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TestBook에 나오는 용어 162개입니다. 번호는 장·절이고, 누르면 그 절의 해당 문장으로 갑니다. 굵은 번호는 용어를 설명하는 곳입니다. 정의는 용어집에 있습니다.
162개
ㄱ
- 가드밴드 Guardband 01·1, 10·5, 10·6, 10·7, 10·8, 10·9, 12·4, 12·6, 14·2, 14·9, 15·2, 15·6
- 가속 계수 Acceleration factor AF 01·1, 07·5, 07·6, 07·9, 11·4, 11·7, 11·9, 15·2
- 게이지 R&R Gauge repeatability & reproducibility GR&R 10·5, 10·9
- 결함 Defect 01·1, 01·2, 01·3, 01·4, 01·5, 01·6, 01·7, 01·8, 01·9, 02·2
- 결함 밀도 Defect density D₀ 01·1, 01·9, 05·2, 07·5, 07·8, 11·1, 11·3, 11·5, 12·1, 13·7, 15·4
- 결함 수준 Defect level DL 01·5, 01·7, 05·6, 05·10, 11·5, 13·6, 15·2
- 결함 커버리지 Defect coverage 01·5, 01·9, 05·1, 05·6, 13·6, 13·9, 15·2, 15·6
- 결합 폴트 Coupling fault CF 07·5, 07·6, 07·9
- 경계 스캔 Boundary scan 02·1, 08·1, 08·2, 08·4, 08·6, 08·7, 08·10
- 경로 민감화 Path sensitization 05·4, 05·5
- 경로 지연 폴트 Path delay fault 01·2, 05·8
- 고장 Failure 01·1, 01·2, 01·3, 01·4, 01·7, 05·1, 05·4, 05·7, 06·7, 06·9
- 고착 폴트 Stuck-at fault SAF 01·2, 01·5, 01·9, 04·6, 05·1, 05·2, 05·3, 05·6, 05·8, 05·9
- 과잉 불량 Overkill / yield loss 01·6, 02·7, 04·7, 06·7, 10·6, 10·7, 10·8, 10·9, 11·8, 15·1
ㄴ
ㄷ
ㄹ
- 로드보드 Load board / DUT board 02·1, 02·7, 03·1, 03·7, 03·8, 04·5, 07·1, 09·6, 09·8, 09·9
- 로직 BIST Logic BIST LBIST 05·7, 07·1, 07·2, 07·4, 07·9, 11·6, 14·6, 14·9
- 론치 온 시프트 Launch-on-shift LOS 01·2, 05·8, 06·5, 07·1
- 론치 온 캡처 Launch-on-capture LOC 01·2, 05·8, 05·10, 06·5, 06·9, 07·1, 12·1
- 루프백 Loopback 02·1, 02·3, 02·10, 03·7, 08·10, 09·7, 09·8, 09·9, 13·8, 15·6
ㅁ
ㅂ
ㅅ
- 삼각 맞바꿈 Quality–yield–cost trade-off 01·1, 15·1
- 상각 Amortization 02·9, 03·8, 11·5, 13·1, 13·2, 13·3, 13·8, 13·9, 15·6
- 셀 인식 폴트 Cell-aware fault CA 01·2, 01·5, 05·1, 05·9, 05·10
- 셔무 플롯 Shmoo plot 01·1, 10·2
- 소프트 빈 Soft bin 02·8, 12·1, 12·2, 12·3, 12·5, 12·9, 14·7
- 속도 등급 Speed binning 01·3, 01·9, 10·4, 10·8, 12·1, 12·4, 12·9, 13·7, 14·1, 14·9
- 수율 Yield Y 01·1, 01·3, 01·4, 01·5, 01·6, 01·8, 01·9, 02·8, 03·5, 03·7
- 스캔 압축 Scan compression 02·1, 05·5, 06·6, 07·1, 08·7, 13·7
- 스캔 진단 Scan diagnosis 02·2, 06, 14·5, 14·8
- 스캔 체인 Scan chain 06·2, 06·3, 06·9, 07·2, 07·3, 07·4, 11·6, 12·1, 12·5
- 스캔 테스트 시간 Scan test time 06·4
- 스캔 플립플롭 Scan flip-flop 06·2
- 스크럽 자국 Scrub mark 03
- 스트로브 Strobe 02·3, 02·4, 02·5, 10·3
- 시그니처 별칭 Signature aliasing 07
- 시스템 레벨 테스트 System-level test SLT 01·3, 01·5, 01·9, 02·9, 05·10, 13·2, 13·3, 13·8, 13·9, 14·1
- 시프트 전력 Shift power 06·7
- 시프트와 캡처 Shift and capture 06
- 시험 한계 Test limit 10·6, 15·2
ㅇ
- 아레니우스 식 Arrhenius equation 11
- 아이 다이어그램 Eye diagram 09·8
- 액티브 로드 Active load 02·2
- 엣지 배치 정확도 Edge placement accuracy EPA 02·3, 02·9, 02·10
- 여분 행·열 Redundant rows/columns 01·1, 02·9, 07·1, 07·7, 07·8, 07·9, 12·5, 15·2, 15·6
- 연속성 테스트 Continuity / open-short test 03·6, 03·8, 04·2
- 열폭주 Thermal runaway 11·4, 11·7, 11·8, 11·9
- 오버드라이브 Overdrive 03·2, 03·3, 03·8, 09·3
- 와이블 분포 Weibull distribution 11·2, 15·2
- 욕조 곡선 Bathtub curve 01·7, 09·8, 11·1, 11·2, 11·3, 11·5
- 웨이퍼 레벨 번인 Wafer-level burn-in WLBI 11·8, 13·8, 14·4
- 웨이퍼 테스트 Wafer test / wafer sort / probe WS 01·3, 01·4, 01·9, 02·1, 02·10, 03·1, 03·5, 03·7, 03·8, 04·4
- 윌리엄스–브라운 식 Williams–Brown model 01·5, 01·9, 05·6, 05·10, 13·6, 15·2
- 유출 Test escape 01·3, 01·4, 01·5, 01·6, 04·7, 05·9, 10·6, 10·7, 10·9, 12·4
- 유출 비용 Escape cost 01·4, 12·9, 13·6, 13·7, 13·9, 15·2, 15·3, 15·5
- 인덱스 시간 Index time 03·8, 13·3
- 입력 누설 전류 Input leakage IIL/IIH 04·1, 04·3, 04·8
ㅈ
- 자동 테스트 장비 Automatic test equipment ATE 01·8, 02·1, 02·8, 02·9, 07·1, 11·6, 11·8, 13·1, 13·2, 13·3
- 잠재 결함 Latent defect 01·2, 01·3, 01·7, 04·3, 10·9, 11·1, 11·3, 11·5, 11·8, 11·9
- 장치 전원 Device power supply DPS 02·1, 02·7, 02·9, 02·10, 04·1, 04·5, 13·4, 15·6
- 적응형 테스트 Adaptive test 13·7, 13·8, 14·8
- 접촉 저항 Contact resistance CRES 03·1, 03·3, 03·6, 03·8, 04·1, 04·2, 04·4, 04·8, 12·9, 13·1, 14·8
- 정밀 측정 장치 Precision measurement unit PMU 02·2, 03·5, 03·7, 04·1, 04·2, 04·3, 04·4, 04·8
- 정착 시간 Settling time 03·7, 04·8, 13·8
- 조립 낭비 Assembly waste 15·2, 15·6
- 지터 Jitter 02·3, 09·5, 09·6, 09·8, 09·9, 10·3, 15·6
ㅊ
- 처리량 Throughput / UPH UPH 03·8, 13·1, 13·3, 13·4
- 천이 폴트 Transition delay fault TDF 01·2, 01·5, 05·1, 05·8, 05·9, 05·10, 06·5, 07·5
- 첫 실패 중지 Stop on first fail 02·8, 04·1, 12·2
- 초기 고장 Infant mortality 01·3, 01·7, 11·1, 11·2, 11·3, 11·4, 11·8, 11·9, 14·3, 15·2
- 출력 레벨 Output levels VOH/VOL VOH/VOL 02·2, 02·8, 04·1, 04·4, 04·8
- 칩렛 Chiplet 08·9, 11·8, 14·1, 14·4
ㅋ
ㅌ
- 타이밍 생성기 Timing generator TG 02·3
- 터치다운 Touchdown TD 02·1, 02·8, 02·10, 03·1, 03·2, 03·4, 03·5, 03·6, 03·8, 04·2
- 테스트 벡터 Test vector 02, 08·5, 08·6
- 테스트 불가 폴트 Untestable / redundant fault 05·6, 05·10, 15·6
- 테스트 비용 Cost of test COT 01·4, 01·8, 02·1, 02·10, 03·8, 09·8, 12·9, 13·1, 13·3, 13·4
- 테스트 셀 원가 Test cell cost rate 09·8, 13
- 테스트 소켓 Test socket 03
- 테스트 시간 단축 Test time reduction TTR 13
- 테스트 포인트 Test point insertion 05·7, 05·10, 06·1, 07·1, 07·4, 07·9
- 테스트 흐름 Test flow 01·3, 01·8, 01·9, 02·8, 11·9, 12·1, 12·9, 13·9, 14·1, 14·2, 14·3, 14·8
- 토네이도 그림 Tornado chart 15
- 특성 평가 Characterization 01·1, 02·5, 09·4, 10·1, 10·9, 12·2, 13·1, 13·8, 14·7
ㅍ
- 파라메트릭 테스트 Parametric test 01·6, 04
- 파레토 프런티어 Pareto frontier 15·1, 15·5
- 파이널 테스트 Final test FT 01·3, 01·4, 01·9, 02·1, 03·1, 03·8, 09·3, 09·8, 09·9, 10·1
- 파형 포맷 Waveform format 02·4, 02·8
- 패턴 메모리 Pattern / vector memory 02·3, 02·6, 02·10, 03·5, 06·4, 06·9
- 폴트 Fault 01·2, 01·5, 01·8, 01·9, 04·6, 04·8, 05·1, 05·2, 05·3, 05·4
- 폴트 시뮬레이션 Fault simulation 05·5, 05·7
- 폴트 축약 Fault collapsing 05·3
- 폴트 커버리지 Fault coverage FC 01·2, 01·5, 01·9, 05·5, 05·6, 05·7, 05·10, 13·6, 13·9
- 표본 검사 Sampling test 14
- 푸아송 수율 모델 Poisson yield model 01
- 프로버 Prober 02·1, 02·8, 02·9, 03·4, 03·5, 12·9, 13·1, 13·2, 13·3, 13·5
- 프로브 카드 Probe card 01·3, 01·8, 02·1, 02·7, 02·10, 03·1, 03·2, 03·3, 03·5, 03·7
- 프로브 클리닝 Probe cleaning 03
- 핀 일렉트로닉스 Pin electronics PE 02·1, 02·2, 02·9, 03·1, 09·1
ㅎ
A
B
C
- Cpk Process capability index Cpk 10·8
D
- D 알고리즘 D-algorithm 05·5
- DFT Design for testability DFT 01·1, 01·8, 06·1, 06·4, 13·1, 13·7, 13·8, 15·1
- DNL Differential nonlinearity DNL 09·1, 09·2, 09·3, 09·5, 09·7, 09·9
- DPAT Dynamic PAT DPAT 04·7, 12·6, 12·7, 12·9, 13·8, 15·2, 15·6
- DPPM Defective parts per million DPPM 01·1, 01·3, 01·4, 01·5, 01·6, 01·7, 01·9, 04·7, 05·6, 05·9
- DUT Device under test DUT 02·1, 02·2, 02·3, 02·5, 02·7, 02·9, 03·1, 03·7, 09·1, 09·4, 09·6, 09·7
E
F
G
H
I
- IDDQ Quiescent supply current IDDQ 01·2, 01·5, 04·1, 04·5, 04·6, 04·7, 04·8, 05·9, 05·10, 10·3
- IEEE 1500 Core test wrapper 08·7, 08·9, 13·7
- IEEE 1838 3D test access 08·9, 14·4
- IJTAG IEEE 1687 internal JTAG IJTAG 02·1, 07·7, 08·8, 08·10, 11·7, 13·7, 14·6, 15·6
- INL Integral nonlinearity INL 09·2, 09·3, 09·7, 12·1
- ΔIDDQ Delta IDDQ 01·2, 04·1, 04·6, 04·7, 04·8, 11·8, 12·1, 15·2, 15·6
K
L
M
N
- N-검출 N-detect 05·9
P
S
T
V
X
- X 마스킹 X-masking 06·6
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