y_sys YLD
고 다이내믹 레인지 High dynamic range HDR CIS
고대역폭 메모리 High Bandwidth Memory HBM SOC MEM IND
고대역폭 플래시 High Bandwidth Flash HBF MEM
고밀도 플라즈마 CVD High Density Plasma CVD HDP-CVD FIL
고변환 이득 / 저변환 이득 High / low conversion gain HCG / LCG CIS
고속 푸리에 변환 Fast Fourier transform FFT OPT
고수준 주입 high-level injection PWR
고순도 불화수소 High-purity hydrogen fluoride HF IND
고스트 Ghost image OPT
고압 산화 high-pressure oxidation HiPOx FIL
고에너지 주입기 High-energy implanter DOP
고온 게이트 바이어스 시험 high-temperature gate bias HTGB PWR
고온 고습 역바이어스 시험 high-humidity high-temperature reverse bias H3TRB PWR
고온 동작 수명 시험 High-Temperature Operating Life HTOL DEV CIS
고온 역바이어스 시험 high-temperature reverse bias HTRB PWR
고온 주입 Hot implant DOP
고온 캐리어 주입 Hot Carrier Injection HCI DIG
고온계 pyrometer FIL
고용 한계 Solid solubility DOP TCD
고유 응력 intrinsic stress FIL
고유 이득 Intrinsic gain gm·ro ANA
고유 지연 Intrinsic delay tp0 DIG
고유전·금속 게이트 High-k / Metal Gate HKMG CMP
고유전율 게이트 절연막 High-k dielectric HKMG MEM
고유전율·금속 게이트 high-k metal gate HKMG FIL
고유진동수 natural frequency f_n INF
고임피던스 High impedance Z DIG
고장 Failure TST
고장 감지·분류 Fault Detection and Classification FDC CMP
고장 감지와 분류 fault detection and classification FDC PLS
고장 나무 분석 Fault tree analysis FTA FAL
고장 모델 Fault model FAL MEM
고장 시 안전 fail-safe INF
고장률 Failure rate (hazard rate) h(t) DEV
고전류 주입기 High-current implanter DOP
고전자 이동도 트랜지스터 High-electron-mobility transistor HEMT DEV PWR
고정 산화막 전하 Fixed oxide charge Qf DEV FIL
고정 연마입자 fixed abrasive CMP
고정 패턴 노이즈 Fixed pattern noise FPN CIS
고정거래가격 Contract price MEM
고정비·변동비 Fixed vs variable cost IND
고정점 Fixed point DIG
고조파 harmonics PLS INF
고종횡비 식각 High-aspect-ratio etching HAR ETC
고주입 High-level injection DEV
고차 보정 High-order correction HOWA / CPE LIT
고차 실레인 higher silanes SiₙH₂ₙ₊₂ PLS
고착 고장 Stuck-at fault SA0/SA1 DIG FAL MEM
고착 폴트 Stuck-at fault SAF TST
고체 용해도 Solid solubility PRC
고체 침지 렌즈 Solid immersion lens SIL FAL
고체상 에피 재성장 Solid phase epitaxial regrowth SPER DOP
고출력 펄스 마그네트론 스퍼터링 high-power impulse magnetron sputtering HiPIMS PLS
고형물 체류 시간 Solids Retention Time SRT INF
곡률 Curvature ANA
곡선 마스크 Curvilinear mask LIT
골짜기 분리 Valley splitting DEV
곱셈-누산 Multiply-Accumulate MAC SOC
곱의 합 Sum of Products SOP DIG
공간 벡터 PWM space vector PWM SVPWM PWR
공간 변조 JTE space-modulated JTE PWR
공간 분할 ALD spatial ALD FIL
공간 시그니처 분석 Spatial signature analysis SSA YLD
공간 전하 중화 Space-charge neutralization DOP
공간 주파수 Spatial frequency ν OPT
공간 주파수 응답 Spatial frequency response SFR CIS
공간 지역성 Spatial locality SOC MEM
공간 패턴 Spatial pattern / wafer map signature YLD
공간 필터 Spatial (Fourier) filter YLD
공간 필터링 Spatial filtering OPT
공간상 Aerial image LIT
공간적 결맞음 Spatial coherence OPT
공급인증서 Renewable Energy Certificate REC INF
공기 스프링 air spring INF
공기분리장치 Air Separation Unit ASU INF
공명 전하 교환 resonant charge exchange PLS
공선성 Collinearity / confounding YLD
공유 메모리 Shared memory (local memory) SOC
공유 픽셀 Shared pixel architecture CIS
공정 관리 모니터 Process control monitor / wafer acceptance test PCM · WAT YLD
공정 냉각수 Process Cooling Water PCW INF
공정 노드 Technology node LIT IND
공정 능력 지수 Process capability Cp/Cpk PRC
공정 레시피 Process recipe PRC
공정 비용 Cost of Ownership CoO CMP
공정 설계 키트 Process design kit PDK IND
공정 솔더 접합 Eutectic die attach PKG
공정 순서 열 예산 thermal budget allocation FIL
공정 윈도 Process window PW LIT
공정 이득 계수 Process transconductance parameter µCox ANA
공정 인증 Qualification IND
공정 제어 Advanced process control APC ETC
공정 창 Process window EL × DOF PRC PLS YLD
공정 코너 Process corner TT, FF, SS, FS, SF ANA
공조 Heating, Ventilation and Air Conditioning HVAC INF
공중상 Aerial image PRC
공통 게이트 증폭기 Common-gate amplifier CG ANA
공통 모드 Common mode CM ANA
공통 모드 과도 내성 common-mode transient immunity CMTI PWR
공통 모드 입력 범위 Input common-mode range ICMR ANA
공통 모드 전류 common-mode current PWR
공통 모드 전압 common-mode voltage PWR
공통 모드 제거비 Common-mode rejection ratio CMRR ANA
공통 모드 피드백 Common-mode feedback CMFB ANA
공통 베이스 전류 이득 Common-base current gain α DEV
공통 소스 인덕턴스 common-source inductance CSI PWR
공통 소스 증폭기 Common-source amplifier CS ANA
공통 원인 고장 Common Cause Failure CCF INF
공통 이미터 전류 이득 Common-emitter current gain β (h_FE) DEV
공통 중심 배치 Common-centroid layout ANA
공통성 분석 Commonality analysis YLD FAL
공핍 (MOS) Depletion (MOS) DEV
공핍 근사 Depletion approximation DEV TCD
공핍층 Depletion region W DEV TCD CIS PWR
공핍층 폭 Depletion width W DEV
공핍형 depletion-mode (normally-on) D-mode PWR
과구동 전압 Overdrive voltage Vov DIG ANA
과도 열 임피던스 transient thermal impedance Zth PWR
과도 증속 확산 Transient enhanced diffusion TED PRC TCD
과도 해석 Transient analysis .tran ANA
과도 확산 Transient enhanced diffusion TED DOP
과밀 플라즈마 overdense plasma PLS
과변조 overmodulation PWR
과불화화합물 perfluorocompounds PFC INF
과식각 Over-etch OE ETC
과요오드산칼륨 potassium periodate KIO₄ CMP
과잉 불량 Overkill / yield loss TST
과잉 잡음 계수 Excess noise factor γ DEV
과전압비 Overvoltage ratio U FAL
과초점 거리 Hyperfocal distance OPT
과포화도 supersaturation S FIL
관리 한계 Control limit UCL · LCL YLD
관리도 Control chart YLD
관성 지연 Inertial delay DIG
관통 shoot-through PWR
관통 나사 전위 threading screw dislocation TSD PWR
광 가이드 Light guide CIS
광 근접 보정 Optical proximity correction OPC PRC LIT
광 근접 효과 Optical proximity effect OPE LIT
광 생성 Photogeneration G(x) DEV
광 트래핑 Light trapping OPT
광도 Luminous intensity cd DSP
광로 길이 Optical path length OPL OPT
광부식 photo-corrosion CMP
광산 발생제 Photoacid generator PAG LIT
광선 Ray OPT
광속 Luminous flux lm CIS DSP
광원-마스크 최적화 Source-mask optimization SMO LIT
광응답 불균일 Photo response non-uniformity PRNU CIS
광자 Photon CIS
광자 계수 Photon counting (photon-number resolving) CIS
광자 계수 검출기 Photon-counting detector PCD CIS
광자 뭉침 Photon bunching CIS
광자 선속 Photon flux CIS
광자 에너지와 파장 Photon energy–wavelength λ = 1240/E DEV
광자 예산 Photon budget OPT
광자 전달 곡선 Photon transfer curve PTC CIS
광자 플럭스 Photon flux Φ OPT
광전 레이저 자극 Photoelectric laser stimulation PLS FAL
광전 변환 함수 Opto-electronic conversion function OECF CIS
광전도 감쇠 Photoconductive decay PCD DEV
광추출 효율 Outcoupling efficiency η_out DSP
광폭 스윙 미러 Wide-swing cascode mirror ANA
광학 그리드 Optical grid OPT
광학 보상 필름 Compensation film DSP
광학 분해능 Optical resolution YLD
광학 어드미턴스 Optical admittance η OPT
광학 저역 통과 필터 Optical low-pass filter OLPF OPT CIS
광학 전달 함수 Optical transfer function OTF OPT
광학 접착 Optical bonding OCA DSP
광학 크로스토크 Optical crosstalk OPT
광학 투시·비디오 투시 Optical / video see-through OST·VST DSP
광학 파워 Optical power Φ OPT
광학 포맷 Optical format 1/x″ OPT CIS
광학식 손떨림 보정 Optical image stabilization OIS CIS
교번 위상 변이 마스크 Alternating PSM alt-PSM LIT
교정과 검증 calibration and validation PLS
교차 오염 cross-contamination CMP DOP
교차 채널 검사 Cross-channel check CIS
교착 Deadlock SOC
교체 게이트 replacement gate FIL
교체 정책 Replacement policy LRU SOC
교통 기본도 fundamental diagram of traffic flow INF
구 접합 spherical junction PWR
구경 지터 Aperture jitter ANA
구경 측광 Aperture Photometry CIS
구동 세기 Drive strength X1/X2/X4 DIG
구동 트랜지스터 Driving TFT DTFT DSP
구름 입자 할당 cloud-in-cell weighting CIC PLS
구리 돌출 Copper protrusion (pumping) PKG
구리 리세스 Cu recess CMP PKG
구리 와이어 Copper wire PKG
구리 필러 Copper pillar bump PKG
구멍 분포 showerhead hole distribution FIL
구면 수차 Spherical aberration Cs FAL OPT
구역 Zone YLD
구역 분석 Zonal analysis YLD
구조 영역 모델 structure zone model SZM FIL
구조 텐서 Structure Tensor CIS
구조 함수 structure function PWR
구조 해싱 Structural hashing DSN
국가전략기술 세액공제 Strategic technology tax credit IND
국부 수명 제어 local lifetime control PWR
국부 평탄화 local planarization CMP
국부 CD 균일도 Local CD uniformity LCDU LIT
국소 근사 local field approximation PLS
국소 변동 Local (within-die) mismatch WID DIG
국소 최소 local minimum FIL
국소 평균 에너지 근사 local mean energy approximation LMEA PLS
국소장 근사 local field approximation LFA PLS
군굴절률 Group index n_g CIS
군속도 · 군굴절률 Group velocity / group index v_g, n_g OPT
군집 Cluster / Loc YLD
군집 계수 Cluster parameter α YLD
굴절률 Refractive index n OPT DSP
굽힘 길이 bending (elastic) length CMP
굽힘 반경 Bending radius R DSP
굽힘 변형률 Bending strain ε = y/R DSP
굿스–헨셴 이동 Goos–Hänchen shift OPT
궤도 운동 제한 이론 orbital motion limited theory OML PLS
궤적 trajectory (epitrochoid) CMP
귀무가설 Null hypothesis H₀ YLD
규칙 기반 OPC Rule-based OPC LIT
균일도 Uniformity ETC DSP
균질 모델 homogeneous model PLS
그래픽 처리 장치 Graphics processing unit GPU IND
그래픽 파이프라인 Graphics pipeline SOC
그레이 엣지 Gray edge CIS
그레이 코드 Gray code SOC
그로브 모델 Grove model FIL
그루브 groove (concentric, XY, radial, spiral) CMP
그룹 홀드 Grouped parameter hold CIS
그린우드–윌리엄슨 모델 Greenwood–Williamson model GW CMP
그림자 효과 Shadowing PRC LIT
그릿 grit size CMP
극자외선 Extreme ultraviolet EUV LIT
극자외선 노광 Extreme ultraviolet lithography EUV PRC MEM INF
극저온 식각 Cryogenic etching ETC PLS
극저온 에어로졸 cryogenic aerosol CMP
극점 Pole ANA
극점 분리 Pole splitting ANA
극좌표 Polar coordinates (r, θ) YLD
근계면 산화막 트랩 near-interface oxide traps NIT PWR
근본 원인 Root cause YLD FAL
근안 디스플레이 Near-eye display NED DSP
근축 근사 Paraxial approximation OPT
글레어 확산 함수 Glare spread function GSF CIS
글레이징 glazing CMP
글로 방전 glow discharge FIL
글로벌 셔터 Global shutter GS CIS
글리치 Glitch DIG
금속 간 절연막 Inter-Metal Dielectric IMD CMP
금속 모드 metal mode FIL
금속 산화물 레지스트 Metal-oxide resist MOR LIT
금속 스택 Metal stack DSN
금속 오염 metallic contamination CMP
금속 유도 갭 상태 Metal-induced gap states MIGS DEV
금속 이온 귀환 metal ion back-attraction β PLS
금속 이온화율 metal ionization fraction FIL
금속 전 절연막 Pre-Metal Dielectric PMD CMP
금속 피치 Minimum metal pitch MP LIT
금속 ECO Metal-only ECO DSN
금속간 화합물 Intermetallic compound IMC PKG
금속층 스택 Metal stack (BEOL) BEOL DIG
금속화 재구성 metallization reconstruction PWR
금지 영역 Keep-Out Zone KOZ PKG
금지 피치 Forbidden pitch DSN LIT
급경사 스위치 Steep-slope device DEV
급속 열처리 Rapid thermal annealing RTA PRC FIL
기계 율속 mechanically limited regime CMP
기계적 단면 Mechanical cross-section FAL
기공률 porosity FIL CMP
기능 커버리지 Functional coverage DSN SOC
기능 테스트 Functional test FAL
기둥 전하 pillar charge PWR
기본파 근사 first harmonic approximation FHA PWR
기상 핵생성 homogeneous gas-phase nucleation FIL
기상 HF vapor HF VHF CMP
기생 광 감도 Parasitic light sensitivity PLS CIS
기생 인덕턴스 Parasitic inductance PKG
기생 지연 Parasitic delay p DIG
기생 BJT parasitic bipolar transistor PWR
기술 매핑 Technology mapping DIG DSN
기아 Starvation SOC
기여도 분석 contribution analysis PLS
기울기 오차 Gradient error ANA
기울기 온도 slope temperature T_slope PLS
기울인 서셉터 tilted susceptor FIL
기저 부하 base load INF
기저면 전위 basal plane dislocation BPD PWR
기준 스퍼 Reference spur ANA
기준 포토다이오드 Reference photodiode CIS
기준 프레임 Reference frame CIS
기체 가열 gas heating T_g PLS
기체 고갈 neutral gas depletion PLS
기체 방전 gas discharge PLS
기체 수밀도 gas number density n_g PLS
기체 수송 계수 mass transfer coefficient h_g FIL
기체 처리량 throughput (gas) Q FIL
기판 바이어스 substrate bias FIL
기판 박막화 Substrate thinning FAL
기판 전류 Substrate current I_sub DEV TCD
기판 PNP Substrate (vertical) PNP ANA
깁스 현상 Gibbs phenomenon OPT
깊은 공핍 Deep depletion DEV
깊은 트렌치 격리 Deep trench isolation DTI CIS
깊은 트렌치 소자 분리 Deep trench isolation DTI OPT
깊이 분해능 Depth resolution DOP
깊이별 흡수 프로파일 Depth-resolved absorption OPT
깊이형 필터 depth filter (POU filter) CMP
꺼짐 전류 Off-current Ioff TCD
꼬리 고갈 tail depletion PLS
꼬리 전류 Tail current ISS DEV ANA PWR
꽃잎 · 레드 닷 플레어 Petal / red-dot flare OPT
끝-끝 간격 Tip-to-tip T2T LIT

ㄴ

나노시트 Nanosheet NS DEV
나노프로빙 Nanoprobing FAL
나방눈 구조 Moth-eye structure OPT
나비 곡선 Butterfly curve DIG
나이퀴스트 선도 Nyquist plot ANA
나이퀴스트 주파수 Nyquist frequency fs/2 ANA OPT CIS DSP
나이프 에지 knife edge CMP
나중 쓰기 Write-back SOC
내부 게이트 저항 internal gate resistance R_G,int PWR
내부 보상 Internal compensation 7T1C DSP
내부 스페이서 Inner spacer PRC
내부 양자 효율 Internal quantum efficiency IQE DEV
내부 전위 Built-in potential Vbi DEV TCD
내용 주소 메모리 Content-addressable memory CAM DIG
내장 메모리 테스트 Memory built-in self test MBIST FAL
내장 자체 테스트 Built-In Self-Test BIST DIG MEM
내장 전계 Built-in drift field CIS
내장 전위 Built-in potential V_bi CIS
냉각 곡선 cooling curve PWR
냉각수 온도 상승 coolant temperature rise ΔTf PWR
냉각탑 cooling tower INF
냉동톤 Refrigeration Ton RT INF
널 충돌 기법 null-collision method PLS
널 충돌법 null collision method PLS
넓은 밴드갭 wide bandgap WBG PWR
넓은 밴드갭 반도체 wide bandgap semiconductor WBG PWR
넘침 장벽 Overflow barrier V_b CIS
네마틱 Nematic phase DSP
넷 Net DIG
넷리스트 Netlist DIG ANA
노광 Lithography PRC MEM
노광 장비 Lithography scanner IND
노광 필드 Exposure field LIT
노광 후 베이크 Post-exposure bake PEB LIT
노광량 Exposure dose mJ/cm² LIT
노광량 여유도 Exposure latitude EL LIT
노나셀 Nonacell CIS
노듈 nodule CMP
노멀리 블랙 Normally black NB DSP
노멀리 오프 Normally-off (enhancement mode) DEV
노운 굿 다이 Known good die KGD MEM
노이만 경계 조건 Neumann boundary condition TCD
노이즈 공분산 전파 Noise covariance propagation CIS
노이즈 마진 Noise margin NM DIG
노이즈 예산 Noise budget CIS
노이즈 저감 Noise reduction NR CIS
노이즈 파워 스펙트럼 Noise power spectrum NPS CIS
노점 dew point INF
노출 융합 Exposure Fusion CIS
노출값 Exposure value EV CIS
노치 Notch PRC YLD
노칭 Notching ETC
녹색 갭 Green gap DSP
논리 합성 Logic synthesis DIG DSN SOC
논리적 노력 Logical effort g DIG DSN SOC
논블로킹 대입 Nonblocking assignment <= DIG
농축 로터 zeolite rotor concentrator INF
농축 배수 Cycles of Concentration CoC INF
누락 코드 Missing code ANA
누설 전력 Leakage power DIG DSN
누설 전류 Leakage current Ioff DEV MEM
누적 수율 Cumulative (rolled) yield YLD PKG TST
눈사태 효과 Avalanche effect SOC
뉴슨스 Nuisance YLD
뉴턴 결상식 Newtonian lens equation OPT
뉴턴 링 Newton's rings OPT
뉴턴 방법 Newton's method TCD
뉴턴법 (결합 해법) Newton (coupled) method DEV
능동 게이트 구동 active gate driving AGD PWR
능동 부하 Active load ANA
능동 제진대 active vibration isolation INF
능동 클램프 플라이백 active-clamp flyback ACF PWR
능선점 Ridge point SOC
니트 Nit nit DSP

ㄷ

다구역 히터 multi-zone heater FIL
다극 커스프 가둠 multipole cusp confinement PLS
다다 트리 Dadda tree DIG
다단 JTE multi-zone JTE PWR
다마신 Damascene PRC LIT ETC CMP
다변량 이상치 Multivariate outlier TST
다색 PSF Polychromatic PSF OPT
다운빈 Down-binning TST
다운스트림 플라스마 Downstream / remote plasma ETC
다음 상태 논리 Next-state logic DIG
다이 Die SOC IND
다이 강도 Die strength PKG
다이 내 불균일 Within-Die Non-Uniformity WIDNU CMP
다이 대 다이 비교 Die-to-die comparison D2D YLD
다이 수율 Die yield DSN
다이 시프트 Die shift PKG
다이 어태치 Die attach (die bonding) D/A PKG
다이 좌표 Die coordinates YLD
다이 크기 Die size IND
다이내믹 레인지 Dynamic range DR CIS
다이당 웨이퍼 수 dies per wafer DPW PWR
다이당 평균 결함 수 Average faults per die λ = A·D₀ YLD
다이싱 Dicing PKG
다이아몬드 구조 Diamond structure DEV
다이아몬드 디스크 diamond disk (conditioner) CMP
다이아몬드 탈락 diamond pull-out CMP
다이아몬드 픽셀 Diamond pixel DSP
다이오드 연결 Diode-connected transistor ANA
다중 경로 간섭 Multipath Interference MPI CIS
다중 구역 멤브레인 헤드 multi-zone membrane head CMP
다중 구역 코일 multi-zone coil PLS
다중 레벨 신호 Multi-level signaling PAM4 DIG
다중 문턱 전압 Multi-threshold voltage Multi-Vt DIG
다중 문턱 전압 셀 Multi-Vt cells SOC
다중 미결 트랜잭션 Multiple outstanding transactions SOC
다중 반사 고스트 예산 Ghost budget OPT
다중 비교 Multiple comparisons YLD
다중 양자 우물 Multiple quantum wells MQW DSP
다중 에피 multi-epitaxy PWR
다중 온도 테스트 Multi-temperature test TST
다중 핑거 레이아웃 Multi-finger layout DEV
다층막 거울 Multilayer mirror LIT
다층막 결함 Multilayer defect YLD
다크 실리콘 Dark silicon SOC
단 노력 Stage effort f DIG
단극 소자 unipolar device PWR
단극 한계 Unipolar limit (silicon limit) DEV PWR
단락 · 단선 · 누설 Short / open / leakage FAL
단락 내량 short-circuit withstand time t_sc PWR
단락 전력 Short-circuit power DIG
단락 전류 Short-circuit current Isc (Jsc) DEV DIG SOC
단락 전류 이득 Short-circuit current gain h21 DEV
단락 Type I hard-switching fault PWR
단락 Type II fault under load PWR
단면 대역폭 Bisection bandwidth SOC
단방향 기류 unidirectional airflow INF
단분자층 형성 시간 monolayer formation time FIL
단색광기 Monochromator CIS
단선 Open YLD
단시간 노출 한계 Short-Term Exposure Limit STEL INF
단위 셀 Unit cell DEV
단위 소자 Unit device ANA
단위 이득 주파수 Unity-gain frequency fu ANA
단위 이득점 Unity-gain points VIL, VIH DIG
단일 고장점 Single Point of Failure SPOF INF
단일 광자 애벌런치 다이오드 Single-photon avalanche diode SPAD CIS
단일 기울기 ADC Single-slope ADC SS-ADC CIS
단일 사건 소손 single-event burnout SEB PWR
단일 슬릿 회절 Single-slit diffraction OPT
단일점 고장 지표 Single-point fault metric SPFM CIS
단일항·삼중항 Singlet / triplet S₁·T₁ DSP
단조 감소 함수 Negative unate function DIG
단조성 Monotonicity DIG
단차 Step Height SH CMP
단차 피복 Step coverage PRC
단차 피복성 Step coverage MEM
단채널 효과 Short-channel effect SCE DEV ANA
단측 접합 One-sided junction p⁺n / n⁺p DEV
단파 적외선 Short-wave infrared SWIR CIS
단파장 통과 엣지 필터 Short-Pass Edge Filter CIS
담쾰러 수 Damköhler number Da FIL
대기 시간 queue time Q-time CMP
대기압 플라즈마 atmospheric-pressure plasma APP PLS
대기의 창 Atmospheric window CIS
대류 열전달 계수 convective heat transfer coefficient h PWR
대비 감도 함수 Contrast sensitivity function CSF CIS DSP
대비 검출 확률 Contrast detection probability CDP CIS
대비 곡선 Contrast curve γ PRC
대상 로우 리프레시 Target row refresh TRR MEM
대수 제어 staging INF
대역 통과 필터 Bandpass filter OPT
대역폭 Bandwidth BW MEM
대역폭 대 용량 비 Bandwidth-to-capacity ratio MEM
대전 Charging YLD FAL
대전 소자 모델 Charged device model CDM FAL
대전 손상 plasma-induced charging damage PID PLS
대전 완화 charging relief PLS
대체 금속 게이트 Replacement Metal Gate RMG CMP
더미 범프 Dummy (thermal) bump PKG
더미 소자 Dummy device ANA
더미 웨이퍼 dummy wafer FIL
더미 트렌치 dummy trench PWR
더미 필 Dummy fill DSN PRC CMP
더블 데이터 레이트 Double data rate DDR MEM
덮임률 Surface coverage θ ETC
데너드 스케일링 Dennard scaling DEV
데드 존 Dead zone ANA
데드 타임 Dead time τd CIS PWR
데드 타임 손실 dead-time loss PWR
데드 타임 전압 오차 dead-time voltage error PWR
데드레그 dead leg INF
데드리브스 차트 Dead leaves chart CIS
데바이 길이 Debye length λD ETC PLS
데바이 차폐 Debye shielding PLS
데시메이션 필터 Decimation filter ANA
데시벨 Decibel dB ANA
데이터 라인 Data (source) line DSP
데이터 스트로브 Data strobe DQS MEM
데이터 식별자 Data identifier DI CIS
데이터 큐브 Hyperspectral data cube CIS
데이터 흐름 그래프 Dataflow graph SOC
데이터센터 Data center IND
데이터율 Data rate CIS
데이터패스 Datapath SOC
덱 Deck (tier) ETC
도광판 Light guide plate LGP DSP
도금 범프·딥 plating bump / dip CMP
도너 Donor Nd DEV
도넛 Donut YLD
도미노 논리 Domino logic DIG
도즈 Dose Φ PRC DOP CIS
도즈 창 dose window PWR
도착 시각 Arrival time DIG
도파 모드 Guided mode CIS
도파 모드 공진 Guided-mode resonance GMR CIS
도파관 Waveguide combiner DSP
도펀트 Dopant DOP
도핑 Doping DOP
도핑 의존 이동도 Doping-dependent mobility TCD
독성 가스 toxic gas INF
돌기 asperity CMP
돌출 높이 diamond protrusion height CMP
돔·보울 분포 dome / bowl profile FIL
동결 Freeze-out DEV
동공 Pupil LIT
동공 간 거리 Interpupillary distance IPD DSP
동공 수차 Pupil aberration OPT
동공 함수 Pupil function P OPT CIS
동기 설계 Synchronous design DIG
동기 정류 synchronous rectification PWR
동기 카운터 Synchronous counter DIG
동기 펄스 synchronous pulsing PLS
동기식 설계 Synchronous design DIG
동기화기 Synchronizer DIG SOC
동시 도착 손실 Coincidence Loss CIS
동시 스위칭 잡음 Simultaneous Switching Noise SSN PKG
동역학 몬테카를로 kinetic Monte Carlo KMC FIL
동작점 Operating point (bias point) Q ANA
동작점 해석 DC operating-point analysis .op ANA
동적 공간 전하 dynamic space charge PWR
동적 기계 분석 Dynamic Mechanical Analysis DMA CMP
동적 논리 Dynamic logic DIG
동적 범위 Dynamic range stop DSP
동적 애벌런치 dynamic avalanche PWR
동적 온저항 dynamic on-resistance dynamic R_on PWR
동적 전력 Dynamic power P = αCV²f DEV DIG DSN SOC
동적 전압 보상기 Dynamic Voltage Restorer DVR INF
동적 전압·주파수 조절 Dynamic voltage and frequency scaling DVFS DIG SOC
동적 회복 Dynamic annealing DOP
동점성 계수 kinematic viscosity ν FIL
동치 상태 Equivalent states DIG
동형 온도 homologous temperature T/Tm FIL
두 봉우리 IEDF bimodal IEDF PLS
두 온도 분포 bi-Maxwellian distribution PLS
두께 균일도 thickness uniformity FIL
두께 편차 Total thickness variation TTV CIS
둔각 삼각형 문제 Obtuse-triangle problem TCD
둘러싸기 규칙 Enclosure rule DSN
뒷면 보상막 backside compensation film FIL
뒷면 헬륨 냉각 Backside helium cooling YLD
듀얼 다마신 Dual damascene PRC CMP FAL
듀얼 픽셀 Dual pixel (2PD) 2PD OPT CIS
듀티 duty cycle D PLS CIS PWR
듀티비 duty ratio D PWR
드라이버 Driver TST
드래그아웃 drag-out CMP
드레인 유도 장벽 감소 Drain-induced barrier lowering DIBL MEM
드레인 유도 장벽 낮춤 Drain-induced barrier lowering DIBL TCD
드레인 유도 장벽 저하 Drain-induced barrier lowering DIBL DEV DIG
드롭아웃 전압 Dropout voltage VDO ANA
드루이베스테인 법 Druyvesteyn method PLS
드루이베스테인 분포 Druyvesteyn distribution PLS
드루이베스테인법 Druyvesteyn method PLS
드리프트 Drift DEV
드리프트 저항 drift resistance Rdrift PWR
드리프트-확산 모델 Drift-diffusion model DD TCD
드리프트–확산 모형 Drift–diffusion model DD DEV
드리프트–확산 전류식 Drift–diffusion current equation DEV
드리프트층 Drift region DEV PWR
드모르간 정리 De Morgan's theorem DIG
들로네 삼각 분할 Delaunay triangulation TCD
들어온 두께 incoming thickness CMP
등가 산화막 두께 Equivalent oxide thickness EOT DEV PRC FIL TCD MEM
등가 저항 Equivalent resistance Req DIG
등가 종횡비 equivalent aspect ratio FIL
등가성 검사 Equivalence checking LEC DIG DSN
등각 도핑 Conformal doping DOP
등각 증착 Conformal deposition TCD
등방-조밀 바이어스 Iso-dense bias DSN
등방성 Isotropic ETC
등방성 / 이방성 Isotropic / anisotropic PRC
등색 함수 Color matching functions x̄ȳz̄ DSP
등에너지면 (Si 골짜기) Constant-energy surface (valley) DEV
등전위 본딩 equipotential bonding INF
등전점 IsoElectric Point IEP CMP
디더 Dither ANA
디더링 Dithering DSP
디렉터리 Directory SOC
디리클레 경계 조건 Dirichlet boundary condition TCD
디머라 Demura DSP
디먹스 Demultiplexer DEMUX DSP
디모자이크 Demosaicing SOC
디모자이킹 Demosaicing CIS
디밍 존 Dimming zone DSP
디바이 길이 Debye length L_D DEV CMP TCD
디봇 divot CMP
디스크리트 패키지 discrete package PWR
디스패칭 규칙 dispatching rule INF
디스플레이 구동 IC Display driver IC DDIC DSP
디싱 Dishing PRC CMP CIS
디웨팅 dewetting FIL
디임베딩 De-embedding DEV
디자인 윈 Design win IND
디자인 하우스 Design house IND
디지털 서명 Digital signature SOC
디지털 신호 Digital signal DIG
디지털 신호 처리기 Digital Signal Processor DSP SOC
디지털 아이솔레이터 digital isolator PWR
디지털 트윈 digital twin CMP INF
디캡 Decapsulation decap FAL PKG
디캡 셀 Decoupling capacitor cell decap DSN
디커플링 커패시터 Decoupling capacitor Decap SOC PKG
디컨볼루션 Deconvolution CIS
디클로로실레인 dichlorosilane DCS FIL
디포커스 Defocus LIT OPT
디프로세싱 Deprocessing / delayering FAL
딜 삼각형 Deal triangle FIL
딜-그로브 모델 Deal-Grove model FIL TCD
딥 디플리션 CCD Deep-depletion CCD CIS
딥 서브전자 읽기 노이즈 Deep sub-electron read noise DSERN CIS

ㄹ

라그랑주 불변량 Lagrange invariant H OPT
라디칼 Radical ETC
라머 반지름 Larmor radius r_L FIL
라멜라 Lamella FAL
라모어 반지름 Larmor radius r_L PLS
라미네이트 버스바 laminated busbar PWR
라이너 liner (Ti/TiN) CMP PKG
라이선스·로열티 License & royalty IND
라이트백 Write-back MEM
라이트스루 Write-through MEM
라이트의 법칙 Wright's law MEM
라인 레귤레이션 Line regulation ANA
라인 버퍼 Line buffer SOC CIS
라인 수율 Line yield YLD
라인 코딩 Line coding SOC
라인 타임 Line time 1H CIS DSP
라플라스 압력 Laplace pressure CMP
라플라시안 피라미드 Laplacian Pyramid CIS
락 Lock ANA
락인 열화상 Lock-in thermography LIT FAL
란다우–레비치 막 Landau–Levich film CMP
람베르트 발광면 Lambertian emitter DSP
람베르트 한계 Lambertian (Yablonovitch) limit 4n² CIS
래디컬 radical FIL PLS
래디컬 재결합 surface recombination of radicals FIL
래디컬 플럭스 radical flux Γ_n PLS
래디컬/이온 플럭스 비 neutral-to-ion flux ratio Γ_n/Γ_i PLS
래스터화 Rasterization SOC
래치 Regenerative latch ANA
래치 추론 Latch inference DIG DSN
래치업 Latch-up DEV FAL PWR
래치업 시험 Latch-up test (JESD78) JESD78 DEV
래칭 전류 latching current I_L PWR
랜덤 하드웨어 고장 확률 지표 Probabilistic metric for random hardware failures PMHF CIS
램사우어 최소 Ramsauer–Townsend minimum PLS
램프 등가 시간 ramp equivalent time FIL
램프업 ramp-up INF
랭뮤어 Langmuir L FIL
랭뮤어 탐침 Langmuir probe PLS
랭뮤어 흡착 Langmuir adsorption FIL
랭뮤어-힌셜우드 모델 Langmuir–Hinshelwood model LH FIL
런투런 제어 run-to-run control R2R FIL PLS CMP
레벨 셋 방법 Level set method TCD
레벨링 Leveling LIT
레시피 recipe FIL PLS
레이놀즈 방정식 Reynolds equation CMP
레이스 투 아이들 Race-to-idle SOC
레이스트랙 racetrack FIL PLS
레이어 연산 Layer Boolean operation DSN
레이저 간섭계 Laser interferometry ETC
레이저 곡률 측정 laser curvature measurement FIL
레이저 그루빙 Laser grooving PKG
레이저 리페어 Laser repair DSP
레이저 리프트오프 Laser lift-off LLO DSP
레이저 마킹 Laser marking PKG
레이저 문턱 Lasing threshold I_th DEV
레이저 생성 플라스마 Laser-produced plasma LPP LIT
레이저 세정 laser cleaning CMP
레이저 어닐 laser anneal LSA FIL DOP
레이저 전압 프로빙 Laser voltage probing LVP FAL
레이저 주사 현미경 Laser scanning microscope LSM FAL
레이저 침습성 Laser invasiveness FAL
레인 Lane CIS
레인지 range INF
레인플로 계수 rainflow counting PWR
레일 클램프 Rail clamp (power clamp) DEV
레일-투-레일 Rail-to-rail ANA
레일리 기준 Rayleigh criterion OPT
레일리 길이 Rayleigh range z_R OPT
레일리 산란 Rayleigh scattering CMP YLD CIS
레일리 식 Rayleigh criterion PRC LIT MEM
레일리–플레셋 방정식 Rayleigh–Plesset equation CMP
레지스터 별칭 표 Register Alias Table RAT SOC
레지스터 이름 바꾸기 Register renaming SOC
레지스터 전송 수준 Register-Transfer Level RTL DIG SOC
레지스터드 DIMM Registered DIMM RDIMM MEM
레지스트 대비 Resist contrast γ LIT
레진 블리드 Resin bleed-out PKG
레티클 Reticle DSN YLD
레티클 스테이지 Reticle stage LIT
레티클 한계 Reticle limit PKG IND
렌즈 셰이딩 보정 Lens shading correction LSC CIS
렌즈 쉐이딩 Lens shading OPT
렌즈 쉐이딩 보정 Lens shading correction LSC OPT
렌즈 제작자 공식 Lensmaker's equation OPT
렌즈–센서 공동 설계 Lens–sensor co-design OPT
렌즈의 푸리에 변환 성질 Fourier-transforming property of a lens OPT
렌트의 법칙 Rent's rule PKG
로그 시프터 Logarithmic shifter DIG
로그 픽셀 Logarithmic pixel CIS
로드 레귤레이션 Load regulation ANA
로드락 load lock FIL
로드보드 Load board / DUT board TST
로드포트 load port INF
로딩 Loading effect ETC
로딩 효과 loading effect FIL
로렌츠-로렌츠 식 Lorentz-Lorenz equation FIL
로우 미스 Row miss MEM
로우 버퍼 Row buffer MEM
로우 충돌 Row conflict MEM
로우 해머 RowHammer MEM
로우 히트 Row hit MEM
로우별 활성화 카운팅 Per-row activation counting PRAC MEM
로직 반도체 Logic IND
로직 BIST Logic BIST LBIST TST
로컬 디밍 Local dimming DSP
로컬 톤 매핑 Local tone mapping CIS
로타고니 Rotagoni drying CMP
로트 Lot YLD
로트 이력 Lot history YLD
론치 온 시프트 Launch-on-shift LOS TST
론치 온 캡처 Launch-on-capture LOC TST
롤러블·슬라이더블 Rollable / slidable display DSP
롤링 셔터 Rolling shutter RS CIS
롤백 방지 카운터 Anti-rollback counter SOC
롬바르디 모델 Lombardi (CVT) model TCD
롱스로 스퍼터링 long-throw sputtering FIL
루오–돈펠드 모델 Luo–Dornfeld model CMP
루카스–카나데 방법 Lucas–Kanade Method LK CIS
루터–아이브스 조건 Luther–Ives condition CIS
루테늄 ruthenium (Ru) Ru CMP
루프 Wire loop PKG
루프 대역폭 Loop bandwidth SOC
루프 이득 Loop gain T = Aβ ANA CIS
루프 필터 Loop filter ANA
루프라인 모델 Roofline model SOC MEM
루프백 Loopback TST
룩업 테이블 Look-up table LUT DIG
리간드 교환 ligand exchange FIL
리던던시 Redundancy MEM
리드 리트라이 Read retry MEM
리드프레임 Leadframe L/F PKG
리모자이크 Remosaic CIS
리본 빔 Ribbon beam DOP
리뷰 샘플링 Review sampling YLD
리뷰 SEM defect review SEM DR-SEM CMP YLD
리세스 게이트 recessed gate PWR
리쇼어링·프렌드쇼어링 Reshoring / friend-shoring IND
리스핀 Re-spin SOC
리의 인수분해 규칙 Li's factorization rules OPT
리처드슨 상수 Richardson constant A* DEV PWR
리처드슨–루시 반복 Richardson–Lucy Deconvolution RL CIS
리타이밍 Retiming DIG
리테이너 링 retaining ring CMP
리테이닝 링 Retaining ring YLD
리텐션 Data retention MEM
리틀의 법칙 Little's law INF
리프레시 Refresh REF SOC MEM
리프트 핀 Lift pin YLD
리프트아웃 Lift-out FAL
리프트오프 lift-off (sensor gap) CMP
리플 카운터 Ripple counter DIG
리플 캐리 덧셈기 Ripple-carry adder RCA DIG
리플로 reflow (PSG/BPSG) CMP PKG
리플로우 Thermal reflow OPT
리피터 Repeater DIG DSN
립프로그 적분 leapfrog integration PLS
릿지 포인트 Ridge point MEM
링 발진기 Ring oscillator ANA
링 오실레이터 Ring oscillator RO DIG
링 펀치스루 ring punch-through PWR
링잉 Ringing CIS PWR
링크 대역폭 Link bandwidth Gbps DSP

ㅁ

마그네트론 magnetron FIL PLS
마랑고니 건조 Marangoni drying CMP
마모 계수 wear coefficient K CMP
마수드 모델 Massoud model FIL
마스크 Mask ETC
마스크 (레티클) Photomask / reticle LIT
마스크 3D 효과 Mask 3D effect M3D LIT
마스크 검사와 수리 Mask inspection and repair LIT
마스크 데이터 준비 Mask Data Preparation MDP DSN
마스크 블랭크 Mask blank LIT
마스크 세트 Mask set IND
마스크 수 Mask count DSP
마스크 오차 증폭 인자 Mask error enhancement factor MEEF LIT
마스터-슬레이브 플립플롭 Master-slave flip-flop DIG
마이너 법칙 Miner's rule PWR
마이컬슨 간섭계 Michelson interferometer OPT
마이크로 범프 Microbump µbump PKG
마이크로 스크래치 micro-scratch CMP
마이크로렌즈 Microlens ML / OCL CIS
마이크로렌즈 시프트 Microlens shift CIS
마이크로범프 micro-bump µbump CMP MEM
마이크로볼로미터 Microbolometer CIS
마이크로캐비티 Microcavity DSP
마이크로컨트롤러 Microcontroller unit MCU IND
마이크로트렌치 Microtrench ETC
마이크로파 간섭계 microwave interferometer PLS
마이크로파이프 micropipe MP PWR
마이크로LED Micro-LED µLED DSP
마이크로OLED Micro-OLED (OLEDoS) OLEDoS DSP
마진 불량 Marginal (soft) failure FAL
마차 바퀴 효과 Wagon-wheel (stroboscopic) effect CIS
마찰 계수 Coefficient Of Friction COF, μ CMP
마찰 발열 frictional heating q CMP
마찰 일률 모델 frictional power model CMP
마치 테스트 March test MEM
마티센 규칙 Matthiessen's rule DEV TCD
막 생물 반응조 Membrane Bioreactor MBR INF
막 탈기기 membrane degasifier MDG INF
막질 film quality FIL
말뤼스 법칙 Malus's law OPT
망막 해상도 Retina resolution DSP
망원형 · 레트로포커스 Telephoto / retrofocus OPT
맞물림 배치 Interdigitation ANA
맞춤 파형 tailored waveform PLS
맞춤형 칩 Application-specific integrated circuit ASIC IND
매립 채널 어레이 트랜지스터 Buried channel array transistor BCAT MEM
매스 리플로 Mass reflow MR PKG
매스 트랜스퍼 Mass transfer DSP
매엽 스핀 세정기 single-wafer spin processor CMP
매질 속 파장 Wavelength in medium λ/n OPT
매출총이익률 Gross margin IND
매크로 검사 Macro inspection YLD
맥스웰 방정식 Maxwell's equations OPT
맥스웰 분포 Maxwellian distribution f_M PLS
맥스웰-볼츠만 분포 Maxwell-Boltzmann distribution FIL
맥스웰화 Maxwellization PLS
맨드릴 Mandrel LIT
머리 막힘 Head-of-line blocking HOL SOC
머피 모델 Murphy yield model YLD
머피 수율 모델 Murphy yield model PWR
먼지 플라즈마 dusty plasma PLS
멀티 데크 Multi-deck stacking MEM
멀티 사이트 Multi-site testing TST
멀티 사이트 테스트 Multi-site test YLD
멀티 사이트 효율 Multi-site efficiency MSE TST
멀티 패터닝 Multiple patterning MP LIT MEM IND
멀티 Vt Multi-threshold voltage LVT/SVT/HVT DSN
멀티빔 검사 Multi-beam inspection YLD
멀티빔 마스크 묘화기 Multi-beam mask writer MBMW LIT
멀티빔 묘화기 Multi-beam mask writer MBMW DSN
멀티프레임 초해상도 Multi-frame super-resolution MFSR CIS
멀티플렉스드 랭크 DIMM Multiplexed rank DIMM MRDIMM MEM
메가소닉 megasonic cleaning CMP
메가팹 Megafab / Gigafab IND
메모리 계층 Memory hierarchy SOC MEM
메모리 노드 Memory (storage) node MN CIS
메모리 리페어 Memory repair TST
메모리 맵 I/O Memory-mapped I/O MMIO SOC
메모리 바운드 Memory-bound MEM
메모리 반도체 Memory semiconductor IND
메모리 병합 Memory coalescing SOC
메모리 사이클 Memory cycle MEM
메모리 수준 병렬성 Memory-level parallelism MLP SOC
메모리 월 Memory wall MEM
메모리 일관성 모델 Memory consistency model SOC
메모리 컨트롤러 Memory controller MC SOC
메이슨 단방향 이득 Mason's unilateral gain U DEV
메타머 블랙 Metameric black CIS
메타메리즘 Metamerism DSP
메타안정 Metastability DIG
메타안정성 Metastability DIG DSN ANA
메타표면 Metasurface CIS
메타표면 컬러 라우터 Metasurface color router OPT
메탈 메시 Metal mesh electrode DSP
멤리스터 Memristor MEM
면 주입 균일 해 uniform-injection solution FIL
면방위 효과 orientation dependence FIL
면저항 Sheet resistance Rs DEV DIG FIL DOP CIS PWR
면적 곱 area product A_p PWR
면적 법칙 area law PLS
면적 스케일링 Area scaling DEV
면적비 법칙 area ratio law PLS
면취 Panel layout on glass MMG DSP
명령어 수준 병렬성 Instruction-level parallelism ILP SOC
명령어 집합 구조 Instruction Set Architecture ISA SOC IND
명순응·암순응 Light / dark adaptation DSP
명시야 · 암시야 Bright field / dark field BF · DF FAL
명시야 검사 Bright-field inspection BF YLD
명시야·암시야 검사 brightfield / darkfield inspection BF/DF CMP
명암비 Contrast ratio CR DSP
모놀리식 집적 monolithic integration PWR
모니터 웨이퍼 monitor wafer FIL
모델 기반 OPC Model-based OPC MBOPC DSN LIT
모델 위계 model hierarchy PLS
모듈 공정 Module assembly DSP
모듈형 멀티레벨 컨버터 modular multilevel converter MMC PWR
모서리 둥글어짐 Corner rounding LIT
모서리 얇아짐 corner oxide thinning FIL
모세관력 capillary force CMP
모션 미터링 Motion metering CIS
모션 블러 Motion blur DSP
모션–포톤 지연 Motion-to-photon latency MTP DSP
모스아이 구조 Moth-eye structure DSP
모스펫 Metal-oxide-semiconductor field-effect transistor MOSFET MEM
모아레 Moiré OPT DSP
모아레 · 위색 Moiré / false color CIS
모터 전류 종점 motor current (torque) endpoint CMP
목표 임피던스 Target impedance Z_target PKG
몬테카를로 Monte Carlo (binary collision) MC DOP
몬테카를로 궤적 모델 ballistic Monte Carlo FIL
몬테카를로 수송 Monte Carlo transport MC TCD
몬테카를로 시뮬레이션 Monte Carlo simulation MC DIG
몬테카를로 일정 분석 Monte Carlo schedule risk analysis INF
몬테카를로 충돌 Monte Carlo collision MCC PLS
몬테카를로 해석 Monte Carlo analysis MC ANA
몰드 언더필 Molded underfill MUF PKG
몰리브덴 molybdenum (Mo) Mo CMP
몸체 효과 Body effect γ DIG
무관 조건 Don't care X DIG
무라 Mura DSP
무릎 전압 knee voltage V_0 PWR
무방류 Zero Liquid Discharge ZLD INF
무부하 Q unloaded Q Q_u PLS
무어 기계 Moore machine DIG
무어의 법칙 Moore's law DEV SOC IND
무열화 설계 Athermalization CIS
무작위 결함 손실 Random defect loss YLD
무작위 도펀트 변동 Random dopant fluctuation RDF TCD
무작위 도펀트 요동 Random dopant fluctuation RDF DOP
무작위 수율 Random yield Y_rand YLD
무작위 순차 흡착 random sequential adsorption RSA FIL
무전해 치환 석출 electroless displacement deposition CMP
무정전 전원 장치 Uninterruptible Power Supply UPS INF
무차원화 Scaling (normalization) TCD
무충돌 가열 stochastic (collisionless) heating ν_stoc PLS
무충돌 시스 collisionless sheath PLS
무충돌 표피 collisionless (inertial) skin depth c/ω_pe PLS
무패턴 웨이퍼 검사 Unpatterned wafer inspection YLD
무편광판 구조 Polarizer-less (CoE) POL-less DSP
무해 결함 Non-killer defect YLD
문자열 모델 string model FIL
문턱 근처 컴퓨팅 Near-threshold computing NTC SOC
문턱 민감도 threshold sensitivity d ln K/d ln Tₑ PLS
문턱 손실 Threshold drop Vt drop DIG
문턱 아래 기울기 Subthreshold swing S SOC TCD
문턱 아래 누설 Subthreshold leakage SOC
문턱 압력 threshold pressure P_th CMP
문턱 에너지 threshold energy E_th ETC FIL PLS
문턱 이온화 질량 분석 threshold ionization mass spectrometry TIMS PLS
문턱 이하 기울기 Subthreshold swing SS DEV
문턱 이하 전류 Subthreshold current DEV
문턱 전압 Threshold voltage Vt DEV DIG SOC ANA PRC TCD MEM
문턱값 Threshold YLD
문턱전압 Threshold voltage V_th DSP
문턱전압 보상 Threshold voltage compensation DSP
물 수지 water balance INF
물 스트레스 baseline water stress INF
물리 기상 증착 Physical vapor deposition PVD PRC FIL
물리 스퍼터링 Physical sputtering ETC
물리 흡착 physisorption FIL
물리적 불량 분석 Physical failure analysis PFA FAL
물반점 watermark CMP
물질의 네 번째 상태 fourth state of matter PLS
뮐러 행렬 Mueller matrix OPT
미개구 콘택 Unopened (missing) contact YLD
미광 Stray light OPT
미니인바이런먼트 mini-environment INF
미니LED Mini-LED DSP
미러 가산기 Mirror adder DIG
미러 비 Mirror ratio ANA
미리 깔기·단계 증설 build ahead / staged INF
미리 디코딩 Predecoding DIG
미세 구 hollow polymeric microsphere CMP
미세상 분리 microphase separation CMP
미션 프로파일 mission profile PWR
미스율 Miss rate MEM
미시 로딩 micro-loading FIL
민감도 분석 Sensitivity analysis TCD TST
밀도 규칙 Density rule DSN CMP
밀도 기울기 모델 Density-gradient model DG TCD
밀도 반전 Population inversion DEV
밀도 축척 density scaling PLS
밀러 결합 계수 Miller coupling factor MCF DIG
밀러 보상 Miller compensation ANA
밀러 식 Miller formula PWR
밀러 유도 턴온 Miller-induced turn-on PWR
밀러 전하 Miller charge Q_gd PWR
밀러 지수 Miller indices (hkl) DEV
밀러 클램프 active Miller clamp PWR
밀러 평탄부 Miller plateau V_gp DEV
밀러 플래토 Miller plateau V_pl PWR
밀러 효과 Miller effect DIG ANA
밀리 기계 Mealy machine DIG
α 모드 alpha mode PLS
γ 모드 gamma mode PLS

ㅂ

바닥 피복 bottom coverage BC FIL
바닥판 샘플링 Bottom-plate sampling ANA
바디 계수 Body coefficient γ DEV
바디 다이오드 body diode PWR
바디 상호 컨덕턴스 Body transconductance gmb ANA
바디 효과 Body effect γ DEV DIG ANA
바르시니 식 Varshni equation PWR
바리가 성능 지수 Baliga's figure of merit BFOM DEV PWR
바비네 원리 Babinet's principle OPT
바이너리 마스크 Binary intensity mask BIM LIT
바이어스 독립성 independent bias control PLS
바이어스 램프 Bias ramping TCD
바이어스 스트레스 Bias temperature stress PBTS·NBIS DSP
바이어스 온도 불안정 Bias temperature instability BTI TCD
바이어스 온도 불안정성 Bias temperature instability BTI · NBTI FAL
바이폴라 열화 bipolar degradation PWR
바이폴라 접합 트랜지스터 Bipolar junction transistor BJT DEV
박리 delamination CMP FAL
박막 thin film FIL
박막 간섭 thin-film interference CMP OPT
박막 봉지 Thin-film encapsulation TFE DSP
박막 트랜지스터 Thin-film transistor TFT DSP
박스 방법 Box integration method TCD
박스 이산화 box discretization PWR
반 루스브룩 방정식계 Van Roosbroeck system TCD
반 시터르트–제르니케 정리 Van Cittert–Zernike theorem OPT
반 오버스트라에텐-데 만 모델 van Overstraeten–de Man model TCD
반가산기 Half adder HA DIG
반감 각도 Half-power angle θ½ CIS
반경 균일도 radial uniformity PLS
반데르발스 힘 van der Waals force CMP
반도체 클러스터 Semiconductor cluster IND
반도체 IP Semiconductor intellectual property IP IND
반복 결함 Repeater defect YLD
반복 무늬 Repeater pattern YLD
반복 풀이기 Iterative linear solver TCD
반복성 Repeatability TST
반사 계수 reflection coefficient Γ PLS
반사 방지 코팅 Anti-reflection coating AR DSP
반사 방지막 Bottom anti-reflective coating BARC PRC LIT CIS
반사 손실 return loss RL PLS
반사 위상 Phase on reflection OPT
반사 저항 reflected (transferred) resistance R_s PLS
반사 전력 스파이크 reflected power spike PLS
반사 중성자 reflected neutrals FIL
반사율 측정 Reflectance measurement DSP
반사파 reflected wave PLS PWR
반사판 공동 reflector cavity FIL
반사형 마스크 Reflective mask LIT
반사형 편광 필름 Reflective polarizer DBEF DSP
반송파 비 frequency modulation ratio m_f PWR
반송파 비교 carrier-based PWM PWR
반암시적 포아송 semi-implicit Poisson PLS
반응 속도 계수 rate coefficient K PLS
반응 제한 Reaction-limited ETC FIL
반응 지배 / 물질 전달 지배 Reaction / mass-transport limited PRC
반응 차수 reaction order n FIL
반응 표면 Response surface RSM TCD
반응 확률 reaction probability FIL
반응–확산 모형 Reaction–Diffusion model R–D DEV
반응도 Responsivity R CIS
반응물 고갈 reactant depletion FIL
반응물 이용률 precursor utilization FIL
반응성 부착 계수 reactive sticking coefficient s FIL
반응성 스퍼터 히스테리시스 reactive sputtering hysteresis FIL
반응성 스퍼터링 reactive sputtering FIL
반응성 이온 식각 Reactive ion etching RIE PRC ETC FAL
반전 Inversion DEV
반전 계수 Inversion coefficient IC ANA
반전 구동 Polarity inversion DSP
반전 증폭기 Inverting amplifier ANA
반지름 프로파일 Radial profile YLD
반쪽 반응 half-reaction FIL
반쪽 회로 Half circuit ANA
반치폭 Full width at half maximum FWHM DSP
반품 분석 Return material authorization RMA FAL
받개 Acceptor DOP
발광 Optical emission ETC
발광 다이오드 Light-emitting diode LED DEV
발광 분광 Optical emission spectroscopy OES ETC PLS
발광 스펙트럼 분석 Spectral emission analysis FAL
발광 효율 Luminous efficacy of radiation LER CIS
발광층 Emission layer EML DSP
발진 Oscillation ANA
발행 폭 Issue width SOC
방사율 emissivity ε FIL CIS
방위각 유도 전기장 azimuthal induced electric field E_θ PLS
방전 개시 breakdown PLS
방진복 cleanroom garment, bunny suit INF
방출 시정수 emission time constant τ_e PWR
방해 글로 obstructed glow PLS
방호 계층 분석 Layer of Protection Analysis LOPA INF
배럴 반응기 Barrel reactor ETC
배럴 시프터 Barrel shifter DIG
배리어 Barrier (liner) Ta/TaN FAL
배리어 / 씨드 Barrier / seed Ta/TaN PRC
배면 발광 Bottom emission BE DSP
배스터브 곡선 Bathtub curve MEM
배열 곱셈기 Array multiplier DIG
배율 색수차 Lateral color LC OPT CIS
배율 오차 Magnification (run-out) error CIS
배증 온도 Doubling temperature CIS
배치 습식 벤치 batch wet bench CMP
배치·배선 Place and Route P&R SOC
배향막 Alignment layer PI DSP
백그라인딩 Backgrinding BG PKG
백라이트 스트로빙 Backlight strobing DSP
백라이트 유닛 Backlight unit BLU DSP
백만 개당 불량 수 Defective parts per million DPPM MEM
백색 LED Phosphor-converted white LED pc-LED DSP
백색 OLED White OLED + color filter WOLED DSP
백색점 White point DSP
백엔드 설계 Back-end (physical) design DSN
백프레셔 Backpressure SOC
백플레인 Backplane DSP
밴드 간 터널링 Band-to-band tunneling BTBT DEV TCD
밴드 오프셋 Band offset ΔEc, ΔEv DEV
밴드갭 Band gap Eg DEV TCD CIS
밴드갭 · 차단 파장 Bandgap / cutoff wavelength E_g, λ_c OPT
밴드갭 기준 전압 Bandgap reference BGR ANA
밴드갭 좁아짐 Band-gap narrowing BGN TCD
밴드갭 축소 Band-gap narrowing BGN DEV
밴딩 Banding / contouring DSP
밸브 매니폴드 박스 Valve Manifold Box VMB INF
뱅크 Bank SOC MEM
뱅크 그룹 Bank group BG MEM
버그 주입 Fault injection DSN
버드배스 광학 Birdbath optics DSP
버블 밀기 Bubble pushing DIG
버블러 bubbler FIL
버스트 길이 Burst length BL MEM
버즈 빅 Bird's beak PRC
버터플라이 곡선 Butterfly curve MEM
버퍼 체인 Tapered buffer chain DIG
벅 변환기 Buck converter SOC PWR
벅 컨버터 buck converter PWR
벅-부스트 컨버터 buck-boost converter PWR
번인 Burn-in BI DEV CMP FAL PKG TST MEM DSP
벌집 커패시터 Honeycomb capacitor array LIT
벌크 가스 bulk gas INF
범용 게이트 Universal gate DIG
범용품 Commodity MEM
범위 균일도 range uniformity FIL
범핑 Wafer bumping PKG
베르–람베르트 법칙 Beer–Lambert law OPT
베르그 모델 Berg model FIL
베르누이 함수 Bernoulli function B(x) TCD
베벨 Bevel YLD PWR
베벨 세정 bevel clean CMP
베어링 전류 bearing current PWR
베이스 다이 Base (logic) die MEM IND
베이스 수송 계수 Base transport factor α_T DEV
베이스 압력 base pressure FIL
베이스 통과 시간 Base transit time τ_B DEV
베이스라인 Baseline YLD
베이어 · 쿼드 베이어 Bayer / Quad Bayer OPT
베이어 패턴 Bayer pattern RGGB SOC CIS
베이퍼 챔버 Vapor chamber SOC
베일링 글레어 Veiling glare VGI OPT CIS
벡터 퍼텐셜 vector potential A_θ PLS
벤대니얼–듀크 경계 조건 BenDaniel–Duke boundary condition DEV
벤조트리아졸 benzotriazole BTA CMP
벽 손실 주파수 wall loss frequency k_w PLS
벽 재결합 계수 wall recombination coefficient γ PLS
벽 탈착 꼬리 wall desorption tail FIL
변압기 모델 transformer model PLS
변위 손상 Displacement damage DD CIS
변조 대비 Demodulation contrast CIS
변조 도핑 Modulation doping DEV
변조 전달 함수 Modulation transfer function MTF OPT CIS
변조 지수 modulation index M PWR
변형 실리콘 Strained silicon DEV
변환 이득 Conversion gain CG CIS
병렬 다이 구동 paralleled die driving PWR
병렬 다이 전류 분배 current sharing of paralleled dies PWR
병렬 접두사 덧셈기 Parallel prefix adder DIG
보드 레벨 신뢰성 Board level reliability BLR PKG
보드 선도 Bode plot ANA
보로노이 셀 Voronoi cell TCD
보산켓 식 Bosanquet relation FIL
보상 Compensation DEV DOP
보성 곡선 Bossung curve LIT
보쉬 공정 Bosch process DRIE PRC PKG
보썽 곡선 Bossung curve PRC
보안 모니터 호출 Secure Monitor Call SMC SOC
보안 부팅 Secure boot SOC
보옴 기준 Bohm criterion PLS
보옴 속도 Bohm velocity u_B PLS
보옴 확산 Bohm diffusion D_B PLS
보옴-그로스 분산 Bohm–Gross dispersion PLS
보이드 void FIL FAL
보이드와 피트 Void / pit YLD
보이스 코일 모터 Voice coil motor VCM CIS
보잉 Bowing PRC ETC
보정 Calibration TCD
보정 가능 성분 Correctable LIT
보조금 경쟁 Subsidy race IND
보호 다이오드 protection diode PLS
보호막 Passivation FAL
보호층 Protective cap FAL
복굴절 Birefringence Δn OPT DSP
복사 재결합 Radiative recombination B DEV TCD
복사 조도 Irradiance CIS
복사 휘도 Radiance W/sr·m² DSP
복소 굴절률 Complex refractive index ñ = n + iκ OPT
복소 유전율 complex plasma permittivity ε_p PLS
복합 게이트 Complex gate DIG
본드 라인 두께 Bond line thickness BLT PKG
본드 와이어 heavy wire bond PWR
본페로니 보정 Bonferroni correction YLD
볼 본드 Ball bond (first bond) PKG
볼 어태치 Solder ball attach PKG
볼 전단 시험 Ball shear test PKG
볼룸 ballroom INF
볼륨 진단 Volume diagnosis FAL
볼머-베버 성장 Volmer–Weber growth VW FIL
볼츠만 관계 Boltzmann relation PLS
볼츠만 근사 Boltzmann approximation DEV TCD
볼츠만 방정식 Boltzmann equation PLS
볼츠만 수송 방정식 Boltzmann transport equation BTE TCD
볼츠만 한계 Boltzmann tyranny 60 mV/dec DEV
볼트-초 균형 volt-second balance PWR
봄 기준 Bohm criterion ETC
봉쇄 조치 Containment action FAL
부 글로 negative glow PLS
부가가치 Value added IND
부동태·면역·부식 영역 passivation / immunity / corrosion regions CMP
부문턱 기울기 Subthreshold swing SS DIG PWR
부문턱 전류 Subthreshold current DIG
부밴드 Subband DEV
부분 간섭성 Partial coherence σ LIT
부분 결맞음 Partial coherence σ PRC
부분 방전 partial discharge PD PWR
부분 방전 개시 전압 partial discharge inception voltage PDIV PWR
부분 샷 Partial shot YLD
부분 윤활 mixed (partial) lubrication CMP
부분 인덕턴스 partial inductance PWR
부분 ZVS partial ZVS PWR
부분곱 Partial product PP DIG
부스 부호화 Booth encoding DIG
부스트 컨버터 boost converter PWR
부식 방지제 corrosion inhibitor CMP
부식 전류 corrosion current density i_corr CMP
부식 피트 corrosion pit CMP
부유 전위 Floating potential V_f ETC PLS
부정합 Mismatch ANA
부정합 전위 Misfit dislocation DEV
부착 계수 Sticking coefficient s PRC FIL
부채널 Side channel SOC
부트 ROM Boot ROM SOC
부트스트랩 bootstrap supply PWR
부트스트랩 과충전 bootstrap overcharge PWR
부트스트랩 스위치 Bootstrapped switch ANA
부하 과도 응답 Load transient response ANA
부하 커패시터 load capacitor C_load PLS
부하선 Load line ANA
부하선 해석 Load-line analysis DIG
부하손 load loss (copper loss) P_k INF
부호 규약 Sign convention OPT
분광 감도 Spectral sensitivity CIS
분광 반사율 spectral reflectometry SR FIL
분광 복사계 Spectroradiometer DSP
분광 분포 Spectral power distribution SPD CIS
분광 크로스토크 · CCM Spectral crosstalk / color correction matrix CCM OPT
분극 전하 Polarization charge σ_pol DEV PWR
분기 노력 Branching effort b DIG
분기 발산 Branch divergence SOC
분기 예측 Branch prediction SOC
분리 수집 segregated collection INF
분산 Dispersion OPT
분산 RC 선 Distributed RC line DIG
분석 성공률 FA success rate FAL
분석 소요 시간 Turnaround time TAT FAL
분석 흐름 FA flow FAL
분압 피드백 제어 partial-pressure feedback control FIL
분업 구조 Disaggregation IND
분자 오염 Airborne Molecular Contamination AMC CMP INF
분자 유동 molecular flow FIL
분주기 Frequency divider ÷N ANA
분포 모멘트 Distribution moments γ, β TCD
분할 Fracturing DSN
분할 노출 Chopped exposure CIS
분할 로트 Split lot YLD
분할 픽셀 Split pixel CIS
분할표 Contingency table (2×2) YLD
분해·제거 효율 Destruction and Removal Efficiency DRE INF
분해능 Mass resolution m/Δm DOP
불 함수 Boolean function DIG
불균일 핵생성 heterogeneous nucleation FIL
불량 메커니즘 Failure mechanism FAL
불량 모드 Failure mode FAL
불량 분석 Failure analysis FA FAL
불량 재현 Failure verification FAL
불량 회복 Failure recovery FAL
불법 상태 Illegal state DIG
불산 / 완충 불산 HF / Buffered oxide etch BOE ETC
불연속 전도 모드 discontinuous conduction mode DCM PWR
불연속 PWM discontinuous PWM DPWM PWR
불완전 이온화 Incomplete ionization TCD
불화칼슘 침전 CaF₂ precipitation INF
불화탄소 고분자 Fluorocarbon polymer CFx ETC
붕소 고갈 boron depletion FIL
붙을 확률 Sticking coefficient s ETC
브래그 미러 Bragg mirror (DBR) DBR OPT
브래그 조건 Bragg condition LIT
브러시 길들이기 brush break-in CMP
브러시 로딩 brush loading CMP
브러시 압입 brush compression CMP
브레이징 디스크 brazed disk CMP
브로카우 셀 Brokaw cell ANA
브루스터 각 Brewster's angle θ_B OPT
브리지 Bridge YLD
브리지 고장 Bridging fault FAL
브리지 폴트 Bridging fault TST
브리지리스 PFC bridgeless PFC PWR
브리징 Bridging (microlens merging) CIS
브릴루앙 영역 Brillouin zone BZ DEV
블랙 레벨 보정 Black level correction BLC CIS
블랙 매트릭스 Black matrix BM DSP
블랙 선 Black sun / eclipse CIS
블랙 식 Black's equation DSN
블랙의 식 Black's equation FAL
블랭킷 웨이퍼 blanket wafer CMP
블랭킹 Blanking interval HBlank·VBlank DSP
블랭킹 시간 blanking time PWR
블레이드 다이싱 Blade dicing PKG
블레이크 문턱 Blake threshold CMP
블레흐 길이 Blech length FAL
블렌딩 blending INF
블로다운 blowdown INF
블로킹 대입 Blocking assignment = DIG
블로킹 커패시터 blocking capacitor PLS
블로흐 정리 Bloch theorem DEV
블로흐 주기 경계 Bloch periodic boundary CIS
블록 Block MEM
블록 매칭 Block matching CIS
블록 생성·전파 Group generate/propagate G_{i:j}, P_{i:j} DIG
블루 글라스 Blue Glass (Absorptive IR Filter) CIS
비교기 Comparator ANA TST
비구면 렌즈 Aspheric lens OPT
비국소 평균 Non-local means NLM CIS
비국소 EEDF nonlocal EEDF PLS
비굴절 specific refraction FIL
비균일 보정 Non-uniformity correction NUC CIS
비기본 배선 규칙 Non-Default Rule NDR DSN
비네팅 Vignetting OPT
비닝 Binning OPT CIS
비대칭 게이트 Skewed gate DIG
비대칭 방전 asymmetric discharge PLS
비동기 인가·동기 해제 리셋 Asynchronous assert, synchronous deassert SOC
비동기 FIFO Asynchronous FIFO DIG SOC
비모호 거리 Unambiguous Range CIS
비반전 증폭기 Non-inverting amplifier ANA
비상 정지 Emergency Off EMO INF
비상발전기 emergency generator INF
비선형 지연 모델 Non-Linear Delay Model NLDM DIG
비순차 실행 Out-of-order execution OoO SOC
비아 Via DIG FAL
비아 노출 Via reveal PKG
비아 퍼스트 / 미들 / 라스트 Via-first / via-middle / via-last PKG
비온저항 specific on-resistance R_on,sp PWR
비우세 극점 Non-dominant pole ANA
비율 논리 Ratioed logic DIG
비음수 최소제곱 Non-Negative Least Squares NNLS CIS
비저항 Resistivity ρ DEV PRC CMP INF
비점수차 Astigmatism OPT
비정규 수 Subnormal number DIG
비정질 손상층 Amorphous damage layer FAL
비정질 실리콘 amorphous silicon a-Si FIL DSP
비정질 탄소 하드마스크 amorphous carbon hardmask ACL FIL
비정질 탄소막 Amorphous carbon layer ACL ETC
비정질화 Amorphization DOP TCD
비정질화 주입 Pre-amorphization implant PAI PRC
비준정적 효과 Non-quasi-static effect NQS DEV
비중첩 클록 Non-overlapping clocks ANA
비축 조명 Off-axis illumination OAI LIT
비클램프 유도성 스위칭 unclamped inductive switching UIS PWR
비탄성 평균 자유 행로 Inelastic mean free path λ FAL
비트 그로스 Bit growth MEM
비트 성장 Bit growth IND
비트 심도 Bit depth bit DSP
비트 오류율 Bit error rate BER CIS
비트당 에너지 Energy per bit pJ/bit MEM
비트당 원가 Cost per bit MEM
비트라인 Bitline BL DIG MEM
비트맵 Bitmap FAL
비파괴 우선 원칙 Non-destructive first FAL
비펀치스루 non-punch-through NPT PWR
비펀치스루 IGBT non-punch-through IGBT NPT PWR
비프레스턴 거동 non-Prestonian behavior CMP
비휘발성 Non-volatile MEM
빈 Bin YLD
빈 맵 Bin map YLD FAL TST
빌드업 기판 Build-up substrate PKG
β비 Beta ratio Wp/Wn DIG
ΔΣ 변조기 Delta-sigma modulator ΔΣ ANA

ㅅ

사산화루테늄 ruthenium tetroxide RuO₄ CMP
사양 Specification spec ANA
사용 가능 시간 pot life CMP
사용 지점 블렌딩 Point-Of-Use (POU) blending CMP
사용처 Point of Use POU INF
사이리스터 thyristor SCR PWR
사이클 타임 Cycle time CT YLD IND INF
사이클당 성장 Growth per cycle GPC PRC FIL
사이클로트론 주파수 cyclotron frequency ω_c PLS
사이클릭 ADC Cyclic (algorithmic) ADC CIS
사인오프 Signoff SOC
사인파 PWM sinusoidal pulse-width modulation SPWM PWR
사입사 조명 Off-axis illumination OAI PRC
사전 비정질화 Pre-amorphization implant PAI DOP
사중극 조명 Quadrupole (quasar / C-quad) illumination LIT
사중극자 질량 분석기 quadrupole mass spectrometer QMS PLS
사하 식 Saha equation PLS
산 확산 Acid diffusion LIT
산란 Scattering DEV OPT
산란 계측 Optical critical dimension OCD PRC LIT
산란 행렬 Scattering matrix S-matrix OPT
산성 배기 acid exhaust INF
산소 결핍 oxygen deficiency INF
산술 강도 Arithmetic intensity MEM
산술 논리 장치 Arithmetic logic unit ALU DIG
산탄 잡음 Shot noise DEV ANA LIT
산화 적층 결함 oxidation-induced stacking fault OSF FIL
산화 증강 확산 oxidation-enhanced diffusion OED FIL
산화 증속 확산 Oxidation-enhanced diffusion OED PRC
산화갈륨 beta gallium oxide β-Ga₂O₃ PWR
산화막 간섭색 oxide interference color FIL
산화막 용량 Oxide capacitance Cox DEV
산화막 전계 oxide electric field Eox PWR
산화막 점성 흐름 viscous flow of oxide FIL
산화막 커패시턴스 Gate-oxide capacitance Cox ANA
산화막 포획 전하 oxide trapped charge Qot FIL
산화물 TFT Oxide TFT IGZO DSP
산화제 oxidizer CMP
살리사이드 Self-aligned silicide NiSi PRC
삼각 맞바꿈 Quality–yield–cost trade-off TST
삼각 우물 Triangular quantum well DEV
삼각형 전계 분포 triangular field profile PWR
삼자극값 Tristimulus values XYZ DSP
삼중점 triple point PWR
삼층 구조 Trilayer stack LIT
삽입 반응 insertion reaction PLS
상 대비 Image contrast LIT
상 줄이기 phase shedding PWR
상각 Amortization TST
상관 다중 샘플링 Correlated multiple sampling CMS CIS
상관 색온도 Correlated color temperature CCT DSP
상관 이중 샘플링 Correlated double sampling CDS CIS
상대 속도 relative velocity v_rel CMP
상대 조도 Relative illumination RI OPT CIS
상동 온도 homologous temperature PWR
상면 만곡 Field Curvature CIS
상면 만곡 · 페츠발 합 Field curvature / Petzval sum OPT
상반부·하반부 Top half / bottom half SOC
상변화 메모리 Phase-change memory PCM MEM
상세 배선 Detailed routing DSN
상수 전파 Constant propagation DIG
상승·하강 시간 Rise/fall time tr, tf DIG
상시 닫힘 밸브 normally closed valve NC INF
상압 CVD Atmospheric Pressure CVD APCVD FIL
상태 감시 condition monitoring PWR
상태 레지스터 State register DIG
상태 밀도 Density of states DOS DEV TCD
상태 유지 플립플롭 Retention flip-flop DIG
상태 인코딩 State encoding DIG
상태도 State diagram DIG
상호 변조 intermodulation IMD PLS
상호 정전용량 Mutual capacitance DSP
상호 컨덕턴스 Transconductance gm ANA TCD
상호작용 부피 Interaction volume FAL
새부리 bird's beak FIL TCD
색 노이즈 Chroma noise CIS
색 보정 행렬 Color correction matrix CCM SOC CIS
색 분해 Coloring (layout decomposition) LIT
색 순도 Color purity DSP
색 쉐이딩 Color shading OPT CIS
색도 다이어그램 Chromaticity diagram CIS
색도 좌표 Chromaticity coordinates xy DSP
색역 Color gamut CIS DSP
색역 커버리지 Gamut coverage DSP
색온도 Correlated color temperature CCT CIS
색지움 렌즈 Achromatic doublet OPT
색차 Color difference ΔE DSP
색채계 Colorimeter DSP
샘플-앤-홀드 Sample-and-hold S/H ANA
샘플링 전달 함수 Sampling transfer function CIS
생물막 biofilm INF
생산 관리 시스템 Manufacturing Execution System MES INF
생성 Generation G DEV DIG
생성 누설 전류 generation leakage current J_gen PWR
생성 수명 generation lifetime τ_g PWR
생성 암전류 Generation dark current CIS
생성 전류 generation current PWR
샤워헤드 showerhead FIL YLD
샤페터-거멜 이산화 Scharfetter–Gummel scheme SG PLS TCD
샤페터–거멜 이산화 Scharfetter–Gummel discretization SG DEV
샷 Shot / exposure field YLD
샷 노이즈 Shot noise CIS
샷 안 자리 Intra-field position YLD
샷 접기 Shot folding / field stacking YLD
섀도 모아레 Shadow moiré PKG
섀도 효과 Shadow effect DSP
섀도잉 Shadowing DOP
서멀 인터페이스 재료 thermal interface material TIM PWR
서브모듈 submodule SM PWR
서브문턱 기울기 Subthreshold swing S DSN DSP
서브스레숄드 스윙 Subthreshold swing SS MEM
서브어레이 / 매트 Subarray / Mat MEM
서브채널 Sub-channel MEM
서브팹 sub-fab INF
서브픽셀 Subpixel DSP
서브픽셀 렌더링 Subpixel rendering SPR DSP
서비스 품질 Quality of Service QoS SOC
서지 전류 surge current I_FSM PWR
선 가장자리 거칠기 Line edge roughness LER PRC LIT YLD TCD
선 끝 줄어듦 Line-end shortening LES LIT
선 끝 후퇴 Line-end shortening DSN
선 확산 함수 Line spread function LSF CIS
선간 전압 line-to-line voltage PWR
선단 공정 Leading-edge process IND
선택도 selectivity S FIL
선택비 Selectivity S PRC LIT ETC PLS CMP FAL
선택적 에피 성장 selective epitaxial growth SEG FIL
선편광판 Linear polarizer POL DSP
선폭 / 간격 Line / Space L/S PKG
선폭 거칠기 Line-width roughness LWR LIT
선행 0 개수 Leading zero count LZC DIG
선형 되먹임 시프트 레지스터 Linear feedback shift register LFSR DIG
선형 레귤레이터 linear regulator LDO PWR
선형 모드 linear mode operation PWR
선형 속도 상수 linear rate constant B/A FIL
선형 영역 Linear (triode) region DEV DIG ANA FIL
선형 편광도 / 편광각 Degree / angle of linear polarization DoLP / AoLP CIS
선형 풀웰 Linear full well capacity CIS
선형성 오차 Linearity error LE CIS
선호 방향 Preferred direction DSN
선확산 / 드라이브인 Predeposition / drive-in PRC
설계 규칙 Design rule DRM DSN
설계 규칙 검사 Design rule check DRC IND
설계 절충 Design trade-off PKG
설계 흐름 Design flow DSN
설계-기술 공동 최적화 Design-technology co-optimization DTCO TCD
설계–공정 공동 최적화 Design-technology co-optimization DTCO DEV
설비 투자비 capital expenditure CAPEX INF
설비투자 Capital expenditure capex IND
섬광 온도 flash temperature CMP
섬아연광 구조 Zincblende structure DEV
성능 밀도 Performance density PD IND
성능 지수 figure of merit FOM PWR
성능 지수 (R·Q) figure of merit FOM PWR
성숙 공정 Mature process IND
성적계수 Coefficient of Performance COP INF
세 점 무늬 Pin marks YLD
세리아 ceria (CeO₂) CeO₂ CMP
세리프 Serif DSN LIT
세묘노프 도표 Semenov diagram CMP
센서 메타메리즘 Observer (camera) metamerism CIS
센서 위 반사 방지 스택 Backside AR stack on Si OPT
센스 앰프 Sense amplifier SA DIG MEM
셀 간 간섭 Cell-to-cell interference MEM
셀 대 셀 비교 Cell-to-cell comparison YLD
셀 비율 Cell ratio β DIG MEM
셀 업사이징 Gate upsizing DSN
셀 인식 폴트 Cell-aware fault CA TST
셀 특성화 Cell characterization DSN
셀 페클레 수 cell Peclet number a PLS
셀 피치 cell pitch PWR
셀마이어 식 Sellmeier equation FIL OPT
셋업 시간 Setup time DSN
셔무 플롯 Shmoo plot TST
셔터 지연 Shooting time lag CIS
셰이더 Shader SOC
셸 퍼스트 shell-first INF
소결 은 Sintered silver PKG
소광 계수 Extinction coefficient κ OPT
소광비 Extinction ratio ER OPT
소광제 Quencher LIT
소멸 Kill K DIG
소멸파 Evanescent wave OPT
소부장 Materials, parts & equipment IND
소수 캐리어 수명 Minority carrier lifetime τ DEV CMP
소수 캐리어 주입 Minority carrier injection DEV
소스 드라이버 Source driver DSP
소스 디제너레이션 Source degeneration ANA
소스 전력과 바이어스 전력 Source power / bias power ETC
소스 팔로워 Source follower (common drain) SF ANA CIS
소스/드레인 확장부 Source/drain extension SDE TCD
소신호 등가 회로 Small-signal equivalent circuit DEV
소신호 모델 Small-signal model ANA
소신호 AC 해석 Small-signal AC analysis TCD
소용돌이 Swirl YLD
소유 비용 cost of ownership CoO FIL PLS
소프트 결함 위치 추적 Soft defect localization SDL FAL
소프트 계수 softness factor S PWR
소프트 베이크 Post-apply bake PAB LIT
소프트 빈 Soft bin TST
소프트 스위칭 soft switching PWR
소프트 에러 Soft error (Single-Event Upset) SEU DIG MEM
소프트 턴오프 soft turn-off PWR
소프트 파괴 / 하드 파괴 Soft / hard breakdown SBD/HBD DEV
속도 과도 Velocity overshoot TCD
속도 과도 현상 Velocity overshoot DEV
속도 등급 Speed binning TST
속도 약화 velocity weakening CMP
속도 포화 Velocity saturation v_sat DEV DIG TCD
손상 완화 조건 지도 damage-mitigation map PLS
손상층 Subsurface damage layer PKG
손익 분기 배수 break-even cost ratio PWR
손익분기 시간 Break-even time SOC
손익분기점 Break-even point IND
솔더 레지스트 Solder resist (solder mask) SR PKG
솔더 브리지 Solder bridging PKG
솔더 피로 Solder joint fatigue PKG
솔리드 스테이트 드라이브 Solid-state drive SSD MEM
쇼어 경도 Shore hardness (D/A) CMP
쇼클리 방정식 Shockley diode equation DEV
쇼클리–퀘이서 한계 Shockley–Queisser limit SQ DEV
쇼클리형 적층 결함 Shockley-type stacking fault SSF PWR
쇼트키 다이오드 Schottky diode SBD DEV PWR
쇼트키 장벽 Schottky barrier φB DEV
쇼트키 접촉 Schottky contact TCD
쇼트키 조건 Schottky condition PLS
쇼트키–모트 규칙 Schottky–Mott rule DEV
수렴 기준 Convergence criterion TCD
수렴–조절 불일치 Vergence–accommodation conflict VAC DSP
수명 Lifetime LT95·LT50 DSP
수명 제어 lifetime control PWR
수명 종료 기준 end-of-life criterion EOL PWR
수밀도 number density n FIL
수분 민감도 등급 Moisture Sensitivity Level MSL PKG
수분 투과율 Water vapor transmission rate WVTR DSP
수소 억제 hydrogen inhibition FIL
수소 종단 hydrogen termination CMP
수소 패시베이션 Hydrogen passivation CIS
수소 함량 hydrogen content [H] FIL
수송 제한 mass-transport-limited regime FIL
수용각 Acceptance angle OPT
수율 Yield Y SOC ANA PRC YLD FAL TST MEM CIS DSP IND
수율 램프 Yield ramp YLD
수율 모델 Yield model IND
수율 학습 곡선 Yield learning curve YLD
수은 카드뮴 텔루라이드 Mercury cadmium telluride HgCdTe CIS
수정 발진기 Crystal oscillator XO SOC
수정 진동자 두께 측정기 quartz crystal microbalance QCM FIL
수직 계열화 Vertical integration IND
수직 동기 Vertical sync VSync SOC
수직 입사 반사율 Normal-incidence reflectance R₀ OPT
수직 채널 트랜지스터 Vertical channel transistor VCT MEM
수직 GaN vertical GaN PWR
수집 확률 Collection probability φ(z) CIS
수집 효율 collection efficiency FIL
수차 Aberration LIT
수출 통제 Export controls IND
수치 분산 Numerical dispersion OPT
수화층 모델 hydrated layer model CMP
순간 시야 Instantaneous Field of View IFOV CIS
순간 전압 강하 voltage sag / dip sag INF
순도 Purity YLD
순도 등급 purity grade (nN) INF
순방향 전압 forward voltage V_F PWR
순방향 활성 영역 Forward active mode DEV
순응 전압 Compliance voltage ANA
순차 광선 추적 Sequential Ray Tracing CIS
순차 논리 Sequential logic DSN
순차 일관성 Sequential consistency SC SOC
순차 회로 Sequential circuit DIG
순현재가치 net present value NPV INF
순환 루프 recirculation loop INF
쉬스 sheath FIL
슈뢰딩거-포아송 Schrödinger–Poisson SP TCD
슈무 플롯 Shmoo plot FAL
슈타인메츠 식 Steinmetz equation PWR
슈퍼사이클 Supercycle IND
슈퍼스칼라 Superscalar SOC
슈퍼정션 Superjunction SJ DEV PWR
슈퍼필 superfill (bottom-up fill) CMP PKG
슛스루 shoot-through PWR
스냅 회복 snappy recovery PWR
스냅백 Snapback DEV PWR
스넬 법칙 Snell's law OPT
스누프 필터 Snoop filter SOC
스누핑 Snooping SOC
스닉 경로 Sneak path MEM
스로틀 밸브 throttle valve FIL PLS
스미스 차트 Smith chart PLS
스위칭 궤적 switching trajectory PWR
스위칭 문턱 Switching threshold VM DEV DIG
스위칭 변환기 switching converter PWR
스위칭 손실 switching loss P_sw PWR
스위칭 임계 전압 Switching threshold VM DIG DSN
스위칭 주파수 switching frequency f_sw PWR
스윕 sweep, oscillation CMP
스윙 곡선 Swing curve PRC LIT
스지–기번스 근사 Sze–Gibbons approximation PWR
스캐너 Step-and-scan system PRC LIT
스캐터-개더 DMA Scatter-gather DMA SOC
스캔 압축 Scan compression TST
스캔 줄무늬 Scan striping YLD
스캔 진단 Scan diagnosis FAL TST
스캔 체인 Scan chain DIG FAL TST
스캔 테스트 시간 Scan test time TST
스캔 플립플롭 Scan flip-flop TST
스캘럽 Scallop PKG
스컴 Scum LIT
스케일 scale INF
스케일링 Image scaling DSP
스크라이브 라인 Scribe line YLD
스크라이브 레인 Scribe lane (dicing street) PKG
스크래치 Scratch YLD
스크럽 자국 Scrub mark TST
스크린 산화막 Screen oxide DOP
스크린도어 효과 Screen-door effect SDE DSP
스타인·오우마 밀도 모델 Stine–Ouma pattern density model CMP
스타트업 회로 Start-up circuit ANA
스택 맵 Stacked map YLD
스택 효과 Stack effect DIG
스탠드오프 Standoff height PKG
스탬프 전사 Elastomer stamp transfer DSP
스테퍼 Stepper LIT
스텔스 다이싱 Stealth dicing SD PKG
스텝 앤드 스캔 Step-and-scan LIT YLD
스텝 커버리지 step coverage SC FIL
스토니 식 Stoney equation FIL CMP PWR
스토리지 클래스 메모리 Storage-class memory SCM MEM
스토커 stocker INF
스토크스 관계 Stokes relations OPT
스토크스 법칙 Stokes' law INF
스토크스 파라미터 Stokes parameters S₀–S₃ OPT
스톨레토프 점 Stoletov point PLS
스톱 Stop (EV) EV OPT
스트란스키-크라스타노프 성장 Stranski–Krastanov growth SK FIL
스트레스 유발 보이드 Stress-induced voiding / stress migration SIV · SM FAL
스트렐 비 Strehl ratio S OPT CIS
스트로브 Strobe TST
스트리밍 멀티프로세서 Streaming Multiprocessor SM SOC
스트리벡 곡선 Stribeck curve CMP
스트링 방법 String method TCD
스트링 선택 트랜지스터 String select transistor SSL / GSL MEM
스티치 Stitch DSN
스티치 본드 Stitch bond (second bond) PKG
스티칭 Stitching LIT
스틱 다이어그램 Stick diagram DIG DSN
스틱-슬립 stick-slip CMP
스파이크 어닐 Spike anneal RTA PRC FIL DOP TCD
스파이크와 노치 Spike and notch DEV
스파이킹 spiking CMP
스팟 다이어그램 Spot diagram OPT
스퍼터 문턱 에너지 sputtering threshold energy E_th PLS
스퍼터 수율 sputter yield Y FIL PLS FAL
스퍼터링 Sputtering DSP
스페이서 Spacer PRC LIT FIL
스페이서층 Spacer layer DEV
스펙트럼 궤적 Spectral locus CIS
스펙트럼 라이브러리 spectral library fitting CMP
스폿 다이어그램 Spot Diagram CIS
스폿 빔 Spot beam DOP
스핀 건조 spin dry CMP
스핀 궤도 토크 Spin-orbit torque SOT MEM
스핀 온 글라스 Spin-On Glass SOG CMP
스핀 온 카본 Spin-on carbon SOC LIT
스핀 전달 토크 Spin-transfer torque STT MEM
슬랙 Slack DSN SOC
슬랜티드 엣지 SFR Slanted-edge SFR SFR, ISO 12233 OPT
슬러리 slurry PRC CMP INF
슬러리 공급 계통 Slurry Delivery System SDS CMP
슬러리 이용률 slurry utilization CMP
슬러리 체류 시간 slurry residence time CMP
슬로팅 slotting, cheesing CMP
슬롯 Slot YLD
슬롯 주기성 Slot periodicity YLD
슬롯붐 변수 Slotboom variables TCD
슬루 Slew (transition time) DSN
슬루율 Slew rate SR ANA CIS
슬릿 Slit LIT
슬릿 함수 Slit function CIS
습공기선도 psychrometric chart INF
습구 온도 wet-bulb temperature INF
습식 산화 wet oxidation FIL
습식 세정 wet clean PLS
습식 식각 Wet etching ETC FAL
습식 식각률 wet etch rate WER FIL
습식 식각률비 wet etch rate ratio WERR FIL
습식 화학 Wet chemicals IND
승자 독식 Winner-take-all IND
승화 건조 sublimation drying CMP
승화 성장 physical vapor transport PVT PWR
시각 노이즈 Visual noise CIS
시간 등가 출력 커패시턴스 time-related output capacitance C_o(tr) PWR
시간 분해 에미션 Time-resolved emission TRE · PICA FAL
시간 빌림 Time borrowing DIG
시간 상관 단일 광자 계수 Time-Correlated Single Photon Counting TCSPC CIS
시간 연마 timed polish CMP
시간 영역 반사 측정 Time domain reflectometry TDR FAL
시간 의존 전역 모델 time-dependent global model PLS
시간 의존 절연 파괴 time-dependent dielectric breakdown TDDB PWR
시간 적분 Time integration TCD
시간 지역성 Temporal locality SOC MEM
시간 지연 적분 Time delay and integration TDI CIS
시간 평균 밀도 time-averaged density ⟨nₑ⟩ PLS
시간가중평균 Time-Weighted Average TWA INF
시간당 처리량 Wafers Per Hour WPH CMP
시간적 결맞음 · 결맞음 길이 Temporal coherence / coherence length l_c OPT
시감 효율 함수 Luminous efficiency function V(λ) DSP
시그니처 별칭 Signature aliasing TST
시그마 클리핑 Sigma Clipping CIS
시너지 ALE synergy FIL
시드층 seed layer FIL CMP
시력 Visual acuity DSP
시료 수 Sample size FAL
시뮬레이티드 어닐링 Simulated annealing SA DSN
시상 Seeing CIS
시설 오버헤드 facility overhead INF
시스 Sheath PRC ETC PLS
시스 경계 밀도 sheath-edge density n_s PLS
시스 방정식 sheath equation PLS
시스 보정 인자 sheath correction factor ξ PLS
시스 진동 진폭 sheath oscillation amplitude s₀ PLS
시스 커패시턴스 sheath capacitance C_s PLS
시스 팽창 sheath expansion PLS
시스템 레벨 캐시 System level cache SLC SOC
시스템 레벨 테스트 System-level test SLT TST
시스템 반도체 System semiconductor (non-memory) IND
시스템 비용 system cost PWR
시스템 수준 ESD System-level ESD (IEC 61000-4-2) DEV
시스템 온 칩 System on Chip SoC SOC IND
시스템 이득 System gain K CIS
시스템 캐시 System level cache SLC SOC
시스템 MTF System MTF OPT
시스템적 오프셋 Systematic offset ANA
시스톨릭 배열 Systolic array SOC
시야 Field of view FOV YLD DSP
시야 스톱 Field stop OPT
시야각 view factor FIL DSP
시야각 색 변화 Color shift with angle Δu′v′ DSP
시정 조치 Corrective action YLD FAL
시정수 어림법 Open-circuit time constants OCTC ANA
시준기 collimator FIL
시즈 모델 Seeds yield model YLD
시즈닝 Chamber seasoning ETC PLS
시퀀스 검출기 Sequence detector DIG
시트르산 citric acid CMP
시프트 레지스터 Shift register DIG
시프트 전력 Shift power TST
시프트와 캡처 Shift and capture TST
시험 한계 Test limit TST
식각 Etch PRC ETC
식각 바이어스 Etch bias LIT
식각 보정 슈퍼사이클 deposition-etch supercycle FIL
식각 선택비 Etch selectivity MEM
식각 속도 Etch rate ER ETC
식각 장비 Etch tool IND
식각 정지막 etch stop layer CMP
식각 후 검사 After-etch inspection AEI ETC
식각/증착 비 etch-to-deposition ratio E/D FIL
신경망 처리 장치 Neural Processing Unit NPU SOC
신규 결함 Adder YLD
신뢰 사슬 Chain of trust SOC
신뢰성 블록 다이어그램 Reliability Block Diagram RBD INF
신뢰의 뿌리 Root of trust RoT SOC
신틸레이터 Scintillator CIS
신호 대 양자화 잡음비 Signal-to-quantization-noise ratio SQNR SOC
신호 대 잡음비 Signal-to-noise ratio SNR ANA OPT CIS
신호 사슬 Signal chain ANA
실리사이드 Silicide TiSi₂, NiSi DEV
실리사이드 블록 Silicide block (ballast) SAB DEV
실리콘 관통 전극 Through-silicon via TSV MEM CIS IND
실리콘 드리프트 검출기 Silicon drift detector SDD FAL
실리콘 브리지 Silicon bridge PKG
실리콘 사이클 Silicon cycle IND
실리콘 소모 silicon consumption FIL
실리콘 웨이퍼 Silicon wafer IND
실리콘 인터포저 Silicon interposer PKG
실리콘 젤 silicone gel PWR
실리콘 투과 Silicon infrared transparency FAL
실리콘 한계 silicon limit PWR
실리콘 함유 반사 방지막 Silicon-containing ARC SiARC LIT
실린더 커패시터 Cylinder capacitor MEM
실릴화 silylation (surface modification) CMP
실접촉 면적 real contact area A_r CMP
실제 광선 추적 Real ray tracing OPT
실험 계획법 Design of experiments DOE TCD
실효 길이 effective plasma size d_eff PLS
실효 면적 effective loss area A_eff PLS
심 seam FIL CMP
쌍극 조명 Dipole illumination LIT
쌍당 충돌 손실 에너지 collisional energy loss per electron-ion pair 𝓔_c PLS
쌍대성 Duality DIG
쌍안정 회로 Bistable circuit DIG
써멀 웨이브 Thermal wave (modulated reflectance) TW DOP
쓰기 마진 Write margin WM DIG
쓰기 명령 Write command WR MEM
쓰기 무효화 Write-invalidate SOC
쓰기 배치 Write batching SOC
쓰기 정책 Cache write policy MEM
쓰기 증폭 계수 Write amplification factor WAF MEM
ω² 스케일링 frequency-squared scaling n ∝ ω² PLS

ㅇ

아나모픽 광학계 Anamorphic optics LIT
아날로그 게인 Analog gain PGA CIS
아날로그 반도체 Analog semiconductor IND
아날로그 신호 Analog signal DIG
아날로그 프런트엔드 Analog front-end AFE ANA
아날로그-디지털 변환기 Analog-to-digital converter ADC CIS
아레니우스 그림 Arrhenius plot FIL CIS
아레니우스 모델 Arrhenius model PKG MEM PWR
아레니우스 식 Arrhenius equation CMP TST
아레니우스 확산 계수 Arrhenius diffusivity TCD
아베수 Abbe number V_d OPT
아벨 변환 Abel inversion PLS
아브라미 모델 Avrami (JMAK) coverage model FIL
아웃가싱 outgassing INF
아웃개싱 Outgassing DOP
아이 다이어그램 Eye diagram SOC TST MEM CIS
아이박스 Eyebox DSP
아인슈타인 관계 Einstein relation D/μ = kT/q DEV PLS TCD
아카드 마모식 Archard wear equation CMP
아크 arc PLS
아크 길이 연속법 Arc-length continuation TCD
아크 방전 arc discharge PLS DOP
아키텍처 탐색 Design space exploration DSE SOC
안전 동작 영역 Safe operating area SOA DEV
안정 저항 ballast resistor R PLS
안정 지수 thermal stability factor S PWR
안정성 비 stability ratio W CMP
안테나 비 Antenna ratio DOP
안테나 비율 Antenna ratio DSN
안테나 효과 Antenna effect DSN PLS
안테나비 antenna ratio AR PLS
안티글레어 Anti-glare AG DSP
알파 전력 법칙 Alpha-power law DIG SOC
알파 파워 법칙 Alpha-power law DSN
암계수율 Dark Count Rate DCR CIS
암달의 법칙 Amdahl's law SOC
암소시 Scotopic vision V′(λ) DSP
암시야 검사 Dark-field inspection DF YLD
암신호 불균일 Dark signal non-uniformity DSNU CIS
암전류 Dark current CIS
암호학적 해시 함수 Cryptographic hash function SOC
압력 보정 Pressure compensation DOP
압저항 계수 piezoresistance coefficient FIL
압전 분극 piezoelectric polarization P_pz PWR
압축 몰딩 Compression molding PKG
압축률 compressibility CMP
앙상블 에너지 Encircled / ensquared energy EE OPT
애벌랜치 항복 Avalanche breakdown TCD
애벌런치 견고성 avalanche ruggedness PWR
애벌런치 에너지 single-pulse avalanche energy E_AS PWR
애벌런치 포토다이오드 Avalanche photodiode APD DEV
애벌런치 항복 Avalanche breakdown DEV PWR
애벗–파이어스톤 곡선 Abbott–Firestone (bearing area) curve CMP
애싱 Ashing / stripping ETC PLS
애프터펄싱 Afterpulsing CIS
애플리케이션 프로세서 Application processor AP IND
액정 Liquid crystal LC DSP
액체 질소 liquid nitrogen LN₂ INF
액침 노광 Immersion lithography ArFi PRC LIT
액티노메트리 actinometry PLS
액티브 로드 Active load TST
액티브 매트릭스 Active matrix AM DSP
액티브 명령 Activate ACT MEM
액티브 얼라인 Active alignment AA CIS
액화가스 liquefied gas INF
앤더슨 규칙 Anderson's electron affinity rule DEV
앨리어싱 Aliasing OPT DSP
앰비폴라 확산 길이 ambipolar diffusion length L_a PWR
야코비 행렬 Jacobian matrix TCD
약결합 플라즈마 weakly coupled plasma PLS
약반전 Weak inversion (subthreshold) ANA
약반전 기울기 계수 Subthreshold slope factor n ANA
약액 교체 bath change CMP
약전리 플라즈마 weakly ionized plasma PLS
약한 반복 결함 Soft repeater YLD
양 바이어스 온도 불안정성 Positive Bias Temperature Instability PBTI DEV
양광주 positive column PLS
양극성 소자 bipolar device PWR
양극성 전기장 ambipolar electric field E_a PLS
양극성 확산 ambipolar diffusion PLS
양면 냉각 double-sided cooling DSC PWR
양성 레지스트 Positive-tone resist LIT
양자 구속 효과 Quantum confinement DSP
양자 우물 Quantum well QW DEV
양자 터널링 Quantum tunneling MEM
양자 효율 Quantum efficiency QE DEV OPT CIS
양자점 Quantum dot QD DSP
양자점 색변환 Quantum dot color conversion QDCC DSP
양자화 Quantization SOC
양자화 노이즈 Quantization noise CIS
양자화 매개변수 Quantization Parameter QP SOC
양자화 잡음 Quantization noise ANA
양품 다이당 원가 Cost per good die YLD
양품 비교 Golden unit comparison FAL
양품 칩 선별 Known good die / repair KGD DSP
얕은 트렌치 소자 분리 Shallow Trench Isolation STI CMP
어닐 Anneal DOP
어두운 VC와 밝은 VC Dark / bright voltage contrast DVC · BVC YLD
어서션 Assertion SVA DIG DSN
어큐턴스 Acutance CIS
어태치 보이드 Die attach void PKG
어프로치 approach INF
억셉터 Acceptor Na DEV
억제비 Suppression ratio SR CIS
억제제 inhibitor FIL
언더 디스플레이 카메라 Under-display camera UDC DSP
언더컷 Undercut PRC ETC PLS
언더컷 리프트오프 undercut lift-off CMP
언더플로 Underflow SOC
언더필 Capillary underfill CUF PKG
언샤프 마스크 Unsharp mask USM CIS
얼랑 B Erlang B formula INF
얼리 전압 Early voltage VA DEV
얼리 효과 Early effect DEV
엄밀 결합파 해석 Rigorous coupled-wave analysis RCWA OPT
업·다운 영역 up / down area CMP
엇갈림 입력 Input skew SOC
에너지 공간 흐름 energy-space flux G(ε) PLS
에너지 등가 출력 커패시턴스 energy-related output capacitance C_o(er) PWR
에너지 밴드 Energy band DEV TCD
에너지 분산 X선 분광 Energy dispersive X-ray spectroscopy EDS · EDX FAL
에너지 오염 Energy contamination DOP
에너지 완화 길이 energy relaxation length λ_ε PLS
에너지 이완 길이 energy relaxation length λ_ε PLS
에너지 이완 시간 Energy relaxation time τw TCD
에너지 인식 스케줄링 Energy-Aware Scheduling EAS SOC
에너지 저장 장치 Energy Storage System ESS INF
에너지 전달 비 energy transfer fraction δ PLS
에너지 최소점 Minimum energy point MEP SOC
에너지-지연 곱 Energy-delay product EDP DIG
에반스 다이어그램 Evans diagram CMP
에버스–몰 모형 Ebers–Moll model DEV
에어 매스 Air mass AM CIS
에어리 디스크 Airy disk OPT
에어리 식 Airy formula FIL CMP
에일리어싱 Aliasing ANA
에지 · 선 확산 함수 Edge / line spread function ESF, LSF OPT
에지 링 edge ring FIL
에지 종단 edge termination PWR
에지 트리거 Edge-triggered DIG
에지 확산 함수 Edge spread function ESF CIS
에지와 ELNES Ionization edge / energy-loss near-edge structure ELNES FAL
에치백 etch-back CMP TCD
에탈로닝 Etaloning / fringing CIS
에텐듀 Étendue G OPT
에피 웨이퍼 Epitaxial wafer CIS
에피택시 Epitaxy Epi PRC
엑시머 레이저 Excimer laser KrF / ArF LIT
엑시머 레이저 어닐링 Excimer laser annealing ELA DSP
엑시톤 Exciton DSP
엔드멤버 Endmember CIS
엔드캡 Poly endcap DSN
엔티티 리스트 Entity List IND
엘립소메트리 ellipsometry SE FIL
엘립소미터 Ellipsometer PRC
엘모어 지연 Elmore delay DIG DSN
엣지 배치 정확도 Edge placement accuracy EPA TST
엣지 함수 Edge function SOC
엣지형 백라이트 Edge-lit backlight DSP
엥겔마이어 식 Engelmaier model PWR
여기 excitation PLS
여분 행·열 Redundant rows/columns TST
여유 Slack DIG INF
역 리소그래피 Inverse lithography technology ILT LIT
역 RIE 지연 Inverse RIE lag ETC
역격자 Reciprocal lattice DEV
역도통 전압 reverse conduction voltage V_SD PWR
역도통 IGBT reverse-conducting IGBT RC-IGBT PWR
역률 power factor PF PWR INF
역률 보정 power factor correction PFC PWR
역마스크 에치백 reverse-mask etch-back CMP
역삼투 Reverse Osmosis RO INF
역설계 Inverse design CIS
역전달 커패시턴스 reverse transfer capacitance C_rss PWR
역테이퍼 Re-entrant (negative) taper ETC
역피라미드 Inverted pyramid texture CIS
역회복 Reverse recovery t_rr DEV PWR
역회복 시간 reverse recovery time t_rr PWR
역회복 에너지 reverse recovery energy E_rr PWR
역회복 전하 reverse recovery charge Q_rr PWR
연결 공사 tie-in INF
연관도 Associativity SOC
연마 패드 polishing pad CMP
연마 헤드 polishing head, carrier CMP
연마입자 abrasive CMP
연산 강도 Arithmetic intensity SOC
연산 증폭기 Operational amplifier op amp ANA
연속 방정식 Continuity equation DEV TCD
연속 전도 모드 continuous conduction mode CCM PWR
연속법 Continuation method TCD
연속성 테스트 Continuity / open-short test TST
연질 세그먼트 soft segment CMP
연화층 chemically softened (hydrated) layer CMP
열 계면 재료 Thermal Interface Material TIM PKG
열 레이저 자극 Thermal laser stimulation TLS FAL
열 방정식 Lattice heat equation TCD
열 사이클링 thermal cycling TC PWR
열 속도 Thermal velocity v_th DEV
열 스로틀링 Thermal throttling SOC
열 슬립 thermal slip FIL
열 시간 상수 thermal time constant τth PWR
열 예산 Thermal budget Dt PRC FIL DOP TCD CIS
열 용량 Thermal capacitance Cth SOC
열 응력 thermal stress FIL
열 인터리빙 Column interleaving DIG
열 저항 Thermal resistance Rth SOC
열 전압 Thermal voltage UT ANA TCD
열 퍼짐 heat spreading PWR
열 폭주 Thermal runaway SOC CMP CIS PWR
열 확산 거리 thermal diffusion length PWR
열 확산 길이 thermal diffusion length μ FIL FAL
열–전계 방출 Thermionic-field emission TFE DEV
열분해 thermal decomposition FIL
열산화 Thermal oxidation PRC FIL
열수지 heat balance CMP
열압착 본더 Thermo-compression bonder TC IND
열압착 본딩 Thermocompression bonding TCB PKG
열용량 heat capacity Cth PWR
열유속 heat flux q'' PWR
열잡음 Thermal noise DEV ANA
열저항 Thermal resistance θ CIS PWR
열적 ALE Thermal ALE ETC
열전도도 thermal conductivity k PWR
열전도율 thermal conductivity k PWR
열전압 Thermal voltage Vt = kT/q DEV
열전자 방출 Thermionic emission TE DEV TCD PWR
열초음파 본딩 Thermosonic bonding PKG
열팽창 계수 Coefficient of Thermal Expansion CTE PKG PWR INF
열팽창 불일치 thermal expansion mismatch PWR
열팽창 불일치 응력 thermal mismatch stress PWR
열팽창 접합 thermal-expansion closure CMP
열평형화 thermalization FIL
열폭주 Thermal runaway TST
열화 보상 Degradation compensation DSP
열활성 지연 형광 Thermally activated delayed fluorescence TADF DSP
염기성 AMC bases MB INF
염소 첨가 산화 chlorinated oxidation FIL
영 온도 계수점 zero temperature coefficient point ZTC PWR
영벡터 zero vector PWR
영상 기반 오버레이 Image-based overlay IBO LIT
영상 로그 기울기 Normalized image log-slope NILS LIT
영상력 장벽 저하 Image-force barrier lowering Δφ DEV PWR
영역 선택 증착 area-selective deposition ASD FIL
영의 이중 슬릿 Young's double slit OPT
영전류 스위칭 zero-current switching ZCS PWR
영전압 스위칭 zero-voltage switching ZVS PWR
영점 Zero ZP ANA CIS
영점 저항 Nulling resistor Rz ANA
영향 함수 influence function φ_j FIL
영향 행렬 influence matrix (function) CMP
옆 공핍 전압 lateral depletion voltage V_dep PWR
예방 정비 preventive maintenance PM PLS INF
예방 조치 Preventive action CAPA FAL
예비 셀 Spare cell DSN
예비 시스 presheath PLS
예약 스테이션 Reservation station (scheduler) SOC
예지 정비 predictive maintenance PdM INF
오경보 False alarm YLD
오믹 경계 조건 Ohmic boundary condition DEV
오믹 접촉 Ohmic contact DEV TCD
오버 프로비저닝 Over-provisioning OP MEM
오버드라이브 Overdrive OD TST DSP
오버드로 Overdraw SOC
오버레이 Overlay OVL PRC LIT CIS INF
오버버든 overburden CMP
오버샘플링 Oversampling OSR ANA
오버슈트 Overshoot ANA
오버폴리시 over-polish CMP
오버플로 Overflow V DIG
오버플로 린스 overflow rinse CMP
오버플로 플래그 Overflow flag V DIG
오버행 overhang FIL CMP
오버행 / 보이드 Overhang / void PRC
오보닉 임계 스위치 Ovonic threshold switch OTS MEM
오염 지연 Contamination delay tcd DIG
오일러 경로 Euler path DIG DSN
오제 재결합 Auger recombination C DEV TCD
오제 전자 분광 Auger electron spectroscopy AES FAL
오제 중성화 Auger neutralization PLS
오존수 ozonated DIW DIO₃ CMP
오지목 False accusation YLD
오프 누설 전류 Off-state leakage current I_off DSP
오프 전류 Off current (leakage) Ioff DIG
오프칩 통신 Off-chip communication SOC
오프컷 off-cut PWR
오픈 비트라인 Open bitline MEM
오픈 페이지 Open-page MEM
온 저항 On-resistance Ron ANA
온/오프 비 On/off current ratio DSP
온다이 터미네이션 On-die termination ODT MEM
온다이 ECC On-die ECC ODECC MEM
온도 경사 temperature ramp (zone tilt) FIL
온도 계수 Temperature coefficient TC ANA
온도 교차점 zero temperature coefficient point ZTC PWR
온도 리프트 lift INF
온도 민감 전기 변수 temperature-sensitive electrical parameter TSEP PWR
온도 민감도 temperature sensitivity of diffusion S_T FIL
온도 사이클 시험 Temperature Cycling TC PKG
온도 역전 Temperature inversion DIG
온보드 충전기 on-board charger OBC PWR
온셀 터치 On-cell touch Y-OCTA DSP
온저항 on-resistance R_DS(on) PWR
온저항 온도 계수 temperature coefficient of on-resistance PWR
온칩 마이크로렌즈 On-chip microlens OCL, ML OPT
온칩 인터커넥트 On-chip interconnect SOC
와이블 분포 Weibull distribution DEV FIL FAL TST CIS PWR
와이어 그리드 편광자 Wire-grid polarizer WGP OPT
와이어 들뜸 bond wire lift-off PWR
와이어 본딩 Wire bonding W/B PKG IND
와이어 스윕 Wire sweep PKG
와전류 센서 eddy current sensor CMP
와플 슬래브 waffle slab INF
완전 공간 무작위 Complete spatial randomness CSR YLD
완전 정합층 Perfectly matched layer PML OPT CIS
완전 차동 Fully differential ANA
완충 시간 buffer / ride-through time INF
왕복 효율 round-trip efficiency PWR
왜곡 Distortion OPT
왜곡 보정 Distortion pre-correction DSP
외관 검사 External visual inspection FAL
외기조화기 Make-up Air Unit MAU INF
외부 게이트 저항 external gate resistor R_G PWR
외부 보상 External compensation DSP
외부 양자 효율 External quantum efficiency EQE DEV DSP
외인성 결함 extrinsic defect PWR
외인성 영역 Extrinsic region DEV
외인성 확산 Extrinsic diffusion DOP
요구 시 작동 실패 확률 Probability of Failure on Demand PFD INF
요구 시각 Required time DIG
욕조 곡선 Bathtub curve DEV FAL PKG TST PWR INF
용량 결합 플라즈마 capacitively coupled plasma CCP PLS
용량 등가 두께 Capacitance equivalent thickness CET TCD
용량성 전하 capacitive charge Q_c PWR
용존산소 Dissolved Oxygen DO INF
용해도곱 solubility product K_sp INF
우반면 영점 Right-half-plane zero RHP zero ANA
우세 극점 Dominant pole ANA
운동량 전달 충돌 빈도 momentum-transfer collision frequency ν_m PLS
운동량 전달 충돌 주파수 momentum-transfer collision frequency ν_m PLS
운동론 모델 kinetic model PLS
운쉬–벨 관계 Wunsch–Bell relation DEV
운영비 operating expenditure OPEX INF
운전자 모니터링 시스템 Driver monitoring system DMS CIS
움직임 추정 Motion estimation ME SOC
워드 수 Word count WC CIS
워드라인 Wordline WL DIG MEM
워프 Warp (wavefront) SOC
원-핫 인코딩 One-hot encoding DSN
원격 플라즈마 remote plasma FIL PLS
원격 플라즈마 소스 remote plasma source RPS PLS
원격 플라즈마 챔버 세정 remote plasma chamber clean RPS clean PLS
원단위 unit consumption, intensity INF
원색 Primary color DSP
원수 raw water INF
원시 비트 오류율 Raw bit error rate RBER MEM
원자 연산 Atomic operation SOC
원자 피닝 atomic peening FIL
원자층 식각 Atomic layer etching ALE PRC ETC FIL
원자층 증착 Atomic layer deposition ALD PRC FIL MEM IND
원추세포 Cone cell L·M·S DSP
원통 접합 cylindrical junction PWR
원편광판 Circular polarizer DSP
원핫 인코딩 One-hot encoding DIG
월 투입 웨이퍼 수 Wafer Starts Per Month WSPM INF
월리스 트리 Wallace tree DIG
웜홀 라우팅 Wormhole routing SOC
웨버 법칙 Weber's law ΔL/L DSP
웨어 레벨링 Wear leveling MEM
웨이퍼 Wafer IND
웨이퍼 간 균일도 wafer-to-wafer uniformity WTW FIL
웨이퍼 간 불균일도 Wafer-To-Wafer Non-Uniformity WTWNU CMP
웨이퍼 간 비교 Wafer-to-wafer comparison YLD
웨이퍼 내 불균일도 Within-Wafer Non-Uniformity WIWNU CMP
웨이퍼 레벨 번인 Wafer-level burn-in WLBI TST
웨이퍼 맵 Wafer map PKG
웨이퍼 맵 무늬 Wafer map signature FAL
웨이퍼 박화 wafer thinning, backgrinding CMP
웨이퍼 스테이지 Wafer stage LIT
웨이퍼 안 균일도 within-wafer uniformity WIW FIL
웨이퍼 없는 자동 세정 waferless auto clean WAC PLS
웨이퍼 테스트 Wafer sort / circuit probe EDS · CP YLD FAL TST MEM
웨이퍼 테스트 수율 Wafer sort yield / die yield YLD
웨이퍼 투입량 Wafer starts per month WSPM IND
웨이퍼 휨 wafer bow δ FIL CMP PWR
웨이퍼당 다이 수 Dies per wafer DPW SOC PRC YLD CIS PWR IND
웨지 본딩 Wedge bonding PKG
웰 Well PRC DOP
위너 디컨볼루션 Wiener Deconvolution CIS
위상 고정 루프 Phase-locked loop PLL SOC ANA
위상 반전 마스크 Phase-shift mask PSM PRC
위상 변이 마스크 Phase-shift mask PSM LIT
위상 상관 Phase Correlation CIS
위상 속도 Phase velocity v_p OPT
위상 앞섬 보상 Lead Compensation CIS
위상 언래핑 Phase Unwrapping CIS
위상 여유 Phase margin PM ANA CIS
위상 영상 Phase image FAL
위상 잡음 Phase noise L(f) ANA
위상 전달 함수 Phase transfer function PTF OPT
위상 주파수 검출기 Phase-frequency detector PFD ANA
위상 지연 Retardation Δn·d DSP
위상·주파수 검출기 Phase-frequency detector PFD SOC
위상각 phase angle φ PLS
위상차 AF Phase-detection autofocus PDAF OPT CIS
위치 기반·시장 기반 location-based / market-based INF
위험 노출 웨이퍼 Wafers at risk WAR YLD
위험 우선순위 수 Risk priority number RPN FAL
윈도 방법 Window method YLD
윌리엄스–브라운 식 Williams–Brown model TST
윙클러·파스테르나크 기초 Winkler / Pasternak foundation CMP
유기 발광 다이오드 Organic light-emitting diode OLED DSP
유기 오염 organic contamination CMP
유도 게이트 잡음 Induced gate noise DEV
유도 결합 플라스마 Inductively coupled plasma ICP / TCP ETC
유도 결합 플라즈마 inductively coupled plasma ICP PLS
유도 결합 플라즈마 식각 ICP etch with bias ICP PLS
유도 방출 Stimulated emission DEV
유도성 부하 inductive load PWR
유동성 CVD flowable CVD FCVD FIL
유럽 반도체법 European Chips Act IND
유럽 효율 European efficiency η_EU PWR
유리 관통 비아 Through Glass Via TGV PKG
유리 원장 세대 Mother glass generation Gen DSP
유리 전이 온도 glass transition temperature Tg CMP PKG
유연한 데이터 배치 Flexible data placement FDP MEM
유용한 스큐 Useful skew DIG DSN SOC
유전 이완 시간 dielectric relaxation time τ_d PLS
유전막 충전 dielectric charging PLS
유전율 Permittivity ε TCD
유전율 이방성 Dielectric anisotropy Δε DSP
유지 전류 holding current I_H PWR
유체 모델 fluid model PLS
유체 윤활 hydrodynamic lubrication CMP
유체역학 모델 Hydrodynamic model HD TCD
유출 Test escape TST
유출 비용 Escape cost TST
유카와 전위 Yukawa (screened Coulomb) potential PLS
유한 격자 불안정 finite grid instability PLS
유한 상태 기계 Finite state machine FSM DIG DSN
유한 요소법 Finite element method FEM TCD OPT
유한 차분 시간 영역법 Finite-difference time-domain FDTD OPT
유한 차분법 Finite difference method FDM TCD
유한 체적법 Finite volume method FVM TCD
유효 굴절률 Effective index n_eff OPT
유효 매질 이론 Effective medium theory EMT CIS
유효 면적 effective loss area A_eff PLS
유효 밀도 effective density ρ_eff CMP
유효 비트 수 Effective number of bits ENOB ANA
유효 상태 밀도 Effective density of states Nc / Nv DEV TCD
유효 스위칭 커패시턴스 Effective switched capacitance Ceff DIG SOC
유효 저항 Effective resistance Reff DIG
유효 전기장 effective electric field E_eff PLS
유효 전자 온도 effective electron temperature T_eff PLS
유효 질량 Effective mass m* DEV
유효 초점 거리 Effective focal length EFL OPT
유효 탄성률 effective (reduced) modulus E* CMP
유효 펌핑 속도 effective pumping speed S_eff FIL
유효 프레임 수 Effective frame count N_eff CIS
유효 플라즈마 길이 effective plasma size d_eff PLS
유효 Dt effective Dt FIL
유휴 톤 Idle tones ANA
육방형 비율 hexagonality PWR
은 소결 silver sintering PWR
은 에폭시 Silver-filled epoxy paste PKG
음 바이어스 negative gate bias PWR
음 바이어스 온도 불안정성 Negative Bias Temperature Instability NBTI DEV
음극 강하 cathode fall V_c PLS
음성 레지스트 Negative-tone resist LIT
음성 톤 현상 Negative-tone development NTD LIT
음의 커패시턴스 FET Negative-capacitance FET NCFET DEV
음이온성 첨가제 anionic additive (PAA) CMP
음이항 모델 Negative binomial yield model YLD
음이항 수율 모델 Negative binomial yield model PRC CMP
음향 경계층 acoustic boundary layer CMP
음향 방출 Acoustic Emission AE CMP
음향 임피던스 Acoustic impedance Z FAL
음향 흐름 acoustic streaming CMP
응답 시간 Response time (GtG) GtG DSP
응답 시간 측정 Response time measurement DSP
응답도 Responsivity R (A/W) DEV
응력 반전 stress reversal FIL
응력 완화 Stress relief PKG
응력 완화 버퍼 strain-relief buffer PWR
응집 agglomeration, aggregation CMP INF
응집체 agglomerate CMP
의사 정합 성장 Pseudomorphic growth DEV
의사 채널 Pseudo channel MEM
의사 nMOS Pseudo-nMOS DIG
이 격자 Yee lattice OPT
이격 거리 keep-off distance CMP
이동 단위 수 Number of Transfer Units NTU INF
이동 이온 mobile ions PWR
이동도 Mobility μ DEV PLS TCD
이동도 저하 Mobility degradation θ DEV
이득 대역폭 곱 Gain-bandwidth product GBW ANA
이득 둔감화 Gain desensitization ANA
이득 여유 Gain margin GM ANA CIS
이로전 Erosion PRC CMP
이류 불안정 two-stream instability PLS
이면 조사형 Back-side illumination BSI CIS
이미지 래그 Image lag CIS
이미지 서클 Image circle CIS
이미지 센서 CMOS image sensor CIS IND
이미지 신호 처리기 Image Signal Processor ISP SOC CIS
이미징 색채계 Imaging colorimeter DSP
이미터 / 베이스 / 컬렉터 Emitter / base / collector E / B / C DEV
이방성 Anisotropic ETC PLS
이방성 습식 식각 Anisotropic wet etching (KOH / TMAH) ETC
이방성 식각 Anisotropic etch LIT PLS
이벤트 구동 시뮬레이션 Event-driven simulation DIG
이벤트 센서 Event-based vision sensor DVS / EVS CIS
이산 코사인 변환 Discrete Cosine Transform DCT SOC
이산화 오차 Discretization error TCD
이상 계수 Ideality factor n DEV TCD
이상 글로 abnormal glow PLS
이상 기체 ideal gas FIL
이상 발생 Excursion YLD
이상 스위치 ideal switch PWR
이상 표피 효과 anomalous skin effect δ_a PLS
이상적 SNR Ideal SNR ANA
이색성 편광자 Dichroic polarizer OPT
이오나이저 ionizer INF
이온 각도 분포 Ion angular distribution IAD / IADF ETC PLS
이온 강화 식각 Ion-enhanced etching ETC PLS
이온 강화 식각 속도 모델 ion-enhanced etch rate model PLS
이온 그림자 Ion shadowing ETC
이온 끌림 ion drag force PLS
이온 소스 Ion source DOP
이온 에너지 ion energy FIL
이온 에너지 분포 Ion energy distribution IED / IEDF ETC FIL PLS
이온 에너지 플럭스 ion energy flux q_ion PLS
이온 전이 시간 ion transit time τᵢ PLS
이온 제한 영역 ion-limited regime PLS
이온 주입 Ion implantation PRC TCD CIS
이온 충격 에너지 ion energy lost at the wall 𝓔ᵢ PLS
이온 통과 시간 ion transit time τᵢ PLS
이온 평균 자유 행로 ion mean free path λᵢ PLS
이온 포화 전류 ion saturation current I_is PLS
이온 플라즈마 주파수 ion plasma frequency f_pi PLS
이온 플럭스 ion flux Γᵢ PLS
이온-라디칼 시너지 Ion-neutral synergy ETC
이온-래디컬 시너지 ion–radical synergy PLS
이온-이온 재결합 ion-ion recombination PLS
이온-이온 플라즈마 ion-ion plasma PLS
이온-중성 시너지 ion–neutral synergy PLS
이온당 총 손실 에너지 total energy lost per ion 𝓔_T PLS
이온화 Ionization ETC
이온화 계수 Impact ionization coefficient α_n, α_p DEV PWR
이온화 불순물 산란 Ionized impurity scattering DEV
이온화 속도 계수 ionization rate coefficient K_iz PLS
이온화 에너지 Ionization energy Ed, Ea DEV PLS
이온화 적분 Ionization integral DEV PWR
이온화 PVD ionized PVD iPVD FIL
이온화도 ionization degree nₑ/N PLS
이용률 Utilization DSN INF
이웃 쌍 통계 Join count statistic YLD
이원 확산 계수 binary diffusion coefficient D FIL
이젝터 핀 Ejector pin (needle) PKG
이종 에피 heteroepitaxy PWR
이종 접합 Heterojunction DEV
이종 접합 바이폴라 트랜지스터 Heterojunction bipolar transistor HBT DEV
이종 집적 Heterogeneous integration HI PKG
이종 컴퓨팅 Heterogeneous computing SOC
이중 레일 도미노 Dual-rail domino DIG
이중 변환 이득 Dual conversion gain DCG CIS
이중 빔 Dual beam (FIB-SEM) FAL
이중 수전 dual utility feed INF
이중 응력 라이너 dual stress liner DSL FIL
이중 이종 구조 Double heterostructure DH DEV
이중 주파수 용량 결합 플라즈마 dual-frequency capacitively coupled plasma DF-CCP PLS
이중 주파수 CCP dual-frequency CCP DF-CCP PLS
이중 주파수 PECVD dual-frequency PECVD FIL
이중 펄스 시험 Double-pulse test DPT DEV PWR
이중 피어슨 Dual Pearson TCD
이중관 double containment, coaxial tubing INF
이진 충돌 근사 Binary collision approximation BCA TCD
이차 배치 Quadratic placement DSN
이차 수렴 Quadratic convergence TCD
이차 이온 질량 분석 Secondary ion mass spectrometry SIMS FAL
이차 전자 Secondary electron SE YLD FAL
이퀄라이저 Equalizer FFE SOC
이항 검정 Binomial test YLD
이형·동형 접합 Anisotype / isotype heterojunction DEV
익스텐션 Source/drain extension SDE DOP
인공물 Artifact FAL
인광 Phosphorescence PhOLED DSP
인덕터 전류 리플 inductor current ripple Δi_L PWR
인덱스 시간 Index time TST
인라인 검사 Inline inspection YLD
인버터 inverter VFD PWR INF
인산 식각 Hot phosphoric acid etch ETC
인센서 처리 In-Sensor Processing CIS
인셀 터치 In-cell touch DSP
인쇄 검증 Print check YLD
인쇄성 Printability YLD
인시추 도핑 In-situ doping DOP
인시투 광학 측정 in-situ spectral reflectometry CMP
인시투·엑스시투 컨디셔닝 in-situ / ex-situ conditioning CMP
인체 모델 Human body model HBM FAL
인체 모델 / 대전 소자 모델 Human Body Model / Charged Device Model HBM/CDM DEV
인터럽트 Interrupt IRQ SOC
인터럽트 병합 Interrupt coalescing SOC
인터럽트 컨트롤러 Generic Interrupt Controller GIC SOC
인터록 Interlock YLD FAL INF
인터리빙 interleaving PWR
인터포저 Interposer PKG MEM IND
인트라베이·인터베이 intrabay / interbay INF
일관 표본화 Coherent sampling ANA
일반 지수 분포 generalized exponential distribution PLS
일일 전체 쓰기 횟수 Drive writes per day DWPD MEM
일일 탱크 day tank INF
일함수 Work function φm, φs DEV TCD
일함수 금속 Work-Function metal WFM CMP
일함수 변동 Work-function variation WFV TCD
일함수 차 Work-function difference φms DEV
읽기 교란 Read disturb DIG
읽기 노이즈 Read noise σ_r CIS
읽기 노이즈 페널티 Read noise penalty CIS
읽기 디스터브 Read disturb MEM
읽기 명령 Read command RD MEM
임계 경로 Critical path DIG DSN SOC
임계 두께 Critical thickness h_c DEV
임계 면적 critical area A_c CMP YLD
임계 분해 전단 응력 critical resolved shear stress CRSS FIL
임계 융합 주파수 Critical flicker fusion CFF DSP
임계 장벽 두께 critical barrier thickness d_c PWR
임계 전계 critical electric field E_c PWR
임계 전기장 Critical electric field ℰ_c DEV
임계 전도 모드 critical conduction mode CrM PWR
임계 전하 Critical charge Qcrit DIG
임계 종횡비 critical aspect ratio CMP
임계 치수 Critical dimension CD LIT
임계 핵 critical nucleus r* FIL
임계각 Critical angle ψ FIL DOP OPT
임베디드 데이터 Embedded data CIS
임시 본딩 Temporary bonding and debonding TBDB PKG
임피던스 장 방법 Impedance field method IFM TCD
임피던스 정합 impedance matching PLS
임피던스 정합기 impedance matching network PLS
입력 고레벨 전압 Input high voltage VIH DIG
입력 누설 전류 Input leakage IIL/IIH TST
입력 오프셋 전압 Input offset voltage VOS ANA
입력 정형 Input shaping CIS
입력 지연 Input lag DSP
입력 커패시턴스 input capacitance C_iss PWR
입력 환산 노이즈 Input-referred noise CIS
입력 환산 잡음 Input-referred noise ANA
입사동 Entrance pupil EP OPT CIS
입자 간 평균 거리 Wigner–Seitz radius a PLS
입자 균형 particle balance PLS
입자 오염 particle contamination CMP
입자 제거 효율 Particle Removal Efficiency PRE CMP
입자-격자법 particle-in-cell PIC PLS
입체 장애 steric hindrance FIL
입체각 Solid angle sr DSP
입출력 단자 Input/Output I/O PKG
잉곳 Ingot PRC
잉크젯 프린팅 Inkjet printing IJP DSP
Ψ와 Δ Psi and Delta FIL

ㅈ

자가 발열 Self-heating DEV
자급률 Self-sufficiency rate IND
자기 강성 Magnetic rigidity Bρ DOP
자기 바이어스 DC self-bias V_dc ETC FIL PLS
자기 발열 Self-heating TCD
자기 저항 메모리 Magnetoresistive RAM MRAM MEM
자기 정렬 Self-alignment PRC DOP PKG
자기 정렬 사중 패터닝 Self-aligned quadruple patterning SAQP LIT
자기 정렬 이중 패터닝 Self-aligned double patterning SADP LIT
자기 정렬 콘택 Self-Aligned Contact SAC CMP
자기 정전용량 Self-capacitance DSP
자기 정지 self-stopping CMP
자기 제한 Self-limiting ETC FIL
자기 제한 반응 self-limiting reaction FIL
자기 터널 접합 Magnetic tunnel junction MTJ MEM
자기장 가로 확산 cross-field diffusion D⊥ PLS
자기장 감쇠 magnetic field decay INF
자동 결함 분류 Automatic Defect Classification ADC CMP YLD
자동 물류 반송 시스템 Automated Material Handling System AMHS INF
자동 영점 Auto-zeroing AZ ANA
자동 정합기 automatic matching network PLS
자동 테스트 장비 Automatic test equipment ATE FAL TST
자동 테스트 패턴 생성 Automatic test pattern generation ATPG FAL
자동 패턴 분류 Automatic pattern classification YLD
자동 화이트 밸런스 Auto white balance AWB CIS
자동 휘도 제한 Auto brightness limiter ABL DSP
자발 분극 spontaneous polarization P_sp PWR
자발 식각 Spontaneous (chemical) etching ETC
자세차 Posture difference CIS
자연 길이 Natural length λ DEV
자연 산화막 native oxide CMP
자연발화성 pyrophoric INF
자연산화막 native oxide INF
자이델 수차 Seidel aberrations OPT
자체 유지 조건 self-sustainment condition PLS
작동 F-넘버 Working F-number N_w OPT
잔광 afterglow PLS
잔류 산화막 oxide residue CMP
잔류 입자 residual particle CMP
잔류물 Residue YLD
잔여 수명 Remaining Useful Life RUL INF
잔차 Residual LIT TCD
잠금·표지 Lockout/Tagout LOTO INF
잠복기 incubation time t_inc FIL
잠열 latent heat INF
잠재 결함 Latent defect TST
잠재 고장 지표 Latent fault metric LFM CIS
잡음 대역폭 Noise bandwidth Bn ANA
잡음 등가 온도차 Noise equivalent temperature difference NETD CIS
잡음 성형 Noise shaping ANA
잡음 전달 함수 Noise transfer function NTF ANA
잡음 지수 Noise figure NF DEV
잡음 초과 계수 Excess noise factor γ ANA
잡음 파라미터 Noise parameters DEV
잡음 해석 Noise analysis .noise ANA
장벽층 Barrier / liner DIG
장비 시그니처 Tool signature YLD
장비 전단 모듈 Equipment Front End Module EFEM CMP
장치 전원 Device power supply DPS TST
재검출 Redetection YLD
재결합 Recombination R DEV
재결합 발광 Recombination radiation FAL
재결합 버퍼층 recombination-enhancing buffer layer PWR
재결합 에너지 recombination energy E_rec PLS
재결합 확률 recombination probability FIL
재결합–생성 전류 Recombination–generation current J_gr DEV
재고 일수 Days of inventory DOI IND
재공 Work In Process WIP INF
재구성 웨이퍼 Reconstituted wafer PKG
재배선층 Redistribution layer RDL PKG
재생 래치 regenerative latching PWR
재생 시정수 Regeneration time constant τ DIG
재생성 Regeneration DIG
재스퍼터 resputtering FIL
재유입 re-entrainment INF
재이용률 reuse ratio INF
재점화 re-ignition PLS
재정렬 버퍼 Reorder Buffer ROB SOC
재주문점 reorder point ROP INF
재증착 Redeposition FAL
재진입 흐름 re-entrant flow INF
재테스트 Retest YLD
쟁기질·절삭 plowing / cutting CMP
저감 장치 abatement PLS
저굴절 그리드 Low-n (air-gap) grid OPT
저농도 도핑 드레인 Lightly Doped Drain LDD DEV
저더 Judder DSP
저압 화학 기상 증착 low-pressure CVD LPCVD FIL
저온 다결정 실리콘 Low-temperature polysilicon LTPS DSP
저온 비평형 플라즈마 low-temperature non-equilibrium plasma PLS
저온 주입 Cryogenic implant DOP
저유전막 Low-k dielectric low-k PRC CMP FAL
저유전율 절연막 Low-k dielectric low-k DIG
저잡음 증폭기 Low-noise amplifier LNA DEV
저장 시간 Storage time t_s DEV
저장 전하 Stored charge Q_s DEV PWR
저장 커패시터 Storage capacitor C_st DSP
저장 탄성률 storage modulus E′ CMP
저전압 차단 under-voltage lockout UVLO PWR
저주파 / 고주파 C–V Low- / high-frequency C–V LF / HF C–V DEV
저준위 주입 Low-level injection DEV
저지 대역 Stopband OPT
저지속 구동 Low persistence DSP
저항 가열 ohmic heating PLS
저항 변화 메모리 Resistive RAM ReRAM MEM
저항 온도 계수 Temperature coefficient of resistance TCR FAL
저항성 결함 Resistive defect FAL
적분 시간 Integration time FAL
적외선 차단 필터 IR-cut filter IRCF CIS
적응 격자 Adaptive meshing TCD
적응형 클럭 Adaptive clocking SOC
적응형 테스트 Adaptive test TST
적재-사용 해저드 Load-use hazard SOC
적재-저장 구조 Load-store architecture SOC
적중률 Hit rate YLD MEM
적층 높이 Stack height PKG
적층 버스바 laminated busbar PWR
적층 센서 Stacked sensor CIS
적층 패드 stacked pad CMP
전가산기 Full adder FA DIG
전계 방출 Field emission FE DEV
전계 효과 이동도 field-effect mobility μ_FE PWR
전계발광 양자점 Electroluminescent QD QD-LED DSP
전계효과 이동도 Field-effect mobility µ_FE DSP
전고조파 왜곡 total harmonic distortion THD PWR
전고조파 왜형률 Total Harmonic Distortion THD INF
전기 음성 플라즈마 electronegative plasma PLS
전기 음성도 electronegativity α PLS
전기 음성도 비 electronegativity α PLS
전기 이중층 Electrical Double Layer EDL CMP
전기-열 결합 electro-thermal coupling PWR
전기-열 자기 일치 electro-thermal self-consistency PWR
전기광학 주파수 매핑 Electro-optical frequency mapping EOFM · LVI FAL
전기력선 이온화 적분 ionization integral along field line PWR
전기적 과부하 Electrical overstress EOS FAL
전기적 노력 Electrical effort h DIG
전기탈이온 Electrodeionization EDI INF
전단 지연 모델 shear-lag model PWR
전달 전력 delivered power P_del PLS
전달 컨덕턴스 transconductance g_fs PWR
전달 행렬법 Transfer matrix method TMM OPT CIS
전달률 transmissibility T INF
전도 손실 conduction loss PWR
전도대 / 가전자대 Conduction / valence band Ec / Ev DEV
전도도 변조 Conductivity modulation DEV PWR
전력 관리 IC Power management IC PMIC SOC
전력 구매 계약 Power Purchase Agreement PPA INF
전력 균형 power balance PLS
전력 모듈 power module PWR
전력 밀도 power density PWR
전력 반도체 Power semiconductor IND
전력 반도체 소자 Power semiconductor device DEV
전력 배출계수 grid emission factor INF
전력 변환 power conversion PWR
전력 예산 Power budget CIS
전력 전달 효율 power transfer efficiency η PLS
전력 전자 power electronics PWR
전력 MOSFET power MOSFET PWR
전류 리플 current ripple PWR
전류 모드 밴드갭 Current-mode bandgap ANA
전류 미러 Current mirror ANA
전류 밀도 Current density ID/W ANA
전류 붕괴 Current collapse (dynamic R_on) DEV PWR
전류 필라멘트 current filament PWR
전류 효율 Current efficiency cd/A ANA DSP
전리 손상 Total ionizing dose TID CIS
전리도 ionization degree x PLS
전면 발광 Top emission TE DSP
전면 불량 Near-full YLD
전면 조사형 Front-side illumination FSI CIS
전반사 Total internal reflection TIR OPT DSP
전비 energy consumption per distance Wh/km PWR
전송 게이트 Transmission gate TG DIG CIS
전송 지연 Transport delay DIG
전송선 transmission line PLS
전송선 모형 Transfer length method TLM DEV
전송선 펄스 Transmission Line Pulse TLP DEV
전압 대비 Voltage contrast VC YLD FAL
전압 드룹 Voltage droop SOC
전압 디레이팅 voltage derating PWR
전압 영역 글로벌 셔터 Voltage-domain global shutter CIS
전압 오버슈트 voltage overshoot PWR
전압 전달 특성 Voltage transfer characteristic VTC DEV DIG SOC
전압 정재파비 voltage standing wave ratio VSWR PLS
전압 제어 발진기 Voltage-controlled oscillator VCO SOC ANA
전압–투과율 곡선 Voltage–transmittance curve V–T DSP
전압형 인버터 voltage-source inverter VSI PWR
전역 모델 global model PLS
전역 배선 Global routing DSN
전역 변동 Global (die-to-die) variation D2D DIG
전역 평탄화 global planarization CMP
전용 가속기 Fixed-function accelerator SOC
전원 게이팅 Power gating DIG SOC
전원 분배망 Power Delivery Network PDN PKG
전원 잡음 제거비 Power-supply rejection ratio PSRR ANA
전원망 Power delivery network PDN SOC
전이 영역 transition mode FIL
전이 온도 transition temperature T* FIL
전이 주파수 Transition frequency fT ANA
전이층 interfacial transition layer FIL PWR
전자 관성 인덕턴스 electron inertia inductance L_p PLS
전자 그늘 Electron shading ETC PLS
전자 밀도 electron density nₑ PLS
전자 사이클로트론 공명 electron cyclotron resonance ECR PLS
전자 사태 electron avalanche PLS
전자 설계 자동화 Electronic design automation EDA IND
전자 수송층 Electron transport layer ETL DSP
전자 에너지 분포 함수 electron energy distribution function EEDF FIL PLS
전자 에너지 손실 분광 Electron energy loss spectroscopy EELS FAL
전자 에너지 확률 함수 electron energy probability function EEPF PLS
전자 온도 electron temperature Te ETC FIL PLS
전자 이동 Electromigration EM DIG PRC FAL
전자 저지 Electronic stopping Sₑ DOP
전자 증배 CCD Electron-multiplying CCD EMCCD CIS
전자 지연 영역 electron retardation region PLS
전자 진동 진폭 electron oscillation amplitude x₀ PLS
전자 충돌 이온화 electron-impact ionization PLS
전자 충돌 해리 electron-impact dissociation FIL PLS
전자 친화도 Electron affinity χ DEV TCD
전자 평균 자유 행로 electron mean free path λₑ PLS
전자 포화 전류 electron saturation current I_es PLS
전자 플라즈마 주파수 electron plasma frequency f_pe PLS
전자 회절 Electron diffraction SAED FAL
전자-이온 쌍당 충돌 손실 collisional energy loss per electron–ion pair 𝓔_c PLS
전자-전자 충돌 electron–electron collision e-e PLS
전자-정공 쌍 Electron-hole pair EHP CIS
전자빔 검사 Electron beam inspection EBI YLD
전자빔 묘화기 E-beam mask writer LIT
전자빔 손상 Electron beam damage FAL
전자빔 수축 E-beam shrinkage YLD
전자빔 유기 전류 Electron beam induced current EBIC FAL
전자빔 증발 electron-beam evaporation FIL
전자빔 프로빙 Electron-beam probing EBP FAL
전자빔 흡수 전류 Electron beam absorbed current EBAC FAL
전자식 손떨림 보정 Electronic image stabilization EIS CIS
전장 Total track length TTL OPT
전착 디스크 electroplated Ni-bond disk CMP
전처리 Preconditioning ILU TCD
전파 Propagate P DIG
전파 지연 Propagation delay tpd DIG SOC TCD
전하 공유 Charge sharing DIG MEM CIS
전하 교환 charge exchange CX PLS
전하 균형 charge balance PWR
전하 불균형 charge imbalance δ PLS
전하 수집 몬테카를로 Monte Carlo charge collection CIS
전하 전송 효율 Charge transfer efficiency CTE CIS
전하 제어 모델 charge-control model PWR
전하 주입 Charge injection ANA
전하 중성 Charge neutrality TCD
전하 중성 조건 Charge neutrality DEV
전하 중성 xnNd = xpNa Depletion charge balance DEV
전하 트레일 Charge trail CIS
전하 펌프 Charge pump CP SOC ANA
전해 도금 Electrochemical plating ECP PRC CMP PKG
전해연마 electropolishing EP INF
전환점 SNR 딥 SNR drop at transition CIS
절대 감도 문턱 Absolute sensitivity threshold μ_p.min CIS
절대 차 합 Sum of Absolute Differences SAD SOC
절대습도 humidity ratio w INF
점 확산 함수 Point spread function PSF OPT
점결함 Point defects I, V TCD
점성 유동 viscous flow FIL
점유율 Occupancy SOC
점증 간격 progressive ring spacing PWR
점진 채널 근사 Gradual channel approximation GCA DEV
접속 밀도 Interconnect density PKG
접액부 wetted parts INF
접촉 높이 contact height CMP
접촉 비저항 Specific contact resistivity ρc DEV
접촉 열전도 gap (contact) conductance h PLS
접촉 저항 Contact resistance CRES TST
접촉각 contact angle θ FIL CMP
접합 곡률 반지름 junction radius of curvature rj PWR
접합 깊이 Junction depth xⱼ DOP
접합 보이드 bonding void (Tong–Gösele) CMP
접합 온도 Junction temperature Tj SOC PKG CIS PWR
접합 온도 리플 junction temperature swing ΔTj PWR
접합 온도 변동 junction temperature swing ΔTj PWR
접합 용량 Junction capacitance Cj DEV TCD CIS
접합 종단 Edge termination DEV
접합 종단 확장 junction termination extension JTE PWR
접합 커패시턴스 Junction capacitance Cdb, Csb ANA
접합-냉각수 열저항 junction-to-fluid thermal resistance Rth,j-f PWR
접합-케이스 열저항 junction-to-case thermal resistance Rth,j-c PWR
접합부–주변 열저항 Junction-to-ambient thermal resistance θ_ja PKG
접합부–케이스 열저항 Junction-to-case thermal resistance θ_jc PKG
접합의 법칙 Law of the junction DEV
접합파 bond wave CMP
정 gm 바이어스 Constant-gm bias (β-multiplier) ANA
정공 Hole h⁺ DEV
정공 수송층 Hole transport layer HTL DSP
정공 주입층 Hole injection layer HIL DSP
정규 식생 지수 Normalized difference vegetation index NDVI CIS
정량 보정 ZAF / Cliff–Lorimer correction ZAF · k FAL
정렬 Alignment LIT
정렬 마크 Alignment mark LIT
정류 rectification PLS PWR
정류 루프 commutation loop PWR
정류 루프 인덕턴스 commutation loop inductance L_σ PWR
정밀 예외 Precise exception SOC
정밀 측정 장치 Precision measurement unit PMU TST
정반 platen CMP
정반사·확산 반사 Specular / diffuse reflection SCI·SCE DSP
정상 글로 normal glow PLS
정상상태 농도 steady-state concentration INF
정상파 Standing wave LIT PLS
정상파 효과 standing-wave effect PLS
정압 static pressure INF
정재파 Standing wave PRC
정적 노이즈 마진 Static noise margin SNM DIG
정적 식각률 Static Etch Rate SER CMP
정적 잡음 여유 Static noise margin SNM DIG MEM
정적 타이밍 분석 Static Timing Analysis STA DIG DSN
정적 해저드 Static hazard DIG
정적 CMOS Static CMOS DIG
정전 결합 capacitive coupling (from the coil) PLS
정전 전위 Electrostatic potential ψ TCD
정전 척 Electrostatic chuck ESC ETC
정전기 방전 Electrostatic Discharge ESD DEV FAL INF
정전용량 터치 Capacitive touch DSP
정전척 electrostatic chuck ESC PLS YLD
정정 불가 비트 오류율 Uncorrectable bit error rate UBER MEM
정제기 purifier INF
정지 전류 Quiescent current IQ ANA
정지 토크 stall torque PWR
정지막 Etch stop layer ESL ETC CMP
정착 시간 Settling time ts ANA TST
정확도 Accuracy YLD
제거된 성분 Method noise CIS
제거비 removal ratio (moment ratio) CMP
제거율 Removal Rate RR CMP
제거율 표류 removal rate drift CMP
제곱 법칙 Square law ANA
제너 항복 Zener breakdown DEV
제동 복사 Bremsstrahlung FAL
제르니케 다항식 Zernike polynomials Z5 … Z11 LIT OPT
제벡 효과 영상 Seebeck effect imaging SEI FAL
제약 랜덤 검증 Constrained random verification SOC
제조성 고려 설계 Design For Manufacturability DFM CMP
제타 전위 zeta potential ζ CMP
제한 수율 Limited yield YLD
제한 오리피스 Restrictive Flow Orifice RFO INF
제한된 설계 규칙 Restricted Design Rules RDR DSN
젤로 효과 Jello effect / skew CIS
조건 등색 Metamerism CIS
조도 Illuminance lux CIS DSP
조리개 스톱 Aperture stop OPT
조립 낭비 Assembly waste TST
조립 수율 Assembly yield YLD
조밀-고립 편차 Iso-dense bias LIT
조성 경사 Compositional grading DEV
조합 논리 Combinational logic DSN
조합 루프 Combinational loop DIG
존드 네임스페이스 Zoned namespace ZNS MEM
존스 벡터 · 존스 행렬 Jones vector / Jones matrix OPT
존슨 기준 Johnson Criteria CIS
존슨 성능 지수 Johnson figure of merit JFOM PWR
존슨 한계 Johnson limit DEV
좀머펠트 수 Sommerfeld number So CMP
종단 효율 termination efficiency η PWR
종말점 Endpoint EP ETC FAL
종말점 검출 Endpoint detection EPD PRC PLS
종점 검출 EndPoint Detection EPD CMP
종합 반도체 기업 Integrated device manufacturer IDM IND
종합 반도체 회사 Integrated device manufacturer IDM MEM
종형 퍼니스 vertical furnace FIL
종횡비 Aspect ratio AR ANA LIT ETC FIL PKG MEM DSP
종횡비 의존 식각 Aspect ratio dependent etching ARDE PRC MEM CIS
좋은 다이 Known good die KGD IND
좌절 전반사 Frustrated total internal reflection FTIR CIS
좌절된 전반사 Frustrated total internal reflection FTIR OPT
좌측 우선 알고리즘 Left-edge algorithm DSN
주 식각 Main etch ME ETC
주개 Donor DOP
주공정 critical path INF
주관 화질 계수 Subjective quality factor SQF CIS
주광선 Chief ray OPT
주광선 입사각 Chief ray angle CRA LIT
주광선각 Chief ray angle CRA OPT CIS
주기당 식각량 Etch per cycle EPC ETC
주름 Crease DSP
주변 광선 Marginal ray OPT
주변 배열 / 면 배열 Peripheral / area array PKG
주변광 명암비 Ambient contrast ratio ACR DSP
주변광량 저하 Vignetting (cos⁴ fall-off) CIS
주사 음향 현미경 C-mode Scanning Acoustic Microscopy C-SAM PKG
주사 전자 현미경 Scanning electron microscope SEM FAL
주사 투과 전자 현미경 Scanning transmission electron microscope STEM FAL
주사율 Refresh rate Hz DSP
주석 액적 Tin droplet LIT
주소 사상 Address mapping SOC
주요점 Cardinal points OPT
주입 담쾰러 수 injection Damköhler number Da_I FIL
주입 효율 Emitter injection efficiency γ DEV
주파수 결합 frequency coupling PLS
주파수 튜닝 frequency tuning PLS
주파장 Dominant wavelength λd DSP
주평면 Principal plane H, H′ OPT
주항 Prime implicant PI DIG
주행 사이클 driving cycle PWR
준-ALE Quasi-ALE ETC
준안정 상태 Metastability SOC
준안정 원자 metastable atom Ar* PLS
준안정 활성화 Metastable activation DOP
준정적 근사 Quasi-static approximation QS DEV
준중성 quasineutrality PLS
준페르미 준위 Quasi-Fermi level EFn, EFp DEV TCD
중간 반전 Moderate inversion ANA
중간 버스 컨버터 intermediate bus converter IBC PWR
중간 초점 Intermediate focus IF LIT
중립면 Neutral plane DSP
중립점 거리 Distance from Neutral Point DNP PKG
중성 제한 영역 neutral-limited regime PLS
중성-이온 플럭스 비 neutral-to-ion flux ratio Γn/Γi PLS
중심 무늬 Center YLD
중심와 Fovea DSP
중앙 유틸리티동 Central Utility Building CUB INF
중앙 차폐 Central obscuration LIT
중앙 케미컬 공급 Chemical Distribution System CDS INF
중재기 Arbiter SOC
중전류 주입기 Medium-current implanter DOP
중첩 원리 superposition PWR
중첩 커패시턴스 Overlap capacitance Cov ANA
즉치값 Immediate imm SOC
증강형 enhancement-mode (normally-off) E-mode PWR
증거 소실 Loss of evidence FAL
증기압 vapor pressure P_eq FIL
증기압축 냉동 사이클 vapor-compression refrigeration cycle INF
증배율 multiplication factor M PWR
증분 스텝 펄스 프로그래밍 Incremental step pulse programming ISPP MEM
증분 SNR Incremental signal-to-noise ratio CIS
증착 deposition FIL
증착 원자당 에너지 energy per deposited atom E_p FIL
증착 장비 Deposition tool IND
증착-식각-증착 dep-etch-dep DED FIL
지구온난화지수 Global Warming Potential GWP INF
지멘스 스타 Siemens Star CIS
지배값 Controlling value DIG
지상 표본 거리 Ground Sample Distance GSD CIS
지속 성능 Sustained performance SOC
지수 가중 이동 평균 Exponentially Weighted Moving Average EWMA CMP
지역 집중 위험 Geographic concentration risk IND
지연 시간 Latency MEM
지연 전위 분석기 retarding field energy analyzer RFEA PLS
지연 펄스 delayed pulsing PLS
지터 Jitter DIG DSN SOC ANA TST CIS
직렬 균압 series voltage sharing PWR
직렬 저항 Series resistance Rs DEV
직렬-병렬 피드백 Series-shunt feedback ANA
직선 스크래치 Linear scratch YLD
직접 메모리 접근 Direct Memory Access DMA SOC
직접 밴드갭 Direct band gap DEV
직접 변환 검출기 Direct-conversion detector CIS
직접 본딩 Direct (fusion) bonding CIS
직접 접합 구리 기판 direct bonded copper DBC PWR
직접 터널링 direct tunneling FIL MEM
직접 풀이기 Direct solver LU TCD
직접 ToF Direct time-of-flight dToF CIS
직진 플럭스 line-of-sight flux FIL
직하형 백라이트 Direct-lit backlight DSP
진공 열증착 Vacuum thermal evaporation VTE DSP
진공 준위 Vacuum level E_vac DEV
진단 커버리지 Diagnostic coverage DC CIS
진단 해상도 Diagnostic resolution FAL
진단 후보 Diagnosis candidate / suspect FAL
진리표 Truth table DIG
진성 난수 발생기 True random number generator TRNG SOC
진성 영역 Intrinsic region DEV
진성 온도 intrinsic temperature PWR
진성 캐리어 농도 Intrinsic carrier concentration ni DEV DOP TCD
진성 캐리어 밀도 intrinsic carrier density n_i PWR
진성 페르미 준위 Intrinsic Fermi level Ei DEV
진행파 forward wave PLS
진화적 선택 evolutionary selection FIL
질량 두께 대비 Mass-thickness contrast FAL
질량 분석 자석 Analyzer magnet DOP
질량 유량 제어기 mass flow controller MFC FIL PLS
질량 작용 법칙 Mass-action law np = ni² DEV DOP TCD
질량유량제어기 Mass Flow Controller MFC INF
질소 퍼지 N₂ purge INF
질화 산화막 silicon oxynitride SiON FIL
질화갈륨 Gallium nitride GaN DSP
질화규소 세라믹 silicon nitride ceramic Si₃N₄ PWR
질화막 손실 nitride loss CMP
질화알루미늄 세라믹 aluminum nitride ceramic AlN PWR
집광 거울 Collector LIT
집속 이온 빔 Focused ion beam FIB FAL
집중도 Market concentration IND
짧은 다이오드 Short-base diode DEV
짧은 채널 효과 Short-channel effect SCE TCD

ㅊ

차 영상 Difference image YLD
차단 밀도 cutoff density n_c PLS
차단 영역 Cutoff region ANA
차단 주파수 Cutoff (transition) frequency fT DEV OPT
차단 피치 Cutoff pitch LIT
차동 쌍 Differential pair ANA
차동-단일 변환 Differential-to-single-ended conversion ANA
차등 산화 doping-enhanced oxidation FIL
차등 열화 Differential aging DSP
차량용 신뢰성 규격 AEC-Q100 / ISO 26262 ASIL CIS
차수 분리 필터 Order-sorting filter CIS
차압 계층 pressure cascade INF
차일드 법칙 Child law PLS
차일드-랭뮤어 법칙 Child–Langmuir law DOP
차지 트랩 플래시 Charge trap flash CTF MEM
차폐 게이트 트렌치 shielded-gate trench MOSFET SGT PWR
차폐형 PDAF Shielded (masked) PDAF pixel OPT
착란원 Circle of confusion CoC OPT
착화제 complexing agent CMP
채널 길이 변조 Channel-length modulation λ DEV DIG ANA
채널 배선 Channel routing DSN
채널 스토퍼 channel stopper PWR
채널 이동도 channel mobility μ_ch PWR
채널 홀 Channel hole ETC FIL MEM
채널링 Channeling PRC DOP TCD
채찍 효과 Bullwhip effect MEM IND
채터 마크 chatter mark CMP
챔버 Chamber YLD
챔버 매칭 chamber matching PLS
챔버 클리닝 chamber cleaning INF
처리 소자 Processing Element PE SOC
처리량 Throughput wph SOC LIT FIL YLD TST
천이 지연 고장 Transition delay fault TDF FAL
천이 폴트 Transition delay fault TDF TST
천장 버퍼 Overhead Buffer OHB INF
천장 주행 반송 Overhead Hoist Transport OHT INF
철의 법칙 Iron law of performance SOC
첨단 공정 제어 Advanced process control APC LIT CMP
첨단 운전자 보조 시스템 Advanced driver assistance systems ADAS CIS
첫 실패 중지 Stop on first fail TST
첫 실패에서 멈춤 Stop on first fail YLD
첫 웨이퍼 효과 first-wafer effect PLS
체류 시간 residence time τ ETC FIL PLS PWR
체이노웨스 식 Chynoweth law PWR
체인 진단 Chain diagnosis FAL
체커보드 Checkerboard YLD
초고속 TLP very fast TLP vf-TLP DEV
초광대역 밴드갭 ultra-wide bandgap UWBG PWR
초기 고장 Infant mortality TST
초기 급성장 initial rapid growth FIL
초기 두께 보정 initial thickness offset xᵢ FIL
초기 잔광 early afterglow PLS
초기 추정 Initial guess TCD
초당 테라 연산 Tera Operations Per Second TOPS SOC
초박형 유리 Ultra-thin glass UTG DSP
초순수 Ultrapure Water UPW CMP INF
초음파 현미경 Scanning acoustic microscopy SAM · C-SAM FAL
초임계 CO₂ 건조 supercritical CO₂ drying SCF CMP
초점 거리 Focal length f CIS
초점 심도 Depth of focus DOF PRC LIT CMP MEM
초점 핫스폿 Focus hotspot YLD
초점-노광량 행렬 Focus-exposure matrix FEM LIT
초크 필터 RF choke filter PLS
초크랄스키법 Czochralski method CZ PRC
초크포인트 Chokepoint IND
초핑 Chopping ANA
총 고조파 왜곡 total harmonic distortion THD PWR
총 기록 가능 용량 Terabytes written TBW MEM
총 두께 변동 Total Thickness Variation TTV CMP
총 두께 편차 Total thickness variation TTV PKG
총 소유 비용 Total cost of ownership TCO MEM
총 적분 산란 Total integrated scatter TIS OPT
총에너지 total energy ε_t PLS
총유기탄소 Total Organic Carbon TOC INF
최대 발진 주파수 Maximum oscillation frequency f_max DEV
최대 전기장 Maximum electric field Emax DEV
최대 전력점 추종 maximum power point tracking MPPT PWR
최대 투과 입자 크기 Most Penetrating Particle Size MPPS INF
최대항 Maxterm M DIG
최소 동작 전압 Minimum operating voltage Vmin DIG
최소 분해 온도차 Minimum Resolvable Temperature Difference MRTD CIS
최소 선폭 F Minimum feature size F LIT
최소 식별 차 Just noticeable difference JND DSP
최소 식별 차이 Just noticeable difference JND CIS
최소 에너지점 Minimum energy point MEP DIG
최소 잡음 지수 Minimum noise figure NF_min DEV
최소 제곱 맞춤 Least-squares fitting LM TCD
최소 클럭 주파수 Minimum clock frequency fmin DIG
최소 편향각 Angle of minimum deviation OPT
최소항 Minterm m DIG
최소항 합 Sum of minterms Σm DIG
최적 다이 면적 optimum die area PWR
최적 스위칭 주파수 optimum switching frequency PWR
최적 시청 거리 Optimal viewing distance DSP
최적 초점 Best focus LIT
최적 칩 면적 optimum die area a_opt PWR
최종 시장 End market IND
최종 테스트 Final test IND
최종 테스트 수율 Final test yield YLD
최하위 비트 Least significant bit LSB ANA
추상화 Abstraction DIG
추출 Extraction DSN
추출 효율 Light extraction efficiency η_ext DEV
축상 색수차 Longitudinal chromatic aberration LCA OPT
축소 블랭킹 CVT reduced blanking CVT-RB DSP
축소 투영 Reduction projection 4× LIT
축열식 연소 산화 장치 Regenerative Thermal Oxidizer RTO INF
축적 Accumulation DEV
축적·공핍·반전 Accumulation / depletion / inversion TCD
축적층 저항 accumulation resistance R_acc PWR
축전 결합 플라스마 Capacitively coupled plasma CCP ETC
축퇴 반도체 Degenerate semiconductor n⁺⁺ / p⁺⁺ DEV TCD
출력 고정 데이터 흐름 Output-stationary dataflow OS SOC
출력 레벨 Output levels VOH/VOL VOH/VOL TST
출력 스윙 Output swing ANA
출력 저레벨 전압 Output low voltage VOL DIG
출력 저장 에너지 output stored energy E_oss PWR
출력 저항 Output resistance ro DEV ANA
출력 전하 output charge Q_oss PWR
출력 주파수 output (fundamental) frequency fo PWR
출력 커패시턴스 output capacitance C_oss PWR
출력 커패시턴스 에너지 output capacitance stored energy E_oss PWR
출사동 Exit pupil XP OPT
충돌 그래프 Conflict graph DSN
충돌 단면적 collision cross section σ PLS
충돌 시스 collisional sheath PLS
충돌 연쇄 collision cascade PLS
충돌 이온화 Impact ionization α_n, α_p DEV TCD PWR
충돌 주파수 collision frequency ν PLS
충돌 캐스케이드 collision cascade FIL
충돌 표피 collisional skin depth δ_c PLS
충돌 플럭스 impingement flux Φ FIL
충전탑 packed tower INF
충진율 Fill factor FF DEV
취수·소비·방류 withdrawal / consumption / discharge INF
측면 소자 lateral device PWR
측면 퍼짐 Lateral straggle ΔR⊥ DOP
측벽 각 Sidewall angle ETC
측벽 각도 Sidewall angle SWA LIT
측벽 보호막 Sidewall passivation PRC ETC
측벽 재결합 Sidewall recombination DSP
측정 대역폭 measurement bandwidth BW PWR
측정 시야각 Measurement field / spot DSP
층 융합 Layer fusion SOC
층간 결함 추적 Defect source analysis DSA YLD
층간 박리 Delamination PKG
층간 절연막 interlayer dielectric ILD FIL CMP
층상 구조 stratification PLS
치명 결함 Killer defect YLD
치명 결함 밀도 killer defect density D₀ PWR
치명률 Kill ratio YLD
치밀화 densification FIL
치킨 게임 Chicken game IND
치핑 Chipping PKG
침착 속도 deposition velocity INF
침투 깊이 Penetration depth 1/α DEV
칩 퍼스트 Chip-first PKG
칩 함량 Semiconductor content IND
칩렛 Chiplet SOC PRC PKG TST IND
칩킬 Chipkill SDDC MEM

ㅋ

카날리 모델 Canali model TCD
카르노 맵 Karnaugh map K-map DIG DSN
카메라 방정식 Camera equation CIS
카메라 범프 Camera bump CIS
카우어 열 회로 Cauer thermal network PWR
카이제곱 검정 Chi-square test χ² YLD
캐리 건너뛰기 Carry-skip adder DIG
캐리 선택 Carry-select adder DIG
캐리 예측 Carry-lookahead CLA DIG
캐리 저장 덧셈기 Carry-save adder CSA DIG
캐리 전파 덧셈기 Carry-propagate adder CPA DIG
캐리어 Carrier DOP
캐리어 저장층 carrier stored layer CS PWR
캐리어-캐리어 산란 carrier-carrier scattering PWR
캐비테이션 cavitation (stable / transient) CMP
캐스코드 Cascode ANA PWR
캐스코드 미러 Cascode current mirror ANA
캐시 간 전송 Cache-to-cache transfer SOC
캐시 라인 Cache line MEM
캐시 연관도 Cache associativity MEM
캐시 일관성 Cache coherence SOC
캐시 줄 Cache line SOC
캐필러리 Capillary PKG
캘리브레이션 Display calibration DSP
캡 층 Cap layer FAL
캡핑층 Capping layer CPL DSP
커맨드·비디오 모드 Command / video mode DSP
커버 윈도 Cover window DSP
커버리지 Coverage DIG
커브 트레이서 Curve tracer FAL
커켄달 보이드 Kirkendall void PKG
커크 효과 Kirk effect DEV
커튼 현상 Curtaining FAL
커패시터 DAC Capacitive DAC (charge redistribution) CDAC ANA
커프 Kerf PKG
컨덕턴스 conductance C FIL
컨디셔너 체류 시간 conditioner dwell time CMP
컨포멀 증착 conformal deposition CMP
컨포멀리티 conformality FIL
컬러 라우터 Color router CIS
컬러 필터 Color filter CF OPT DSP
컬러 필터 배열 Color filter array CFA CIS
컬러 PSNR Color PSNR CPSNR CIS
컬러체커 ColorChecker CIS
컬럼 라인 정착 Column line settling CIS
컬럼 병렬 ADC Column-parallel ADC CIS
컴팩트 모델 Compact model BSIM TCD
컴퓨테이셔널 포토그래피 Computational photography CIS
컴퓨트 익스프레스 링크 Compute Express Link CXL MEM
컴퓨팅 인 메모리 Computing-in-memory CIM MEM
컷 마스크와 블록 마스크 Cut mask / block mask LIT
케미컬 필터 chemical filter INF
켈러-시먼스 근사 Keller–Simmons approximation FIL
켈빈 소스 Kelvin source PWR
켈빈 접속 Kelvin (force/sense) connection TST
켜짐 전류 On-current Ion TCD
코노스코프 Conoscope DSP
코로나 모델 corona model PLS
코마 Coma OPT
코발트 cobalt (Co) Co CMP
코번-윈터스 실험 Coburn–Winters experiment PLS
코사인 법칙 cosine law FIL
코시 식 Cauchy equation OPT
코어 Core PKG
코어 다이 Core (DRAM) die MEM
코어 다이 / 베이스 다이 Core die / base die PKG
코어 손실 core loss PWR
코어–셸 구조 Core–shell QD DSP
코일 중성점 coil neutral point PLS
코츠 보정 Coates Correction CIS
코터·현상기 Coater/developer (track) IND
코핀-맨슨 법칙 Coffin–Manson law PWR
코핀–맨슨 식 Coffin–Manson relation PKG
코히런트 샘플링 Coherent sampling TST
콘택 플러그 contact plug CMP
콜로이달 실리카 colloidal silica CMP
콜릿 Collet PKG
쿨롱 로그 Coulomb logarithm lnΛ PLS
쿼드 베이어 Quad Bayer / Tetracell CIS
쿼터 이미지 센서 Quanta Image Sensor QIS CIS
퀵 덤프 린스 Quick Dump Rinse QDR CMP
퀸–매클러스키 방법 Quine–McCluskey method DSN
큐 타임 queue time Q-time INF
크기 효과 Size effect DIG PRC FIL DSP
크누센 구 Knudsen sphere FIL
크누센 수 Knudsen number Kn FIL PLS
크누센 수송 Knudsen transport ETC
크누센 확산 Knudsen diffusion D_K FIL
크레이터링 Cratering PKG
크로니히–페니 모형 Kronig–Penney model KP DEV
크로마 서브샘플링 Chroma subsampling 4:2:0 DSP
크로스바 Crossbar SOC
크로스토크 Crosstalk DIG CIS
크로스포인트 어레이 Cross-point array MEM
크로스해치 cross-hatch pattern CMP
큰 입자 수 Large Particle Count LPC CMP INF
클라우지우스-클라페이롱 식 Clausius-Clapeyron relation FIL
클라우징 투과 확률 Clausing transmission probability FIL
클러스터 결함 Cluster defect CIS
클러스터 이온 Cluster / molecular ion DOP
클러스터 인자 clustering factor α CMP
클러스터 장비 cluster tool FIL
클럭 게이팅 Clock gating ICG DIG SOC
클럭 게이팅 셀 Integrated Clock Gating cell ICG DSN SOC
클럭 도메인 건너기 Clock Domain Crossing CDC DIG
클럭 도메인 교차 Clock domain crossing CDC SOC
클럭 스큐 Clock skew DIG DSN SOC
클럭 지연 Clock latency (insertion delay) DSN
클럭 트리 합성 Clock Tree Synthesis CTS DIG DSN SOC
클럭·데이터 복원 Clock and data recovery CDR SOC
클로즈 페이지 Close-page MEM
클로즈드 루프 AF Closed-loop AF CIS
클록 유도 전하 Clock-Induced Charge CIC CIS
클록 피드스루 Clock feedthrough ANA
클리어 도즈 Dose to clear E₀ LIT
클린룸 Cleanroom PRC
클립 연결 clip bonding PWR
키 사다리 Key ladder SOC
키에시그 무늬 Kiessig fringes FIL
키홀 keyhole CMP
킥백 전압 Kickback (feedthrough) voltage ΔV_p DSP
킬러 결함 Killer defect PRC CMP INF
킬러 결함 밀도 killer defect density D₀ PWR
킬레이트제 chelating agent CMP

ㅌ

타깃 이용률 target utilization FIL
타깃 피독 target poisoning FIL
타운센드 (단위) townsend Td PLS
타운센드 암흑 방전 Townsend dark discharge PLS
타이밍 생성기 Timing generator TG TST
타이밍 컨트롤러 Timing controller TCON DSP
타이코 TAIKO process PKG
타일 기반 지연 렌더링 Tile-based deferred rendering TBDR SOC
타일링 Tiling (blocking) SOC
타입 I 정렬 Type-I (straddling) alignment DEV
타입 II 정렬 Type-II (staggered) alignment DEV
타입 III 정렬 Type-III (broken-gap) alignment DEV
탄도 수송 Ballistic transport DEV TCD
탄력성 Elasticity ε CIS
탄성 충돌 elastic collision PLS
탄성 충돌 에너지 전달 비 elastic energy transfer fraction 2m/M PLS
탄소 공동 주입 Carbon co-implant DOP
탄소 도핑 버퍼 carbon-doped buffer PWR
탈기 outgassing FIL
탈리 detachment PLS
탈보호 반응 Deprotection LIT
탈수산화 dehydroxylation FIL
탈착 desorption FIL
탈출 원뿔 Escape cone θc DEV
탈포화 감지 desaturation detection DESAT PWR
탐침 스캔 probe scan PLS
태그·인덱스·오프셋 Tag / Index / Offset SOC
태양 전지 Solar cell PV DEV
탠덤 OLED Tandem OLED DSP
탭 셀 Tap cell DSN
터널 자기 저항비 Tunnel magnetoresistance ratio TMR MEM
터널 FET Tunnel FET TFET DEV
터치다운 Touchdown TD YLD TST
턴오프 에너지 turn-off energy E_off PWR
턴오프 오버슈트 turn-off voltage overshoot PWR
턴온 에너지 turn-on energy E_on PWR
턴온 지연 turn-on delay t_d(on) PWR
턴온·턴오프 저항 분리 split gate resistors PWR
테스트 루프 Test loop FAL
테스트 벡터 Test vector TST
테스트 불가 폴트 Untestable / redundant fault TST
테스트 비용 Cost of test COT TST
테스트 셀 원가 Test cell cost rate TST
테스트 소자 그룹 Test element group TEG YLD
테스트 소켓 Test socket PKG TST
테스트 시간 단축 Test time reduction TTR TST
테스트 장비 Automatic test equipment ATE IND
테스트 포인트 Test point insertion TST
테스트 흐름 Test flow TST
테스트벤치 Testbench DIG DSN
테이퍼 Taper ETC
테이프 익스팬드 Tape expansion PKG
테이프아웃 Tape-out DSN SOC IND
텍스처 MTF Texture MTF CIS
텐서곱 격자 Tensor-product grid TCD
텔레센트릭 Telecentric OPT
토네이도 그림 Tornado chart TST
토네이도 차트 Tornado chart CIS
토로이달 플라즈마 소스 toroidal plasma source PLS
토템폴 PFC totem-pole PFC PWR
톤 매핑 Tone mapping SOC CIS DSP
톤 반전 Tone inversion LIT
톰슨 분포 Thompson distribution FIL
통계적 공정 관리 Statistical process control SPC PRC YLD INF
통합 계측 Integrated Metrology IM CMP
통합 세정기 integrated cleaner CMP
통합 셰이더 Unified shader SOC
투과 전자 현미경 Transmission electron microscope TEM FAL
투과 확률 Transmission probability (Clausing factor) K ETC
투과율의 에너지 정규화 Power transmittance T OPT
투명 Transparent DIG
투명 컬렉터 transparent collector PWR
투사 거리 Projected range Rp PRC DOP TCD
투사 거리 표준편차 Straggle ΔRp PRC
투사 산포 Projected straggle ΔRp TCD
투영 광학계 Projection optics LIT
투영 비정 Projected range Rp CIS
투영 효과 Projection effect FAL
튜닝 커패시터 tune capacitor C_tune PLS
트라이메틸알루미늄 trimethylaluminum TMA FIL
트랙 Track DSN LIT
트랙션 인버터 traction inverter PWR
트랜스컨덕턴스 Transconductance gm DEV
트랜스퍼 몰딩 Transfer molding PKG
트랜지스터 밀도 Transistor density (MTr/mm²) DSN
트랩 준위 Trap level Et DEV
트레이닝 Link training MEM
트레이드 비율 Trade ratio MEM
트레이드오프 팔각형 Analog design octagon ANA
트렌치 게이트 trench gate PWR
트렌치 충전 deep trench refill PWR
트렌치 MOSFET Trench MOSFET (UMOS) UMOS DEV PWR
트리거 전압 / 유지 전압 Trigger / holding voltage V_t1 / V_h DEV
트리밍 Trimming ANA
트림 Trim LIT
트위스팅 Twisting ETC
특성 온저항 Specific on-resistance R_on,sp DEV
특성 요인도 Ishikawa (fishbone) diagram FAL
특성 임피던스 characteristic impedance Z₀ PLS
특성 평가 Characterization TST
특성 행렬 Characteristic matrix OPT
특성 X선 Characteristic X-ray FAL
특수 가스 Specialty gases IND
특수가스 specialty gas, electronic specialty gas INF
티어링 Screen tearing DSP
티켓 락 Ticket lock SOC
틸레 계수 Thiele modulus φ FIL
틸트·트위스트 Tilt / twist DOP

ㅍ

파과 breakthrough INF
파괴적 읽기 Destructive read SOC
파노 인자 Fano factor F CIS
파라메트릭 맵 Parametric map YLD
파라메트릭 손실 Parametric loss YLD
파라메트릭 테스트 Parametric test TST
파라미터 추출 Parameter extraction TCD
파레토 Pareto chart YLD
파레토 전선 Pareto front CIS
파레토 차트 Pareto chart CMP
파레토 프런티어 Pareto frontier TST
파면 수차 Wavefront aberration W, OPD OPT CIS
파브리–페로 공진기 Fabry–Pérot resonator FP CIS
파셴 곡선 Paschen curve FIL
파셴 법칙 Paschen's law PLS
파셴 점근선 Paschen left asymptote PLS
파셴 최소 Paschen minimum V_min PLS
파수 Wavenumber / wave vector k OPT
파우더 생성 powder formation PLS
파운드리 Foundry IND
파울러-노드하임 터널링 Fowler–Nordheim tunneling FN PLS MEM
파울러-노르트하임 터널링 Fowler-Nordheim tunneling FN FIL
파울러–노드하임 터널링 Fowler–Nordheim tunneling FN DEV
파워 게이팅 Power gating DSN
파워 사이클링 power cycling PC PWR
파워 스펙트럼 밀도 Power spectral density PSD ANA
파이널 테스트 Final test FT PKG TST
파이로제닉 산화 pyrogenic oxidation FIL
파이프라인 Pipeline SOC
파이프라인 ADC Pipelined ADC ANA
파인 메탈 마스크 Fine metal mask FMM DSP
파일업 Pile-up CIS
파장 Wavelength λ CIS
파장판 Waveplate (retarder) λ/4, λ/2 OPT
파티클 Particle YLD
파티클 모니터 웨이퍼 Particle monitor wafer YLD
파형 포맷 Waveform format TST
팝콘 균열 Popcorn cracking PKG
팝콘 현상 Popcorn cracking FAL
패널 레벨 패키지 Panel Level Package PLP PKG
패널 셀프 리프레시 Panel self refresh PSR DSP
패드 두께 센서 pad thickness sensor CMP
패드 마모 프로파일 pad wear profile CMP
패드 반발 pad rebound CMP
패드 브레이크인 pad break-in CMP
패드 산화막·패드 질화막 pad oxide / pad nitride CMP
패드 잔해 pad debris CMP
패드 절삭률 Pad Cut Rate PCR CMP
패드 컨디셔닝 pad conditioning, dressing CMP
패러데이 암부 Faraday dark space PLS
패러데이 차폐 Faraday shield PLS
패러데이 컵 Faraday cup DOP
패브리–페로 공진기 Fabry–Perot etalon FP OPT
패스 소자 Pass device ANA
패스 전압 Pass voltage Vpass MEM
패스 트랜지스터 Pass transistor DIG
패시베이션 passivation PWR
패시브 매트릭스 Passive matrix PM DSP
패싯 Facet ETC FIL
패키지 기판 Package substrate IND
패키지 선택 Package selection PKG
패키지 후 리페어 Post-package repair PPR MEM
패키징 Packaging PKG IND
패키징 레벨 Packaging hierarchy PKG
패키징 수율 Packaging yield IND
패턴 메모리 Pattern / vector memory TST
패턴 밀도 Pattern density ρ PRC CMP
패턴 붕괴 Pattern collapse PRC LIT CMP
패턴 의존 지연 Data-dependent delay DIG
패턴 전사 Pattern transfer LIT
팬 법칙 fan affinity laws INF
팬 필터 유닛 Fan Filter Unit FFU INF
팬아웃 패키징 Fan-out wafer-level packaging FOWLP IND
팬인 Fan-in DIG
팬인 / 팬아웃 Fan-in / fan-out PKG
팬케이크 렌즈 Pancake lens DSP
팹 Fab (fabrication facility) PRC IND
팹 인프라 fab infrastructure, facility INF
팹라이트 Fab-lite IND
팹리스 Fabless IND
퍼니스 산화 레시피 furnace oxidation recipe FIL
퍼비언스 Perveance K DOP
퍼지 purge FIL
퍼콜레이션 모형 Percolation model DEV
퍼플 플레이그 Purple plague PKG
펀치스루 Punch-through PT DEV FIL TCD PWR
펀치스루 전압 punch-through voltage Vpt PWR
펀치스루 IGBT punch-through IGBT PT PWR
펀치홀 Punch-hole cutout DSP
펄스 동기 주파수 프로파일 pulse-synchronized frequency profile PLS
펄스 래치 Pulsed latch DIG
펄스 열 임피던스 pulsed thermal impedance Zth(tp,D) PWR
펄스 주파수 pulse frequency f PLS
펄스 폭 변조 Pulse width modulation PWM CIS PWR
펄스 플라스마 Pulsed plasma ETC
펄스 플라즈마 pulsed plasma PLS
펄스 DC 바이어스 pulsed-DC bias PLS
펌프다운 pumpdown FIL
펌핑 속도 pumping speed S FIL
페닝 이온화 Penning ionization PLS
페로브스카이트 발광체 Perovskite emitter PeLED DSP
페르마 원리 Fermat's principle OPT
페르미 가속 Fermi acceleration PLS
페르미 전위 Fermi potential φF DEV
페르미 준위 Fermi level EF DEV TCD
페르미 준위 고정 Fermi-level pinning S DEV
페르미-디랙 통계 Fermi–Dirac statistics FD TCD
페르미–디랙 분포 Fermi–Dirac distribution f(E) DEV
페이저 Phasor OPT
페이지 Page MEM
페이지 정책 Page policy (open / closed) SOC MEM
페츠발 합 Petzval Sum CIS
페클레 수 Péclet number Pe FIL CMP
펙 모델 Peck model PWR
펜스 Memory fence / barrier DMB SOC
펜타일 PenTile (RGBG) RGBG DSP
펜톤 반응 Fenton reaction CMP
펠그롬 관계 Pelgrom's law TCD
펠그롬 법칙 Pelgrom's law ANA
펠리클 Pellicle LIT YLD
편광 Polarization LIT OPT DSP
편광 이미지 센서 Polarization image sensor OPT
편광도 · 선형 편광도 Degree of (linear) polarization DoP, DoLP OPT
편석 Segregation m TCD
편석 계수 Segregation coefficient k₀ PRC FIL
평가 Evaluate DIG
평균 고장 간격 Mean time between failures MTBF SOC INF
평균 고장 시간 Mean Time To Failure MTTF DEV FAL
평균 메모리 접근 시간 Average memory access time AMAT SOC MEM
평균 복구 시간 Mean Time To Repair MTTR INF
평균 속력 mean speed FIL
평균 시스 전압 time-averaged sheath voltage V̄ PLS
평균 의견 점수 Mean opinion score MOS CIS
평균 자유 행로 mean free path MFP ETC FIL PLS
평균 전류 모드 제어 average current-mode control PWR
평균 전자 에너지 mean electron energy ⟨ε⟩ PLS
평균 판매가 Average selling price ASP IND
평균 화면 레벨 Average picture level APL DSP
평면 배치 Floorplanning SOC
평면 DMOS planar double-diffused MOS VDMOS PWR
평면 DMOSFET planar DMOSFET PWR
평면도 Floorplan SOC
평면파 Plane wave OPT
평탄 띠 전압 Flat-band voltage VFB TCD
평탄대 전압 Flat-band voltage VFB DEV
평탄도 Planarity FAL
평탄화 길이 Planarization length PL PRC CMP
평탄화 효율 planarization efficiency PE CMP
평탄화도 Degree of Planarization DP CMP
평행 연마 Parallel lapping FAL
평행 평면 접합 parallel-plane junction PWR
평형 용해도 equilibrium oxidant solubility C* FIL
평형 풀웰 Equilibrium full well capacity EFWC CIS
평활화 smoothing CMP
폐루프 이득 Closed-loop gain ACL ANA
포논 Phonon DEV
포물선 속도 상수 parabolic rate constant B FIL
포물선 영역 parabolic regime FIL
포밍 가스 어닐 forming gas anneal FGA FIL
포비티드 렌더링 Foveated rendering DSP
포스터 열 회로 Foster thermal network PWR
포아송 방정식 Poisson equation TCD
포아송 수율 모델 Poisson yield model Y = e^(−AD) DSP PWR
포아송 식 Poisson equation PLS
포아송-볼츠만 식 Poisson–Boltzmann equation PLS
포워딩 Forwarding / bypassing SOC
포인팅 벡터 Poynting vector S OPT
포착률 Capture rate YLD
포커스 링 Focus ring / edge ring ETC PLS YLD
포토다이오드 Photodiode PD DEV
포토레지스트 Photoresist PR LIT IND
포토리소그래피 Photolithography DSP
포토마스크 Photomask (reticle) IND
포톤 에미션 현미경 Photon emission microscopy PEM · EMMI FAL
포화 (BJT) Saturation (BJT) DEV
포화 노출량 saturation exposure FIL
포화 드레인 전압 Saturation drain voltage VDsat DEV
포화 섬 밀도 saturation island density N_sat FIL
포화 영역 Saturation region DEV DIG ANA
포화 용량 Saturation capacity μ_e.sat CIS
포화 전류 Saturation current I₀ (Js) DEV
포화 전선 saturation front FIL
포화 전압 Saturation voltage VDSsat ANA PWR
폭발 하한계 Lower Explosive Limit LEL INF
폴더블 Foldable display DSP
폴드백 foldback PLS
폴디드 광학계 Folded optics (periscope) CIS
폴디드 비트라인 Folded bitline MEM
폴디드 캐스코드 Folded cascode ANA
폴리 개방 연마 Poly Open Polish POP CMP
폴리 공핍 Poly-Si gate depletion DEV
폴리 레이어 Poly (PO) PO DSN
폴리머 절연막 Polymer dielectric (PI / PBO) PKG
폴리실리콘 CMP polysilicon CMP CMP
폴리우레탄 polyurethane PU CMP
폴리이미드 기판 Polyimide substrate PI DSP
폴리타입 polytype PWR
폴링 Polling SOC
폴트 Fault TST
폴트 시뮬레이션 Fault simulation TST
폴트 축약 Fault collapsing TST
폴트 커버리지 Fault coverage FC TST
표류 속도 drift velocity v_d PLS
표류-확산 근사 drift-diffusion approximation PLS
표면 결합 에너지 surface binding energy U_s FIL PLS
표면 도너 surface donor state PWR
표면 반응 속도 상수 surface reaction rate constant k_s FIL
표면 부하율 surface overflow rate Q/A INF
표면 온도 Skin temperature SOC
표면 요철 격자 Surface relief grating SRG DSP
표면 재결합 속도 Surface recombination velocity S DEV CIS
표면 전위 Surface potential ψs DEV
표면 피복률 surface coverage θ PLS
표면 확산 surface diffusion D FIL
표면파 파장 surface-wave wavelength λ PLS
표면파 플라즈마 surface-wave plasma PLS
표본 검사 Sampling test TST
표준 광원 Standard illuminant D65 / A CIS
표준 셀 Standard cell DIG DSN SOC IND
표준편차 (스트래글) Straggle ΔRp DOP
표피 깊이 skin depth δ PLS CMP
표피 효과 (CCP) skin effect in CCP PLS
푸르베 도표 Pourbaix diagram CMP
푸리에 모드법 Fourier modal method FMM OPT
푸리에 차수 절단 Fourier harmonic truncation OPT
푸아송 모델 Poisson yield model YLD
푸아송 방정식 Poisson's equation DEV
푸아송 수율 모델 Poisson yield model TST PWR
푸앵카레 구 Poincaré sphere OPT
푸팅 Footing LIT
풀 브리지 full bridge (H-bridge) PWR
풀 테스트 Wire pull test PKG
풀-프렌켈 전도 Poole-Frenkel emission PF FIL
풀다운 네트워크 Pull-down network PDN DIG
풀다운 망 Pull-down network SOC
풀롭 멱법칙 Fulop power law PWR
풀업 네트워크 Pull-up network PUN DIG
풀업 비율 Pull-up ratio γ DIG MEM
풀웰 용량 Full well capacity FWC CIS
풋팅 Footing ETC
프라운호퍼 회절 Fraunhofer (far-field) diffraction OPT
프랑크-반 데어 메르베 성장 Frank–van der Merwe growth FM FIL
프랑크-콘돈 원리 Franck–Condon principle PLS
프런트엔드 설계 Front-end design DSN
프레넬 렌즈 Fresnel lens DSP
프레넬 반사 Fresnel reflection DSP
프레넬 방정식 Fresnel equations OPT
프레넬 수 Fresnel number N_F OPT CIS
프레넬 회절 Fresnel (near-field) diffraction OPT
프레스턴 계수 Preston coefficient k_p CMP
프레스턴 식 Preston equation PRC CMP
프레임률 Frame rate fps CIS DSP
프렌켈 쌍 Frenkel pair DOP
프로그래머블 이득 증폭기 Programmable gain amplifier PGA ANA
프로그램 디스터브 Program disturb MEM
프로그램/소거 사이클 Program/erase cycle P/E MEM
프로버 Prober TST
프로브 마크 Probe mark PKG
프로브 지연 차이 probe skew Δt PWR
프로브 카드 Probe card YLD FAL PKG TST
프로브 클리닝 Probe cleaning TST
프로세싱 니어 메모리 Processing-near-memory PNM MEM
프로세싱 인 메모리 Processing-in-memory PIM MEM
프로파일 Etch profile ETC
프리스 공식 Friis formula DEV
프리즘 시트 Prism (brightness enhancement) film BEF DSP
프리차지 Precharge DIG
프리차지 명령 Precharge PRE MEM
프리컨디셔닝 Preconditioning PKG
프리쿨링 free cooling (water-side economizer) INF
프리틸트 각 Pretilt angle DSP
프리페처 Prefetcher SOC
프리페치 Prefetch n-prefetch MEM
프리필 Prefill SOC
프리휠 다이오드 freewheeling diode FWD PWR
플라스마 Plasma ETC
플라스마 도핑 Plasma doping PLAD DOP
플라스마 메니스커스 Plasma meniscus DOP
플라스마 손상 Plasma-induced damage PID ETC
플라스마 애싱 plasma ashing CMP
플라즈마 Plasma PRC PLS
플라즈마 다이싱 Plasma dicing PKG
플라즈마 도핑 plasma doping PLAD PLS
플라즈마 부하 임피던스 plasma load impedance Z_L PLS
플라즈마 식각 Plasma etch MEM
플라즈마 원자층 증착 plasma-enhanced ALD PEALD FIL PLS
플라즈마 유전율 plasma permittivity ε_p PLS
플라즈마 전위 plasma potential V_p PLS
플라즈마 직렬 공진 plasma series resonance PSR PLS
플라즈마 파라미터 plasma parameter N_D PLS
플라즈마 화학 기상 증착 plasma-enhanced CVD PECVD FIL
플라즈마 활성화 Plasma activation PKG
플라즈마 FIB Plasma FIB PFIB FAL
플라즈마의 세 조건 plasma criteria PLS
플람 식 Flamm formula PLS
플랑크 궤적 Planckian locus CIS
플래시 램프 어닐 flash lamp anneal FLA FIL
플래시 변환 계층 Flash translation layer FTL MEM
플래시 어닐 Flash lamp anneal FLA DOP
플래시 ADC Flash ADC ANA
플러그 리세스 plug recess CMP
플러드 건 Flood gun PFG DOP
플럭스 Flux PKG
플럭스 균형 flux balance PLS
플레어 Flare LIT OPT
플렉서블 디스플레이 Flexible display DSP
플로어플랜 Floorplan DSN
플로케–블로흐 주기 경계 Floquet–Bloch periodic boundary OPT
플로팅 가드 링 floating field limiting ring FLR PWR
플로팅 게이트 Floating gate FG MEM
플로팅 디퓨전 Floating diffusion FD CIS
플록 형성 flocculation INF
플리커 Flicker LFM CIS DSP
플리커 측정 Flicker measurement DSP
플립칩 Flip chip FC PKG IND
플립플롭 Flip-flop FF SOC
플릿 Flit (flow control unit) SOC
피네스 Finesse F OPT
피닝 전압 Pinning voltage V_pin CIS
피독 모드 poisoned mode FIL
피드백 계수 Feedback factor β ANA
피드포워드·피드백 feedforward / feedback CMP
피라냐 용액 Sulfuric–Peroxide Mixture SPM CMP
피복 비대칭 coverage asymmetry FIL
피브릴 fibril, burr CMP
피사계 심도 Depth of field DOF CIS
피사계 심도 · 초점 심도 Depth of field / depth of focus DOF OPT
피셔 정확 검정 Fisher's exact test YLD FAL
피어슨 IV 분포 Pearson IV distribution DOP TCD
피치 Pitch DIG LIT PKG
피치 워크 Pitch walk PRC
피치 워킹 Pitch walking LIT
피크 역회복 전류 peak reverse recovery current I_rrm PWR
피크 전력 peak power P_peak PLS
피크 중첩 Peak overlap FAL
피크 휘도 Peak luminance DSP
피크 f_T 전류 밀도 Peak-fT current density DEV
피킹 Peaking ANA
피해자 발광 Induced (victim) emission FAL
픽셀 개구 MTF Pixel aperture MTF OPT
픽셀 광학 스택 Pixel optical stack OPT
픽셀 클록 Pixel clock DSP
픽셀 피치 Pixel pitch p OPT CIS
픽업 Die pick-up PKG
픽의 법칙 Fick's laws PRC DOP TCD
픽처 그룹 Group of Pictures GOP SOC
핀 교환 Pin swapping DIG
핀 라벨 Pin label DSN
핀 일렉트로닉스 Pin electronics PE TST
핀드 포토다이오드 Pinned photodiode PPD CIS
핀치오프 Pinch-off DEV ANA FIL
핀치오프 전압 pinch-off voltage V_po PWR
핀펫 FinFET FinFET TCD IND
핀핀 베이스판 pin-fin baseplate PWR
핀핀 직접 냉각 pin-fin direct cooling PWR
필 팩터 Fill factor FF OPT CIS
필드 산화막 높이 Field Oxide Height FOH CMP
필드 스톱 Field stop FS DEV PWR
필드 안 시그니처 Intra-field signature YLD
필드 플레이트 field plate FP PWR
필드 한쪽 무늬 Field-side signature YLD
필러 Filler PKG
필믹 톤 커브 Filmic tone curve CIS
필수 조건 hard constraint INF
필터 정격 filter rating INF
핑거 Finger DSN

ㅎ

하드 빈 Hard bin TST
하드 빈과 소프트 빈 Hard bin / soft bin YLD
하드 스위칭 hard switching PWR
하드마스크 Hardmask HM LIT ETC
하드웨어 기술 언어 Hardware Description Language HDL DIG DSN
하드웨어 프레임 동기 Hardware frame synchronization CIS
하류 플라즈마 downstream plasma PLS
하마커 상수 Hamaker constant A CMP
하부 패드 subpad CMP
하이드로플레이닝 hydroplaning CMP
하이브리드 모델 hybrid model PLS
하이브리드 본딩 Hybrid bonding HB PRC CMP PKG MEM CIS IND
하이브리드-π 모델 Hybrid-π model DEV
하이퍼스케일러 Hyperscaler IND
하프 브리지 half bridge PWR
하프 브리지 모듈 half-bridge module PWR
하프 피치 Half-pitch HP LIT
하프 VDD 프리차지 Half-VDD precharge VBLP MEM
학습 곡선 Learning curve IND
학습 주기 Cycle of learning YLD
한계 등급 Limiting Magnitude CIS
한계감축비용 곡선 Marginal Abatement Cost Curve MACC INF
한외여과 Ultrafiltration UF INF
한쪽 계단 접합 one-sided abrupt junction PWR
한쪽 치우침 Half / gradient YLD
할로 Halo (pocket) DOP
할로 주입 Halo / pocket implant PRC TCD
할로우 캐소드 효과 hollow cathode effect PLS
합법화 Legalization DSN
합성 심도 Synthetic depth of field CIS
합성곱 신경망 Convolutional neural network CNN YLD
합성곱 층 Convolution layer SOC
합의 곱 Product of Sums POS DIG
합의항 Consensus term DIG
합체 coalescence FIL
핫 캐리어 발광 Hot carrier luminescence FAL
핫 캐리어 열화 Hot-carrier degradation HCI TCD
핫 캐리어 주입 Hot-Carrier Injection HCI DEV FAL
핫 픽셀 Hot pixel CIS
핫스팟 Hotspot SOC CMP
핫스폿 Hotspot LIT
핫스폿 검사 Hotspot inspection YLD
항복 Breakdown V_BR DEV
항복 전계 breakdown field E_BD FIL
해리 Dissociation ETC
해리 부착 dissociative attachment PLS
해리 속도 계수 dissociation rate coefficient k_diss PLS
해리 여기 dissociative excitation PLS
해리성 부착 dissociative attachment PLS
해리성 이온화 dissociative ionization PLS
해리율 degree of dissociation PLS
해머헤드 Hammerhead DSN LIT
해밍 코드 Hamming code MEM
해상 한계 이하 보조 패턴 Sub-resolution assist feature SRAF LIT
해상도 Resolution LIT
해상도 규격 Display resolution FHD·4K DSP
해상도 향상 기술 Resolution enhancement technique RET LIT
해외직접생산규칙 Foreign direct product rule FDPR IND
해저드 Hazard DIG SOC
핵 저지 Nuclear stopping Sₙ DOP
핵생성 장벽 nucleation barrier ΔG* FIL
핵생성 지연 nucleation delay FIL
핸드셰이크 Valid/ready handshake SOC
핸들러 Handler PKG TST
행 노이즈 Temporal row noise CIS
행 버퍼 Row buffer SOC
행 적중·행 충돌 Row hit / Row conflict SOC
행렬 시스 matrix sheath PLS
행운 전자 모형 Lucky-electron model DEV
허시 수 Hersey number H CMP
허위 피크 Spurious (system) peak FAL
헌팅 Hunting CIS
헤드룸 Headroom ANA
헤르츠 접촉 Hertzian contact CMP
헤르츠-크누센 식 Hertz–Knudsen equation FIL
헤르츠-크누센 플럭스 Hertz–Knudsen flux FIL
헤어핀 공진 탐침 hairpin resonance probe PLS
헤이즈 haze CMP YLD INF
헤인스–쇼클리 실험 Haynes–Shockley experiment DEV
헤일로 Halo artifact CIS DSP
헬리콘 소스 helicon source PLS
현물·고정 거래 가격 Spot vs contract price IND
현물가격 Spot price MEM
현상 Development LIT
현수선 분포 catenary carrier profile PWR
현열 sensible heat INF
현장 반품 Field return / RMA RMA TST
형광 Fluorescence DSP
형식 검증 Formal verification DSN
호 스크래치 Arc scratch YLD
호스트–도펀트 Host–dopant system DSP
호이겐스–프레넬 원리 Huygens–Fresnel principle OPT
호텔링 T² Hotelling T-squared T² PLS
혼동 행렬 Confusion matrix YLD
혼상 이온교환 mixed bed ion exchange MB INF
혼성 전위 mixed potential E_corr CMP
혼잡도 Routing congestion DSN
혼합 모드 시뮬레이션 Mixed-mode simulation TCD
홀 파라미터 Hall parameter ω_c/ν PLS
홀 효과 Hall effect R_H DEV
홀드 시간 Hold time DSN
홀드오프 hold-off CMP
홀드형 구동 Sample-and-hold DSP
홀수 사이클 Odd cycle DSN
화각 Field of view FOV OPT
화소 Pixel px DSP
화소 결함 Pixel defect DSP
화소 밀도 Pixels per inch PPI DSP
화소 정의막 Pixel definition layer PDL DSP
화소 크기 Pixel size YLD
화소 피치 Pixel pitch DSP
화이트 밸런스 White balance WB SOC
화학 기계적 연마 Chemical mechanical planarization CMP PRC
화학 기상 증착 Chemical vapor deposition CVD PRC FIL MEM
화학 율속 chemically (reaction) limited regime CMP
화학 증폭형 레지스트 Chemically amplified resist CAR PRC LIT
화학 흡착 chemisorption FIL
화학–기계 시너지 chemo-mechanical synergy CMP
화학적 기계 연마 Chemical mechanical planarization CMP IND INF
화학적 기계적 연마 Chemical mechanical polishing CMP MEM
화학적 기계적 평탄화 Chemical Mechanical Planarization (Polishing) CMP CMP
화학적 치아 chemical tooth CMP
화학증폭 레지스트 Chemically Amplified Resist CAR INF
확률 가열 stochastic heating PLS
확률 결함 Stochastic defect PRC
확률적 결함 Stochastic defect LIT
확산 Diffusion DEV
확산 계수 Diffusion coefficient D DEV PLS DOP
확산 고유모드 diffusion eigenmode PLS
확산 공유 Diffusion sharing DSN
확산 길이 Diffusion length L = √(Dτ) DEV PRC FIL PLS CIS
확산 방지막 diffusion barrier FIL
확산 배리어 diffusion barrier (Ta/TaN) CMP
확산 손실 시간 diffusion loss time τ PLS
확산 솔더링 transient liquid phase soldering TLP PWR
확산 시트 Diffuser sheet DSP
확산 암전류 Diffusion dark current CIS
확산 용량 Diffusion capacitance Cd DEV
확산 재방출 diffuse re-emission FIL
확산 전류 diffusion current PWR
확산 제한 Diffusion-limited ETC
확산 커패시턴스 Diffusion (junction) capacitance Cd DIG
확정 Commit (retire) SOC
환각 Hallucination CIS
환기 횟수 Air Changes per Hour ACH INF
환산 전기장 reduced electric field E/N PLS
환형 조명 Annular illumination LIT
활동 계수 Activity factor α SOC
활동도 Activity factor α DIG
활동률 Activity factor α DSN
활성 금속 브레이징 기판 active metal brazing AMB PWR
활성 다이아몬드 working diamonds CMP
활성 면적 active area PWR
활성 연마입자 active abrasive CMP
활성 영역 Active / Oxide Definition OD DSN
활성화 Activation PRC DOP TCD
활성화 에너지 Activation energy Ea CMP FAL TST CIS
회로 수정 Circuit edit FAL
회로 Q network Q Q PLS
회복 시험 recovery test INF
회생 제동 regenerative braking PWR
회수 reclaim INF
회수율 recovery r INF
회전 평균 rotational averaging FIL
회전수 비 head-to-platen speed ratio CMP
회절 Diffraction LIT
회절 격자 Diffraction grating OPT
회절 기반 오버레이 Diffraction-based overlay DBO LIT
회절 대비 Diffraction contrast FAL
회절 스파이크 Diffraction spikes (starburst) OPT
회절 차수 Diffraction order m LIT OPT
회절 한계 Diffraction-limited OPT CIS
회절 한계 조리개 Diffraction-limited aperture DLA CIS
횡방향 도핑 변화 variation of lateral doping VLD PWR
횡방향 오버플로 커패시터 Lateral overflow integration capacitor LOFIC CIS
횡배율 Transverse magnification m OPT
효율 efficiency η PWR
효율 곡선 efficiency curve PWR
효율 드룹 Efficiency droop DSP
효율 롤오프 Efficiency roll-off DSP
효율 저하 Efficiency droop droop DEV
후경화 Post-mold cure PMC PKG
후공정 Back-end (assembly and test) PKG IND
후기 잔광 late afterglow PLS
후막 CMP thick-film CMP CMP
후면 분석 Backside analysis FAL
후면 전력 공급 Backside power delivery network BSPDN PRC CMP
후면 조사 Backside illumination BSI OPT
후방 산란 전자 Backscattered electron BSE YLD FAL
훅업 hook-up INF
휘도 Luminance cd/m² CIS DSP
휘발성 Volatile MEM
휘발성 생성물 Volatile etch product ETC
휨 Warpage PKG
흄드 실리카 fumed silica CMP
흑삽입 Black frame insertion BFI DSP
흑체 궤적 Planckian locus DSP
흑화 · 차광 처리 Blackening / light baffling OPT
흔들림 PSF Motion Blur PSF CIS
흡수 계수 Absorption coefficient α DEV CIS
흡수 계수 · 흡수 깊이 Absorption coefficient / depth α, 1/α OPT
흡수 깊이 Absorption depth 1/α CIS
흡수 매질 경계면 Interface with absorbing medium OPT
흡수 전력 absorbed power P_abs PLS
흡수체 Absorber LIT
흡착 원자 adatom FIL
흡착형 저압 용기 Sub-atmospheric Delivery System SDS INF
희석 dilution PLS
희석 불산 Diluted HF DHF CMP INF
희소 행렬 Sparse matrix TCD
히스테리시스 hysteresis PLS
히스토그램 테스트 Histogram (code density) test TST
히트 스프레더 Integrated Heat Spreader IHS PKG
히트펌프 heat pump INF
힌지 Hinge DSP
힐 균열 heel crack PWR

T

√t 외삽 square-root-t extrapolation PWR
T-top T-topping INF
t₅₀ time above peak minus 50 °C t50 FIL
T90 응답 시간 T90 response time T90 INF
T형 인버터 T-type inverter PWR
TAP Test access port TAP TST
TAP 제어기 TAP controller TST
TC-NCF Thermocompression with Non-Conductive Film TC-NCF PKG MEM
TCAD Technology CAD TCAD DEV PRC
TDBI Test during burn-in TDBI TST
TDDB time-dependent dielectric breakdown TDDB FIL FAL PWR
Tₑ 오버슈트 electron temperature overshoot PLS
TEOS tetraethyl orthosilicate TEOS FIL
tFAW Four activate window tFAW MEM
TFSF 광원 Total-field/scattered-field source TFSF OPT
THB Temperature Humidity Bias THB PKG
THD Total harmonic distortion THD ANA TST
TIVA Thermally induced voltage alteration TIVA FAL
TLC Triple-level cell TLC MEM
TMAH tetramethylammonium hydroxide TMAH CMP INF
TN 모드 Twisted nematic TN DSP
TPP Total processing performance TPP IND
TR-BDF2 Trapezoidal rule / BDF2 TR-BDF2 TCD
tRAS Row active time tRAS MEM
tRC Row cycle time tRC MEM
tRCD RAS-to-CAS delay tRCD MEM
tREFI Refresh interval tREFI MEM
tRFC Refresh cycle time tRFC MEM
TRIM TRIM / Deallocate TRIM MEM
tRP Row precharge time tRP MEM
tRRD Row-to-row delay tRRD MEM
TrustZone Arm TrustZone SOC
TSV Through Silicon Via TSV PKG
TSV 노출 TSV reveal CMP
TTL Total track length TTL CIS
TVS 다이오드 Transient Voltage Suppressor TVS DEV
TZASC TrustZone Address Space Controller TZASC SOC

A

A 가중 A-weighting dB(A) INF
A-스캔 · C-스캔 A-scan / C-scan FAL
A-PHY MIPI A-PHY A-PHY CIS
A* 탐색 A* search DSN
AB180 AB180 educational process ANA
ABCD 행렬 Ray transfer matrix ABCD OPT
ABF Ajinomoto Build-up Film ABF PKG
ABF 필름 Ajinomoto build-up film ABF IND
ABR 이론 Allen–Boyd–Reynolds theory ABR PLS
AC 해석 AC (small-signal) analysis .ac ANA
AF 행정 AF stroke CIS
AI 가속기 AI accelerator IND
Airy 디스크 Airy disk CIS
ALD 온도 창 ALD window FIL
ALE 창 ALE window ETC
ANSI 명암비 ANSI contrast (checkerboard) DSP
AOI 게이트 AND-OR-Invert gate AOI DIG DSN
ARDE Aspect-ratio dependent etching ARDE ETC
ATE Automatic Test Equipment ATE PKG
ATPG Automatic test pattern generation ATPG TST
AXI Advanced eXtensible Interface AXI SOC

B

B10 수명 B10 life B10 PWR
BCH 부호 Bose–Chaudhuri–Hocquenghem code BCH MEM
BEOL Back End Of Line BEOL PRC FIL
BER Bit error rate BER TST
BF16 Brain floating point BF16 DIG
BF₂ 주입 BF₂ implant BF₂ PRC
BG 테이프 Backgrinding tape PKG
BGA Ball Grid Array BGA PKG
BISR Built-in self-repair BISR TST
BIST Built-in self-test BIST TST
Brent–Kung 덧셈기 Brent–Kung adder BK DIG
BT.2020 ITU-R BT.2020 Rec.2020 DSP
BTB Branch Target Buffer BTB SOC
BTI bias temperature instability BTI PWR
BTI 회복 BTI recovery DEV
BTS bias-temperature stress BTS FIL
BV 온도 계수 breakdown voltage temperature coefficient PWR
BYPASS BYPASS instruction TST

C

C-레이트 C-rate SOC
C-PHY MIPI C-PHY C-PHY CIS
C-V 측정 capacitance-voltage measurement C-V FIL
C-V 특성 Capacitance–voltage characteristic C-V TCD
C–V 측정 (1/C² 플롯) C–V profiling DEV
C4 Controlled Collapse Chip Connection C4 PKG
CAS 지연 CAS latency CL MEM
CCD 방정식 CCD Equation CIS
CCI Camera Control Interface CCI CIS
CCM 노이즈 이득 CCM noise gain CIS
CD 균일도 CD uniformity CDU LIT
CD 바이어스 CD bias ETC
CD-SEM Critical-dimension SEM CD-SEM PRC LIT
CEC 효율 CEC weighted efficiency η_CEC PWR
CESL Contact Etch Stop Layer CESL PRC FIL
CFET Complementary FET CFET DEV PRC
CFL 조건 Courant–Friedrichs–Lewy condition CFL OPT
CFₓ 래디컬 fluorocarbon radical CFₓ PLS
CHIPS법 CHIPS and Science Act IND
CIE 1976 UCS Uniform chromaticity scale u′v′ DSP
CIE 표준 관찰자 CIE standard observer 2°·10° DSP
CIEDE2000 색차 CIEDE2000 color difference ΔE00 CIS
CIELAB CIE 1976 L*a*b* color space Lab CIS DSP
CIPS08 모델 CIPS08 (Bayerer) lifetime model PWR
Cl 잔류 chlorine residue FIL
clk-to-Q 지연 Clock-to-Q delay t_cq DIG
CLLC 컨버터 CLLC resonant converter CLLC PWR
CMOS Complementary MOS CMOS DEV SOC
CMOS 언더 어레이 CMOS under array CuA / PUC MEM
CMOS 인버터 CMOS inverter DEV DIG
CMP 헤드 압력 구역 CMP carrier pressure zones YLD
CMP 후 세정 post-CMP clean CMP
COG·COF Chip on glass / chip on film DSP
COMSOL 반도체 모듈 COMSOL Semiconductor Module TCD
cos⁴ 법칙 Cosine-fourth law OPT
Courant 조건 Courant–Friedrichs–Lewy condition CFL CIS
CoWoS Chip on Wafer on Substrate CoWoS PKG MEM IND
CPI Cycles Per Instruction CPI SOC
CPIQ Camera Perceptual Image Quality (IEEE 1858) CPIQ CIS
Cpk Process capability index Cpk TST
CPP Contacted Poly Pitch CPP DSN
CPPR Common Path Pessimism Removal CPPR DSN
CRA 곡선 CRA curve OPT
CRA 미스매치 CRA mismatch OPT
CRn Concentration ratio CR3 IND
CSP Chip Scale Package CSP PKG
CTAT Complementary to absolute temperature CTAT ANA
CTLE Continuous-time linear equalizer CTLE CIS
Cu 돌출 Cu protrusion CMP
Cu 리세스 Cu recess (dishing) CIS
CVD 다이아몬드 코팅 CVD diamond-coated conditioner CMP
CVD 성분 parasitic CVD component FIL

D

D 래치 D latch DIG
D 알고리즘 D-algorithm TST
D 플립플롭 D flip-flop DFF DSN
D-PHY MIPI D-PHY D-PHY CIS
D-PHY·C-PHY MIPI physical layers DSP
D65 CIE standard illuminant D65 D65 DSP
DAF Die Attach Film DAF PKG
Darcy–Weisbach 식 Darcy–Weisbach equation INF
dBFS Decibels relative to full scale dBFS ANA
DBG Dicing Before Grinding DBG PKG
DC 급속 충전기 DC fast charger PWR
DC 디밍 DC (amplitude) dimming DSP
DC 링크 커패시터 DC-link capacitor PWR
DCI-P3 Digital Cinema Initiatives P3 P3 DSP
Deal–Grove 모델 Deal–Grove model PRC
DEF Design Exchange Format DEF DSN
DEVSIM DEVSIM TCD
DFM Design for Manufacturability DFM DSN
DFT Design for testability DFT TST
DisplayPort DisplayPort DP DSP
DLVO 이론 Derjaguin–Landau–Verwey–Overbeek theory DLVO CMP
DMOS Double-diffused MOS DMOS DEV
DNL Differential nonlinearity DNL ANA TST
DOL-HDR Digital overlap HDR DOL CIS
DPAT Dynamic PAT DPAT TST
DPPM Defective parts per million DPPM TST
DRAM Dynamic random-access memory DRAM MEM IND
DRAM 타이밍 변수 tRCD / CL / tRP / tRAS SOC
DRC Design Rule Check DRC DSN
DRUPS Diesel Rotary UPS DRUPS INF
DSC Display Stream Compression DSC DSP
Dt diffusivity-time product Dt FIL
DTCO Design-Technology Co-Optimization DTCO DSN
DUT Device under test DUT TST
Duv Delta uv Duv DSP
DUV 액침 노광 DUV immersion lithography ArFi IND
DVFS Dynamic Voltage and Frequency Scaling DVFS DSN

E

E 모델 E-model PWR
E 모드 E mode (capacitive mode) PLS
E-H 모드 전환 E–H mode transition PLS
E-H 전환 E-to-H transition PLS
E×B 표류 E×B drift v_E FIL PLS
EBP 식 Emslie–Bonner–Peck equation EBP CMP
ECO Engineering Change Order ECO DSN
ED 윈도 Exposure-defocus window LIT
EDA Electronic Design Automation EDA DSN
Edge-Loc Edge-local YLD
EDID Extended display identification data EDID DSP
eDP Embedded DisplayPort eDP DSP
EDS Electrical Die Sorting (wafer sort) EDS PKG
EFEM Equipment Front End Module EFEM INF
EFO Electronic Flame-Off EFO PKG
eFuse Electrical fuse / One-time programmable OTP SOC
ELVDD·ELVSS OLED supply voltages DSP
EMC Epoxy Molding Compound EMC PKG
EMIB Embedded Multi-die Interconnect Bridge EMIB PKG
EMVA 1288 EMVA 1288 standard EMVA CIS
ENEPIG Electroless Nickel Electroless Palladium Immersion Gold ENEPIG PKG
ENIG Electroless Nickel Immersion Gold ENIG PKG
ENOB Effective number of bits ENOB TST
EOR 결함 End-of-range defect EOR DOP
EOTF Electro-optical transfer function EOTF DSP
EPE Edge Placement Error EPE DSN
EPE 예산 EPE budget LIT
ERC Electrical Rule Check ERC DSN
ESD 설계 창 ESD design window DEV
ESR 영점 ESR zero ANA
ESS energy storage system ESS PWR
EUV Extreme ultraviolet lithography EUV IND
EWMA exponentially weighted moving average EWMA FIL INF
EXTEST EXTEST instruction TST

F

F-넘버 F-number F/#, N OPT CIS
F/C 비 F/C ratio ETC
FAB Free Air Ball FAB PKG
FAB-E educational reference fab INF
FCBGA Flip Chip Ball Grid Array FCBGA PKG
FD 비선형성 Floating diffusion nonlinearity CIS
FDTD Finite-difference time-domain FDTD CIS
FEOL Front End Of Line FEOL PRC FIL
FEOL·MEOL·BEOL Front / Middle / Back End Of Line CMP
FFS 모드 Fringe-field switching FFS DSP
FinFET Fin field-effect transistor FinFET DEV PRC
FinFET 유효 폭 Effective width of FinFET W_eff DSN
FIR 필터 Finite Impulse Response filter FIR SOC
FIT Failures in time FIT DEV DIG FAL PKG TST MEM CIS PWR
Fmax Maximum operating frequency Fmax TST
FMCS Facility Monitoring and Control System FMCS INF
FMEA Failure mode and effects analysis FMEA FAL
FO4 Fanout-of-4 delay FO4 DSN
FO4 지연 Fanout-of-4 delay FO4 DIG SOC
foot 트랜지스터 Foot transistor DIG
FOUP Front Opening Unified Pod FOUP PRC INF
FOWLP Fan-Out Wafer Level Package FOWLP PKG
FR-FCFS 스케줄링 First-ready first-come first-served FR-FCFS SOC
FRC Frame rate control FRC DSP
FTIR Fourier-transform infrared spectroscopy FTIR FIL

G

Ga₂O₃ gallium oxide PWR
GAA 나노시트 Gate-all-around nanosheet GAA PRC
GaN HEMT GaN high-electron-mobility transistor HEMT PWR
GaN-on-Si GaN-on-silicon PWR
GDBN Good die in bad neighborhood GDBN TST
GDDR Graphics DDR GDDR MEM
GDSII Graphic Design System II GDS DSN
GGNMOS Grounded-Gate NMOS GGNMOS DEV
GHG 프로토콜 Greenhouse Gas Protocol INF
gm/ID Transconductance efficiency gm/ID ANA
gm/ID 설계표 gm/ID lookup table ANA
GOA Gate driver on array GOA·GIP DSP
Gordon 모델 Gordon exposure model FIL
GST Ge₂Sb₂Te₅ GST MEM
GTO gate turn-off thyristor GTO PWR

H

H 모드 H mode (inductive mode) PLS
H-트리 H-tree DSN
H3TRB high humidity high temperature reverse bias H3TRB PWR
HAADF High-angle annular dark field HAADF FAL
HAST Highly Accelerated Stress Test HAST PKG
HBM High Bandwidth Memory HBM PKG TST
HBM4 HBM4 MEM
HDMI High-Definition Multimedia Interface HDMI DSP
HDR High dynamic range HDR DSP
HDR 메타데이터 HDR metadata MaxCLL DSP
He 후면 냉각 backside helium cooling PLS
HEPA·ULPA 필터 High Efficiency Particulate Air / Ultra Low Penetration Air filter HEPA/ULPA INF
HfO2 결정상 HfO2 crystal phases FIL
HHI Herfindahl-Hirschman index HHI IND
High-k 메탈 게이트 High-k metal gate HKMG PRC
High-k 절연막 High-k dielectric HfO₂ DEV
High-NA EUV High numerical aperture EUV 0.55 NA PRC LIT IND
HiP Head-in-Pillow HiP PKG
HiPIMS high-power impulse magnetron sputtering HiPIMS PLS
HLG Hybrid log-gamma HLG DSP
hold 시간 Hold time t_hold DIG
hold 조건 Hold constraint DIG
HOMO Highest occupied molecular orbital HOMO DSP
HPWL Half-Perimeter Wire Length HPWL DSN
HS 모드 High-speed mode HS CIS
HTOL High Temperature Operating Life HTOL PKG
HTRB high-temperature reverse bias HTRB PWR
HTS Line length (line_length_pck) HTS CIS
HVDC high-voltage direct current transmission HVDC PWR
HVST High-voltage stress test HVST TST

I

I/O 일관성 I/O coherency SOC
I²C Inter-Integrated Circuit I²C SOC
ICC 프로파일 ICC color profile ICC DSP
ICP-MS Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry ICP-MS INF
IDDQ Quiescent supply current IDDQ FAL TST
IDLH Immediately Dangerous to Life or Health IDLH INF
IDMS Information Display Measurements Standard IDMS DSP
IE 효과 injection enhancement effect IE PWR
IEDF 폭 IEDF width ΔE PLS
IEEE 1500 Core test wrapper TST
IEEE 1838 3D test access TST
IGBT Insulated-gate bipolar transistor IGBT DEV PWR
IGCT integrated gate-commutated thyristor IGCT PWR
IJTAG IEEE 1687 internal JTAG IJTAG TST
ILT Inverse Lithography Technology ILT DSN
InGaAs 검출기 InGaAs detector InGaAs FAL
INL Integral nonlinearity INL ANA TST
IOMMU Input-Output Memory Management Unit IOMMU SOC
IP 블록 IP block IP SOC
IP 코어 Intellectual Property core IP SOC
IPS 모드 In-plane switching IPS DSP
IR 강하 IR drop DIG SOC
IR 드롭 IR drop DSN DSP
IR 컷 필터 IR-cut filter IRCF OPT
ISO 14644-1 ISO 14644-1:2015 INF
ISO 감도 ISO sensitivity / gain ISO CIS
ISO 등급 ISO Class N INF
ISSG 래디컬 산화 in-situ steam generation ISSG FIL
ITIC 곡선 Information Technology Industry Council curve ITIC INF
ITO Indium tin oxide ITO DSP
ΔIDDQ Delta IDDQ TST

J

JBS 다이오드 junction barrier Schottky diode JBS PWR
JEDEC JEDEC Solid State Technology Association JEDEC PKG
JFET 영역 JFET region DEV PWR
JMAK 모델 Johnson–Mehl–Avrami–Kolmogorov model JMAK FIL
JTE 도즈 JTE dose PWR

K

K 형광 K-Fluorescence CIS
K-그루브 K-groove (concentric groove) CMP
k₁ 계수 k₁ factor k₁ PRC
k₁ 인자 k1 factor k₁ LIT
keeper Keeper DIG
KGD Known Good Die KGD PKG TST
Kogge–Stone 덧셈기 Kogge–Stone adder KS DIG
kT/C 잡음 kT/C noise ANA
kTC 노이즈 kTC (reset) noise CIS
KV 캐시 Key-value cache KV SOC MEM
KV 캐시 오프로드 KV cache offloading MEM

L

L2P 매핑 테이블 Logical-to-physical table L2P MEM
L형 정합 회로 L-network PLS
LADA Laser-assisted device alteration LADA FAL
LC 발진기 LC oscillator ANA
LCC line-commutated converter LCC PWR
LCC HVDC line-commutated converter HVDC LCC PWR
LCoS Liquid crystal on silicon LCoS DSP
LDC low-voltage DC-DC converter LDC PWR
LDD Lightly Doped Drain LDD PRC
LDO 레귤레이터 Low-dropout regulator LDO ANA
LDPC 부호 Low-density parity-check code LDPC MEM
Lee 알고리즘 Lee maze routing DSN
LEF Library Exchange Format LEF DSN
LELE Litho-Etch-Litho-Etch LELE PRC LIT
LESIT 모델 LESIT lifetime model PWR
LFSR Linear feedback shift register LFSR TST
Liberty 파일 Liberty (.lib) .lib DSN
LIVA Light induced voltage alteration LIVA FAL
LLC 공진 컨버터 LLC resonant converter PWR
LOCOS Local Oxidation of Silicon LOCOS PRC FIL
LP 모드 Low-power mode LP CIS
LPCAMM Low-power compression attached memory module LPCAMM2 MEM
LPDDR Low-power DDR LPDDR MEM
LRU 교체 Least recently used replacement LRU MEM
LTPO Low-temperature polycrystalline oxide LTPO DSP
LUMO Lowest unoccupied molecular orbital LUMO DSP
LVDS Low-voltage differential signaling LVDS DSP
LVS Layout Versus Schematic LVS DSN

M

M/M/c 대기열 M/M/c queue INF
March 알고리즘 March test TST
MBIST Memory BIST MBIST TST
MESI 프로토콜 MESI protocol MESI SOC
MINIMOS MINIMOS TCD
MIPI CSI-2 Camera Serial Interface 2 CSI-2 CIS
MIPI DSI Display Serial Interface DSI DSP
MISR Multiple-input signature register MISR TST
ML 높이 · 곡률 Microlens height / radius of curvature OPT
ML 시프트 Microlens shift OPT
ML 파동광학 한계 Wave-optics limit of microlenses OPT
MLC Multi-level cell MLC MEM
Mo/Si 다층막 Mo/Si multilayer LIT
MOESI 프로토콜 MOESI protocol MOESI SOC
MOL Middle Of Line MOL PRC
MOS 커패시터 MOS capacitor MOS DEV
MOSFET Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor MOSFET DEV DIG SOC
MPRT Moving picture response time MPRT DSP
MPS 다이오드 merged PiN Schottky diode MPS PWR
MPW Multi-Project Wafer MPW DSN
MR-MUF Mass Reflow Molded Underfill MR-MUF PKG MEM
MRC Mask Rule Check MRC DSN
MSAP Modified Semi-Additive Process mSAP PKG
MTBF Mean time between failures MTBF DIG
MTF50 MTF50 OPT CIS

N

N-검출 N-detect TST
N+/P+ 주입 레이어 NPLUS / PPLUS implant NP/PP DSN
N+1 이중화 N+1 redundancy INF
N−1 N−1 criterion INF
NAND 플래시 NAND flash NAND MEM IND
NBTI Negative Bias Temperature Instability NBTI DIG
NEGF Non-equilibrium Green's function NEGF TCD
NILS Normalized Image Log-Slope NILS PRC
NIR 감도 향상 NIR sensitivity enhancement NIR OPT
NLDM Non-Linear Delay Model NLDM DSN
NO 어닐 nitric oxide post-oxidation anneal PWR
non-blocking 대입 Non-blocking assignment (<=) DSN
NOR 플래시 NOR flash NOR MEM
NPT / PT 설계 Non-punch-through / punch-through design NPT, PT DEV
NRE Non-Recurring Engineering NRE DSN SOC IND
NRZ Non-return-to-zero NRZ / PAM2 MEM
NTSC 비 NTSC area ratio DSP
NVMe Non-Volatile Memory Express NVMe MEM

O

OAI 게이트 OR-AND-Invert gate OAI DIG
OASIS Open Artwork System Interchange Standard OASIS DSN
OBIC Optical beam induced current OBIC FAL
OBIRCH Optical beam induced resistance change OBIRCH FAL
OCV On-Chip Variation OCV DSN
ODF 공정 One drop filling ODF DSP
OETF Opto-electronic transfer function OETF DSP
ON 적층 Oxide/nitride stack ON stack ETC FIL
OPC Optical Proximity Correction OPC DSN
OSAT Outsourced Semiconductor Assembly and Test OSAT PKG IND
OTA Operational transconductance amplifier OTA ANA

P

p 차폐층 p-shield PWR
P-F 간격 P-F interval INF
p-GaN 게이트 p-GaN gate PWR
P-state Performance state / OPP SOC
P/T 비 precision-to-tolerance ratio P/T FIL
p⁺ 다이버터 p+ diverter PWR
p값 p-value YLD
PAM3 3-level pulse amplitude modulation PAM3 MEM
PAM4 4-level pulse amplitude modulation PAM4 MEM
PAT Part average testing PAT TST
PathFinder Negotiated congestion routing DSN
Pb 중심 Pb center FIL
PCB 임베디드 패키징 PCB-embedded packaging PWR
PDK Process Design Kit PDK DSN
PEB Post-exposure bake PEB PRC
Peck 모델 Peck model PKG
PECVD Plasma-enhanced CVD PECVD PRC DSP
Pelgrom 법칙 Pelgrom's law DIG
PFA perfluoroalkoxy alkane PFA INF
PID 제어 Proportional–Integral–Derivative control PID INF
PiN 다이오드 PiN diode PWR
pin 포토다이오드 p-i-n photodiode pin DEV
PISCES PISCES (2D device simulator) PISCES TCD
pn 접합 pn junction DEV
PN 접합 PN junction CIS
PNP 전류 이득 PNP common-base current gain α_pnp PWR
Pollack의 법칙 Pollack's rule SOC
PoP Package on Package PoP PKG
POU 스크러버 point-of-use abatement INF
PPA Power, Performance, Area PPA DSN SOC
PQ Perceptual quantizer (ST 2084) PQ DSP
PRBS Pseudo-random binary sequence PRBS TST
PTAT Proportional to absolute temperature PTAT ANA
PUE power usage effectiveness PUE PWR
PV 밴드 Process-variation band PV band DSN LIT
PVA 브러시 PVA brush CMP
PVT Process, voltage, temperature PVT ANA
PVT 코너 PVT corner PVT DIG DSN
PWM 디밍 PWM dimming PWM DSP
PWM 화소 구동 PWM emission control EM DSP

Q

Q 인자 Q factor (λN/p) Q OPT
QD 필름 Quantum dot enhancement film QDEF DSP
QD-OLED Quantum dot OLED QD-OLED DSP
QE 리플 QE ripple OPT
QFN Quad Flat No-lead QFN PKG
QLC Quad-level cell QLC MEM
Quine–McCluskey 방법 Quine–McCluskey method QM DIG

R

RAW 이미지 RAW image RAW CIS
RC 지연 RC delay τ = RC PRC DSP
RCA 세정 RCA clean SC1/SC2 PRC CMP
RCCB 필터 Red-Clear-Clear-Blue CFA RCCB CIS
RCWA Rigorous coupled-wave analysis RCWA CIS
RDL 퍼스트 RDL-first (chip-last) PKG
RF 보상 탐침 RF-compensated probe PLS
RGB 스트라이프 RGB stripe DSP
RGB–XYZ 변환 행렬 RGB-to-XYZ matrix M DSP
RISC-V RISC-V SOC IND
Rk·Rvk core roughness depth / reduced valley depth Rk/Rvk CMP
RLS 트레이드오프 Resolution-LER-sensitivity trade-off RLS LIT
rms Root mean square rms ANA
Rpk reduced peak height Rpk CMP
RTA Rapid thermal anneal RTA DOP
RTL Register-Transfer Level RTL DSN
RTS 노이즈 Random telegraph signal noise RTS CIS
Rule 07 Rule 07 CIS
RYYCy 필터 Red-Yellow-Yellow-Cyan CFA RYYCy CIS

S

S 파라미터 Scattering parameters S DEV
s 편광 · p 편광 s- and p-polarization (TE/TM) TE, TM OPT
SAC305 Sn-3.0Ag-0.5Cu SAC305 PKG
SADP / SAQP Self-aligned double / quadruple patterning PRC
SAP Semi-Additive Process SAP PKG
SAR ADC Successive-approximation ADC SAR ANA CIS
SC 등가 저항 Switched-capacitor resistor ANA
SC 적분기 Switched-capacitor integrator ANA
SC1 Standard Clean 1 (APM) SC1 CMP INF
SC2 Standard Clean 2 (HPM) SC2 CMP
SCADA Supervisory Control and Data Acquisition SCADA INF
Schreier 성능 지수 Schreier figure of merit FoM_S CIS
Schreier FoM Schreier figure of merit FoMS ANA
Scope 1 Scope 1 (direct emissions) INF
Scope 2 Scope 2 (purchased electricity) INF
Scope 3 Scope 3 (value chain) INF
SCR 보호 소자 Silicon-Controlled Rectifier SCR DEV
SDC Synopsys Design Constraints SDC DSN TST
SECDED Single Error Correction, Double Error Detection SECDED DIG MEM
SEED System-Efficient ESD Design SEED DEV
SEMI E84 Enhanced Carrier Handoff Parallel I/O Interface E84 INF
SEMI F21 Classification of Airborne Molecular Contaminant Levels in Clean Environments INF
SEMI F47 Specification for Semiconductor Processing Equipment Voltage Sag Immunity INF
SEMI F63 Guide for Ultrapure Water Used in Semiconductor Processing INF
SEMI S2 Environmental, Health, and Safety Guideline for Semiconductor Manufacturing Equipment S2 INF
SEMU SEMI mura unit SEMU DSP
Sentaurus Synopsys Sentaurus TCAD TCD
SerDes Serializer/Deserializer SerDes SOC CIS
setup 시간 Setup time t_setup DIG
setup 조건 Setup constraint DIG
setup·hold 시간 Setup / hold time SOC
SFDR Spurious-free dynamic range SFDR ANA
shades-of-gray Shades of gray SoG CIS
Si 소모 비율 silicon consumption ratio FIL
SIB Segment insertion bit SIB TST
SiC MOSFET silicon carbide MOSFET PWR
SiGe HBT SiGe heterojunction bipolar transistor SiGe DEV
SiH₃ 전구체 SiH₃ film precursor PLS
Silvaco TCAD Silvaco Victory / ATLAS TCD
SIMS Secondary ion mass spectrometry SIMS DOP
SIMT Single Instruction, Multiple Threads SIMT SOC
SiP System in Package SiP PKG
SLC Single-level cell SLC MEM
SLC 캐시 SLC cache MEM
SLVS-EC Scalable Low Voltage Signaling with Embedded Clock SLVS-EC CIS
SMIA TV 왜곡 SMIA TV distortion CIS
SMT Surface Mount Technology SMT PKG
SNDR Signal-to-noise-and-distortion ratio SINAD ANA
SNR Signal-to-noise ratio SNR TST
SNR 딥 SNR dip CIS
SNR10 SNR10 CIS
SOI Silicon On Insulator SOI PRC
SOR 완화법 successive over-relaxation SOR PWR
SPC statistical process control SPC FIL
SPEF Standard Parasitic Exchange Format SPEF DSN
SPICE Simulation Program with IC Emphasis SPICE ANA
Sq root-mean-square height Sq CMP
SQNR Signal-to-quantization-noise ratio SQNR ANA
SR 래치 Set-Reset latch SR DIG
SRAF Sub-Resolution Assist Feature SRAF DSN PRC
SRAM Static random-access memory SRAM MEM
sRGB Standard RGB sRGB DSP
SRH 재결합 Shockley–Read–Hall recombination SRH DEV TCD
SRIM / TRIM Stopping and Range of Ions in Matter SRIM TCD
SRP Spreading resistance profiling SRP DOP
SSD Solid-state drive SSD IND
STDF Standard test data format STDF TST
STI Shallow Trench Isolation STI PRC
STI 갭필 STI gap fill FIL
STI 라이너 산화 STI liner oxidation FIL
Stoney 식 Stoney equation PRC
SUPREM Stanford University PRocess Engineering Models SUPREM TCD

U

UBM Under Bump Metallurgy UBM PKG
UCIe Universal Chiplet Interconnect Express UCIe PKG
Up-the-ramp 샘플링 Up-the-ramp sampling UTR CIS
UPF Unified Power Format UPF DSN
UPW 트레인 treatment train INF
UV185 185 nm UV oxidation INF

V

V 수 Normalized frequency V CIS
V_CE(sat)–E_off 트레이드오프 VCE(sat)–Eoff trade-off PWR
V-I 탐침 V-I probe PLS
V2G vehicle-to-grid V2G PWR
VA 모드 Vertical alignment VA DSP
VC 곡선 Vibration Criterion curves VC INF
Vmin Minimum operating voltage Vmin TST
VOC 배기 solvent / VOC exhaust VOC INF
Vora–Trussell 품질 계수 Vora–Trussell measure ν CIS
VRM voltage regulator module VRM PWR
VSB 묘화 Variable Shaped Beam writing VSB DSN
Vt 분포 Threshold voltage distribution MEM
Vth 롤오프 Threshold voltage roll-off DEV
VTS Frame length (frame_length_lines) VTS CIS
VUV 손상 vacuum ultraviolet damage VUV PLS
ΔVBE Delta VBE ΔVBE ANA

W

W 핵생성층 tungsten nucleation layer FIL
W2W / D2W Wafer-to-Wafer / Die-to-Wafer PKG
Walden 성능 지수 Walden figure of merit FoM_W CIS
Walden FoM Walden figure of merit FoMW ANA
Weibull 분포 Weibull distribution β, η INF
WLCSP Wafer Level Chip Scale Package WLCSP PKG
WLTP Worldwide harmonized Light vehicles Test Procedure WLTP PWR
WM-811K WM-811K dataset YLD
WNS · TNS Worst / Total Negative Slack WNS DSN
WSTS World Semiconductor Trade Statistics WSTS IND

X

X 값 Unknown value X DIG
X 마스킹 X-masking TST
X선 광전자 분광 X-ray photoelectron spectroscopy XPS FAL
X선 반사율 X-ray reflectivity XRR FIL
X선 투과 검사 X-ray radiography FAL
X선 형광 X-ray fluorescence XRF FIL
X선 CT X-ray computed tomography CT FAL PKG
XY 라우팅 Dimension-order (XY) routing SOC

Y

y 파라미터 Admittance parameters Y DEV
Yee 격자 Yee lattice CIS

Z

z 점수 z-score YLD
ZSL 링 버퍼 Zero shutter lag ring buffer ZSL CIS

#

+1 모델 +1 model DOP TCD
−3 dB 대역폭 −3 dB bandwidth f−3dB ANA
1/4 파장 반사 방지막 Quarter-wave AR coating QWOT OPT
1/4 파장 변환 quarter-wave transformer PLS
1/4 파장판 Quarter-wave plate QWP DSP
1/E 모델 1/E model PWR
1/f 잡음 Flicker noise DEV ANA
1/f 코너 주파수 Flicker corner frequency f_c DEV ANA
10배 법칙 Rule of ten TST
18 % 회색 18 % gray CIS
1차 타운센드 계수 first Townsend ionization coefficient α PLS
1c DRAM 1c (6th-generation 10 nm-class) DRAM 1c LIT
1T1C 셀 One-transistor one-capacitor cell 1T1C MEM
1T1C DRAM 셀 One-transistor one-capacitor cell 1T1C SOC
1σ 균일도 one-sigma uniformity 1σ % FIL
2:4 구조적 희소성 2:4 structured sparsity SOC
2.5D 2.5D integration PKG
2.5D 패키징 2.5D packaging IND
2.5D·3D 집적 2.5D / 3D integration CMP
2×2 OCL 2×2 on-chip lens OPT
24/7 무탄소 전력 24/7 Carbon-Free Energy CFE INF
2단 밀러 OTA Two-stage Miller OTA ANA
2단 싱글 슬로프 ADC Two-step single-slope ADC CIS
2단 턴오프 two-level turn-off PWR
2비트 포화 카운터 2-bit saturating counter SOC
2의 보수 Two's complement DIG
2차 보호 Secondary (local) protection DEV
2차 전자 방출 계수 secondary electron emission coefficient γ PLS
2차 전자 번짐 Secondary electron blur LIT
2차 전자 수율 secondary electron yield γ_se FIL
2차 전자 증배 secondary-electron multiplication G PLS
2차 항복 second breakdown PWR
2차 항복 전류 Second breakdown current I_t2 DEV
2차원 상태 밀도 Two-dimensional density of states DEV
2차원 전자 가스 Two-dimensional electron gas 2DEG DEV PWR
2차원 푸리에 변환 2D Fourier transform FT OPT
2항 근사 two-term approximation PLS
2N 이중화 2N redundancy INF
2T1C 화소 2T1C pixel circuit 2T1C DSP
3:2 압축기 3:2 compressor DIG
3고조파 주입 third-harmonic injection THI PWR
3단계 구리 CMP P1 bulk / P2 clear / P3 barrier P1–P3 CMP
3레벨 NPC 인버터 neutral-point-clamped inverter NPC PWR
3사분면 도통 third-quadrant conduction PWR
3상 2레벨 인버터 three-phase two-level inverter PWR
3상 능동 정류기 three-phase active rectifier PWR
3체 재결합 three-body recombination PLS
3A Auto exposure / focus / white balance AE·AF·AWB CIS
3C 미스 3C cache misses 3C MEM
3C 미스 모델 Compulsory / Capacity / Conflict misses 3C SOC
3D 적층 3D stacking IND
3D LUT 3D look-up table 3D LUT DSP
3D NAND 3D NAND / V-NAND V-NAND MEM IND
3D NAND 스테어케이스 staircase (3D NAND) CMP
3D TCAD 3D TCAD TCD
3T 픽셀 3-transistor pixel 3T APS CIS
4:2 압축기 4:2 compressor DIG
45° 열 퍼짐 45-degree heat spreading PWR
45° 퍼짐 근사 45-degree spreading rule PWR
48 V 배전 48 V power distribution PWR
49점 측정 49-point map FIL CMP
4단자 측정 Four-point (Kelvin) measurement FAL
4단자 탐침법 Four-point probe 4PP DEV
4사분면 운전 four-quadrant operation PWR
4점 탐침 Four-point probe 4PP DOP
4탐침법 four-point probe FIL
4f 시스템 4f system OPT
4F² 4F² cell area MEM
4H-SiC 4H silicon carbide PWR
4T 능동 픽셀 4T active pixel sensor 4T APS CIS
5 Why Five whys YLD FAL
5트랜지스터 OTA Five-transistor OTA ANA
60:40 규칙 60:40 rule (GaAs/AlGaAs) DEV
6스텝 운전 six-step operation PWR
6F² 6F² cell area MEM
6F² 셀 6F² cell LIT
6T 셀 6-transistor SRAM cell 6T MEM
6T SRAM 셀 Six-transistor SRAM cell 6T DIG SOC
80 PLUS 80 PLUS certification PWR
800 V 플랫폼 800 V platform PWR
8대 공정 Eight major processes PRC
8D Eight disciplines 8D FAL
8T SRAM 셀 8T SRAM cell 8T DIG
ωτᵢ omega tau_i ωτᵢ PLS