Chapter 16

멀티 패터닝

렌즈가 한 번에 옮길 수 있는 무늬에는 피치의 하한이 있다. 그런데 이 하한은 노광 한 번에 걸리는 것이지 층 하나에 걸리는 것이 아니다. 한 층의 무늬를 성긴 무늬 여러 장으로 나눠 찍거나, 한 번 찍은 선의 양쪽 벽에 막을 입혀 선 하나를 둘로 만들면 하한보다 촘촘한 무늬가 웨이퍼에 남는다. 이것이 멀티 패터닝이다. 대가는 마스크 수, 공정 수, 그리고 층 안에서 다시 맞춰야 하는 정렬이다. 이 장에서는 노광을 나누는 방법(LELE)과 스페이서로 피치를 쪼개는 방법(SADP, SAQP)을 직접 움직여 보고, 각각이 어떤 오차를 새로 만드는지 본다.

한계는 노광 한 번에 걸린다

3장에서 본 대로 렌즈를 통과한 회절 차수가 둘은 있어야 무늬가 생긴다. 조명을 가장 비스듬히 넣어도 0차와 1차가 함께 동공에 들어오는 피치는 \(\lambda/(2\,\mathrm{NA})\)까지다. \(k_1\)으로 쓰면 0.25다. ArF 액침(193 nm, NA 1.35)에서 이 값은 약 71.5 nm이고, 실제 양산에서는 \(k_1\) 0.28 근처인 피치 약 80 nm가 한 번 노광의 실용 한계였다. 이보다 촘촘한 격자는 마스크에 그려도 웨이퍼에는 균일한 회색만 도달한다.

여기서 눈여겨볼 것은 이 한계가 피치에 대한 것이라는 점이다. 선 하나의 폭은 한계가 아니다. 노광량을 올리거나 식각으로 깎으면(15장의 트림) 선은 얼마든지 가늘어진다. 안 되는 것은 가는 선을 가까이 나란히 놓는 일이다. 그렇다면 이웃한 선을 서로 다른 노광에 맡기면 된다. 피치 40 nm 격자에서 홀수 번째 선만 모으면 피치 80 nm 격자가 되고, 짝수 번째 선도 마찬가지다. 각각은 한 번에 찍을 수 있다.

아래 시뮬레이터에서 목표 피치를 줄여 보자. 위쪽은 그 피치를 한 번에 찍었을 때의 공간상이고, 아래쪽은 같은 무늬를 필요한 만큼 나눴을 때 마스크 한 장씩이 만드는 공간상이다.

SIMULATOR

한 번에 찍기와 나눠 찍기

한 번 노광의 k₁—
한 번에 찍은 대비—
필요한 분할 수—
마스크 한 장의 피치—
나눈 뒤 대비—
해볼 것: ① 피치를 160 nm에서 천천히 줄인다. ArF 액침은 72 nm 아래에서 위쪽 곡선이 평평해진다. ② 28 nm(LB-28)에 두면 세 장으로 나눠야 한다. ③ EUV로 바꾸면 28 nm가 한 번에 찍힌다. (스칼라 모델, 피치마다 가장 유리한 두 점 쌍극 조명, 분할 수는 실용 한계 k₁ = 0.28·0.30 기준. 나눈 마스크는 선폭을 피치의 절반으로 넓게 찍고 나중에 깎는다고 가정한다.)

위쪽 곡선은 한계 피치를 지나는 순간 갑자기 평평해진다. 1차 회절광이 동공 밖으로 나가 버리기 때문이고, 노광량이나 레지스트로는 되살릴 수 없다. 아래쪽 곡선은 피치가 넓어진 덕에 대비를 그대로 유지한다. 무늬를 \(N\)장으로 나누면 한 장의 피치는 \(N\)배가 된다.

$$p_{\text{층}} = \frac{p_{\text{노광}}}{N} \;\ge\; \frac{1}{N}\cdot\frac{\lambda}{2\,\mathrm{NA}}$$
\(N\)은 한 층을 만드는 데 쓰는 노광 횟수 또는 스페이서로 피치를 쪼갠 배수다. ArF 액침에서 \(N\) = 2면 약 36~40 nm, \(N\) = 4면 약 18~20 nm까지 내려간다.

나누는 방법은 크게 둘이다. 하나는 노광과 식각을 되풀이하는 LELE(Litho-Etch-Litho-Etch), 다른 하나는 선의 측벽에 입힌 막을 새 무늬로 쓰는 자기 정렬 스페이서 패터닝(Self-aligned double/quadruple patterning, SADP·SAQP)이다. 앞의 것은 어떤 모양이든 나눌 수 있지만 두 노광 사이의 정렬 오차를 그대로 떠안는다. 뒤의 것은 정렬이 필요 없지만 균일한 격자밖에 만들지 못한다. 이 장의 나머지는 이 두 문장을 풀어 쓴 것이다.

그냥 두 번 노광하면 안 되는가같은 레지스트에 마스크 두 장을 차례로 노광하고 한 번에 현상하면 될 것 같지만, 그렇게는 피치가 줄지 않는다. 레지스트는 두 노광의 세기를 더해서 기억한다. 피치 80 nm 공간상 둘을 40 nm 어긋나게 더하면 기본 주파수 성분이 서로 지워져 다시 평평한 세기가 된다. 첫 번째 무늬를 식각으로 아래 막에 굳혀 레지스트의 기억을 지운 다음에 두 번째 노광을 해야 한다. LELE의 E가 그 역할이다.

LELE: 찍고 식각하고, 다시 찍고 식각한다

LELE의 순서는 이름 그대로다. 마스크 A를 노광해 하드마스크에 식각으로 옮긴다. 레지스트를 벗기고 다시 도포한 뒤 마스크 B를 노광해 같은 하드마스크에 옮긴다. 하드마스크에는 A와 B가 합쳐진 무늬가 남고, 이것을 아래 막으로 한 번에 전사한다. 금속 배선층이라면 무늬는 트렌치이고 나중에 구리가 채워진다.

문제는 B를 찍을 때 웨이퍼를 A에 다시 맞춰야 한다는 것이다. 12장에서 오버레이는 층과 층 사이의 문제였다. LELE에서는 같은 층 안에서 오버레이가 생긴다. 아래 그림에서 마스크 B(주황)를 손잡이로 끌어 좌우로 움직여 보자.

SIMULATOR

마스크 B를 끌어 본다: 오버레이가 간격이 된다

마스크 A의 트렌치마스크 B의 트렌치겹친 곳
주황색 선을 좌우로 끈다
A-B 오버레이—
B의 왼쪽 간격—
B의 오른쪽 간격—
두 간격의 차이—
판정—
해볼 것: ① B를 오른쪽으로 5 nm 끈다. 왼쪽 간격은 25, 오른쪽은 15 nm가 된다. ② 20 nm까지 끌면 B가 A에 닿아 두 배선이 단락된다. ③ 정렬을 맞춘 채 B의 선폭만 키워 본다. 이번에는 양쪽 간격이 함께 줄어든다. (최종 피치 40 nm, 선폭 20 nm, 마스크 한 장의 피치 80 nm. 간격 12 nm 미만을 규격 위반으로 본다.)

한 번 노광으로 찍은 격자에서는 선과 선 사이 간격이 모두 같은 마스크에서 나오므로 오버레이와 무관하다. LELE에서는 간격의 한쪽 벽은 A가, 다른 쪽 벽은 B가 만든다. 그래서 오버레이 오차 \(\delta\)가 그대로 간격 오차가 된다.

$$s_{\pm} = s_0 \pm \delta - \frac{\Delta w_A + \Delta w_B}{2}$$
\(s_0\)는 설계 간격, \(\delta\)는 A에 대한 B의 오버레이, \(\Delta w\)는 각 마스크의 선폭 오차다. B의 왼쪽 간격과 오른쪽 간격은 \(2\delta\)만큼 벌어진다.

트렌치 사이 간격은 구리 배선 사이의 절연막 폭이다. 이것이 좁아지면 배선 사이 정전 용량이 커지고, 더 좁아지면 절연 파괴 수명이 줄고, 닿으면 단락이다. 간격 규격이 ±10%라면 20 nm 간격에서 허용되는 오버레이는 2 nm뿐이고, 그것도 선폭 오차가 하나도 없을 때의 이야기다. 액침 노광기의 제품 위 오버레이가 약 2~3 nm 수준이라는 점을 생각하면 여유가 거의 없다.

단면으로 같은 과정을 한 단계씩 보자. 단계 버튼을 차례로 누르고, 마지막 단계에서 오버레이 슬라이더를 움직인다.

SIMULATOR

LELE 단면: 하드마스크에 두 번 새긴다

레지스트TiN 하드마스크저유전막구리
단계—
B 왼쪽 절연막 폭—
B 오른쪽 절연막 폭—
판정—
해볼 것: ① 1부터 6까지 차례로 누른다. 2단계에서 하드마스크에 A의 구멍이 남고, 4단계에서 B의 구멍이 그 사이에 더해진다. ② 6단계에서 오버레이를 ±10 nm로 바꾼다. 구리 사이 절연막이 한쪽은 두꺼워지고 한쪽은 얇아진다. ③ ±20 nm에서는 두 배선이 하나로 붙는다. (수직 식각, 레지스트 평탄 도포, 반사 방지막 생략. 가로 240 nm.)

2단계가 핵심이다. A의 무늬가 TiN 하드마스크에 구멍으로 남으면, 그 위에 레지스트를 다시 도포하고 노광해도 A는 지워지지 않는다. 하드마스크가 A를 기억하는 것이다. 이 기억층이 있어야 두 노광이 서로 독립이 된다. 노광을 세 번 하는 LELELE(LE3)도 원리는 같다. 다만 정렬 관계가 A-B, A-C, B-C 셋으로 늘고, 그만큼 간격의 종류도 늘어난다.

LELE가 잘하는 것LELE는 선 모양을 가리지 않는다. 꺾인 배선, 길이가 제각각인 선, 고립된 비아처럼 불규칙한 2차원 무늬도 마스크 둘에 나눠 담을 수만 있으면 된다. 그래서 스페이서 방식이 다루지 못하는 비아, 컷, 그리고 양방향 배선이 남아 있던 세대의 금속층에 주로 쓰였다. 대표적으로 금속 피치 약 64 nm이던 20 nm·16/14 nm급 로직의 아래쪽 금속층이 LELE였다.

색 분해: 어떤 도형을 어느 마스크에 넣을까

LELE를 쓰려면 레이아웃의 도형마다 마스크를 정해 줘야 한다. 규칙은 하나다. 한 번 노광으로 구분할 수 없을 만큼 가까운 두 도형은 같은 마스크에 넣을 수 없다. 도형을 점으로, 너무 가까운 쌍을 선으로 이으면 충돌 그래프(Conflict graph)가 되고, 마스크 배정은 이웃한 점이 같은 색이 되지 않게 점을 칠하는 문제가 된다. 그래서 이 작업을 색 분해(Coloring, decomposition)라고 부른다.

직접 칠해 보자. 도형을 누를 때마다 마스크가 A → B → (C) → 없음 순으로 바뀐다. 점선은 충돌 관계이고, 같은 색끼리 이어지면 붉은 실선이 된다.

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색칠 놀이: 이웃은 다른 마스크로

도형을 눌러 마스크를 정한다
같은 색 충돌—
배정 안 된 도형—
이 장수로 분해—
판정—
해볼 것: ① "평행선"은 A, B를 번갈아 칠하면 끝난다. ② "홀수 고리"를 2장으로 칠해 본다. 어떻게 칠해도 붉은 선이 하나 남는다. ③ 스티치를 켜거나 마스크를 3장으로 늘려 다시 칠한다. (같은 마스크 안 최소 간격 45 nm 미만이면 충돌로 본다. 선폭 20 nm, 이웃 간격 20 nm.)

"홀수 고리" 레이아웃에서 충돌 관계를 따라가면 세로선 넷과 위쪽 가로 막대가 다섯 개짜리 고리를 이룬다. 고리를 따라 A, B, A, B로 칠하면 다섯 번째 도형은 양옆이 A와 B여서 어느 쪽도 쓸 수 없다. 그래프 이론의 오래된 결과 그대로다. 홀수 고리가 있는 그래프는 두 색으로 칠할 수 없다. 반대로 홀수 고리가 없으면 반드시 두 색으로 칠해진다.

빠져나가는 길은 셋이다.

색이 정해지면 전기적 성질도 갈린다마스크 A의 선과 마스크 B의 선은 따로 찍히므로 선폭의 평균이 조금씩 다르다. 같은 회로에서 대칭이어야 할 두 배선이 서로 다른 색을 받으면 저항과 정전 용량이 어긋난다. 그래서 설계 도구는 색을 설계 정보의 일부로 다루고, 민감한 신호선 쌍에는 같은 색을 강제하기도 한다.

SADP: 선 하나의 양쪽 벽이 선 둘이 된다

오버레이가 문제라면 정렬할 필요가 없는 방법을 쓰면 된다. SADP(Self-aligned double patterning)는 노광을 한 번만 하고, 그 무늬의 측벽에 박막을 입혀 피치를 반으로 만든다. 순서는 다섯 단계다.

  1. 맨드릴 형성. 최종 피치의 두 배로 선을 찍어 희생막에 옮긴다. 이 선을 맨드릴(Mandrel, core)이라 한다.
  2. 스페이서 증착. 원자층 증착(ALD)으로 맨드릴의 위, 옆, 바닥에 같은 두께의 막을 입힌다. 두께가 방향과 무관하게 같은 것을 등각(Conformal)이라 한다.
  3. 에치백. 수직 방향으로만 깎는 식각으로 입힌 두께만큼 걷어 낸다. 위와 바닥의 막은 사라지고, 수직으로 두꺼운 측벽의 막만 남는다. 이것이 스페이서(Spacer)다.
  4. 맨드릴 제거. 맨드릴만 골라 녹여 낸다. 맨드릴 하나에 스페이서 둘이 남는다.
  5. 전사. 스페이서를 마스크 삼아 아래 하드마스크를 식각한다.

단계 버튼을 차례로 누른 다음, 두 번째 맨드릴의 오른쪽 가장자리에 달린 손잡이를 끌어 맨드릴 선폭을 바꿔 보자.

SIMULATOR

SADP 다섯 단계와 피치 워킹

맨드릴스페이서하드마스크아래 막
손잡이를 끌어 맨드릴 폭을 바꾼다
선폭 (스페이서)—
간격 ① 맨드릴 자리—
간격 ② 맨드릴 사이—
피치 워킹 |①−②|—
판정—
해볼 것: ① 1~5를 차례로 눌러 순서를 본다. ② 4단계에서 맨드릴을 16 nm로 넓힌다. 간격이 16, 12, 16, 12로 번갈아 나온다. ③ 스페이서를 16 nm로 두껍게 한다. 선은 굵어지고 간격 ②만 4 nm 줄어든다. ④ 스페이서를 21 nm 이상으로 올리면 맨드릴 사이가 메워져 선 둘이 붙는다. (맨드릴 피치 56 nm → 최종 피치 28 nm. 완전 등각 증착, 수직 에치백, 맨드릴 측벽은 수직이라고 가정.)

맨드릴 하나가 선 둘이 되므로 선의 수는 두 배, 피치는 절반이다. 그리고 두 선의 위치는 맨드릴의 양쪽 벽에 묶여 있어서 정렬할 것이 없다. "자기 정렬"이라는 이름이 여기서 나왔다. 선폭은 스페이서 두께 그 자체다. ALD는 원자층 단위로 두께를 쌓기 때문에 웨이퍼 전체에서 두께 편차가 1% 안팎으로 작다. 노광으로 정한 선폭보다 훨씬 고르다.

오차는 간격으로 간다. 맨드릴 피치를 \(P\), 맨드릴 선폭을 \(M\), 스페이서 두께를 \(S\)라 하면

$$w = S,\qquad s_1 = M,\qquad s_2 = P - M - 2S$$
\(w\)는 최종 선폭, \(s_1\)은 맨드릴이 있던 자리의 간격, \(s_2\)는 맨드릴과 맨드릴 사이의 간격이다. 두 간격이 같으려면 \(M = P/2 - S\)여야 한다. 선폭과 간격을 모두 같게 하려면 \(M = S = P/4\)다.

맨드릴이 1 nm 넓어지면 \(s_1\)은 1 nm 늘고 \(s_2\)는 1 nm 줄어 둘의 차이는 2 nm가 된다. 스페이서가 1 nm 두꺼워지면 \(s_2\)만 2 nm 준다. 이렇게 간격이 하나 걸러 하나씩 넓고 좁게 번갈아 나오는 것을 피치 워킹(Pitch walking)이라 한다. 평균 피치는 정확히 \(P/2\)인데 이웃 선 사이 거리가 걸음걸이처럼 길고 짧게 흔들린다는 뜻이다. CD-SEM으로 선폭만 재면 완벽해 보이므로 간격을 종류별로 따로 재야 드러난다(11장).

맨드릴은 넓게 찍고 깎는다맨드릴 피치 56 nm에 선폭 14 nm는 선과 간격의 비가 1:3이다. 이런 가는 선은 공간상 대비가 낮아 그대로 찍기 어렵다. 그래서 레지스트는 선폭을 피치의 절반 가까이로 찍고, 식각 단계에서 옆으로 깎아(15장의 트림) 목표 폭으로 줄인다. 맨드릴 선폭 오차에는 노광의 CD 오차와 트림량의 오차가 함께 들어간다.

SAQP: 스페이서 위에 스페이서를 한 번 더

스페이서 공정을 한 번 더 하면 피치는 다시 반이 된다. 첫 번째 스페이서를 아래 막에 전사해 두 번째 맨드릴로 만들고, 그 측벽에 두 번째 스페이서를 입힌다. 맨드릴 하나가 선 넷이 되므로 SAQP(Self-aligned quadruple patterning)라 한다. ArF 액침으로 피치 112 nm 맨드릴을 찍으면 28 nm 격자가 나온다. 맨드릴의 \(k_1\)은 0.39로 여유가 있다.

간격의 종류는 셋으로 늘어난다. 최종 간격이 어디서 왔는지 따져 보면 된다.

$$s_\alpha = S_1,\qquad s_\beta = M - 2S_2,\qquad s_\gamma = P - M - 2S_1 - 2S_2$$
\(S_1\), \(S_2\)는 첫 번째·두 번째 스페이서 두께, 최종 선폭은 \(w = S_2\)다. \(s_\alpha\)는 두 번째 맨드릴(첫 스페이서)이 있던 자리, \(s_\beta\)는 원래 맨드릴 자리의 안쪽, \(s_\gamma\)는 원래 맨드릴 사이다. 한 주기에 \(\beta, \alpha, \gamma, \alpha\) 순으로 나온다. \(P\) = 112 nm에서 모두 14 nm가 되려면 \(M\) = 42, \(S_1 = S_2\) = 14 nm다.

세 슬라이더를 하나씩 움직여 어느 간격이 반응하는지 본다. 위는 첫 번째 스페이서까지 만든 단면, 가운데는 최종 단면, 아래 막대는 최종 간격 여덟 개의 값이다. 막대는 바로 위 단면의 간격 위치에 맞춰 놓았다.

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SAQP: 오차 셋, 간격 세 종류

α 둘째 맨드릴 자리β 맨드릴 자리γ 맨드릴 사이
선폭 w = S₂—
간격 α—
간격 β—
간격 γ—
가장 큰 차이—
판정 (간격 ±10%)—
해볼 것: ① M만 43 nm로 올린다. β는 +1, γ는 −1 nm 움직이고 α는 그대로다. ② S₁만 15 nm로 올린다. α는 +1, γ는 −2 nm다. ③ S₂만 15 nm로 올린다. 선이 1 nm 굵어지고 β와 γ가 함께 −2 nm다. ④ 셋을 같은 방향으로 조금씩 올리면 γ가 가장 먼저 0이 되어 선이 붙는다. (맨드릴 피치 112 nm, 가로 224 nm. 점선 띠는 14 nm ± 1.4 nm.)

세 간격의 민감도를 표로 정리하면 다음과 같다. γ는 세 오차를 모두 받고, 계수도 가장 크다. 그래서 SAQP의 공정 관리는 대개 γ 간격을 지키는 일이다.

오차 +1 nm선폭 w간격 α간격 β간격 γ
맨드릴 선폭 M00+1−1
첫째 스페이서 S₁0+10−2
둘째 스페이서 S₂+10−2−2

LB-28의 간격 예산이 ±1.4 nm(11장)라면 스페이서 두께 오차는 각각 0.5 nm보다 한참 작아야 하고, 맨드릴 선폭도 1 nm 안에 들어와야 한다. 두께 14 nm 막을 0.3 nm 안에서 맞추는 일은 ALD이기에 가능하다. 실제로는 여기에 스페이서 모양의 문제가 더해진다. 에치백 뒤의 스페이서는 한쪽 어깨가 둥글고 조금 기울어 있어서, 이것을 두 번째 맨드릴로 쓰면 좌우 스페이서의 높이와 폭이 달라진다. 이 책의 모델은 그 효과를 넣지 않았다.

어디에 쓰였나스페이서 패터닝이 가장 먼저 자리 잡은 곳은 NAND 플래시다. 셀 배열이 완전히 규칙적인 선·간격이어서 스페이서와 궁합이 맞았고, 2x nm·1x nm 세대 워드라인이 SADP와 SAQP로 만들어졌다. DRAM의 비트라인·활성 영역도 같은 이유로 스페이서를 썼다. 로직에서는 핀(fin)이 대표적이다. 14/16 nm급의 핀(피치 약 42~48 nm)이 SADP, 10/7 nm급의 핀(피치 약 27~34 nm)이 SAQP였고, 피치 약 36~40 nm의 가장 촘촘한 금속층에도 SAQP 또는 SADP가 쓰였다. ArF 액침 SAQP의 한계는 피치 약 20 nm다.

스페이서는 고리와 격자만 만든다: 컷 마스크

스페이서에는 두 가지 제약이 있다. 첫째, 스페이서는 맨드릴의 둘레 전체에 생긴다. 맨드릴은 길이가 유한한 막대이므로 위에서 보면 스페이서는 막대를 한 바퀴 감싼 닫힌 고리다. 선 두 줄이 양 끝에서 이어져 있는 셈이라 그대로 배선으로 쓰면 단락이다. 둘째, 스페이서 두께는 어디서나 같다. 선폭을 곳곳에서 다르게 하거나, 선을 원하는 자리에서 끊거나, 선 하나를 빼는 일을 스페이서만으로는 할 수 없다.

① 맨드릴과 스페이서 스페이서가 둘레를 감싼다 ② 맨드릴 제거 선 둘이 양 끝에서 이어진 고리 ③ 컷 마스크 고리 끝과 선 중간을 잘라 낸다
스페이서 고리와 컷. 붉은 점선 상자가 컷 마스크가 여는 자리다. 위아래의 큰 상자는 고리 끝을 한꺼번에 잘라 선 네 줄로 만들고, 가운데 작은 상자는 선 한 줄만 끊어 끝-끝 간격을 만든다. 작은 컷이 어렵다.

그래서 스페이서 공정에는 늘 두 번째 마스크가 따라온다. 격자에서 필요 없는 부분을 잘라 내는 컷 마스크(Cut mask), 또는 트렌치 격자에서 금속이 채워지지 않게 미리 막아 두는 블록 마스크(Block mask)다. 선을 잘라 내느냐 트렌치를 막느냐의 차이일 뿐 하는 일은 같다. 격자는 스페이서가 만들고, 그 격자를 회로로 바꾸는 것은 컷이다.

컷은 격자 위에 따로 찍으므로 오버레이가 돌아온다. 아래는 LB-28의 격자(피치 28 nm 세로선 여덟 줄)다. 점선 상자가 끊어야 할 자리 다섯 곳이고, 색 상자가 컷이다. 컷을 끌어 점선 위에 올려 보자.

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컷을 끌어 선을 끊는다

컷을 끌어 점선 자리에 놓는다
컷의 좌우 오버레이 여유—
제대로 끊은 곳—
잘못 건드린 선—
필요한 컷 마스크—
판정—
해볼 것: ① 컷 다섯 개를 점선 위로 끌어 놓는다. 좌우로 7 nm 넘게 어긋나면 덜 잘리거나 이웃 선이 파인다(붉은색). ② "목표에 맞추기"를 누르고 컷 폭을 14 nm와 42 nm로 바꿔 본다. 여유가 0이 된다. 43 nm부터는 정확히 놓아도 이웃 선이 파인다. ③ 최소 거리를 60에서 120 nm까지 움직여 컷 마스크 수가 1장에서 4장으로 느는 것을 본다. 컷에 적힌 숫자가 마스크 번호다. (컷 높이 24 nm, 중심 사이 거리 기준, 창은 주기 경계. 컷 자체의 선폭 오차와 모서리 둥글어짐은 넣지 않았다.)

컷은 목표 선을 폭 전체에 걸쳐 덮어야 하고, 동시에 이웃 선은 건드리지 말아야 한다. 선폭 \(w\), 피치 \(p\), 컷 폭 \(c\)일 때 컷이 좌우로 어긋나도 되는 양은

$$|\delta_x| \le \min\!\left(\frac{c - w}{2},\; p - \frac{w}{2} - \frac{c}{2}\right) \;\le\; \frac{p - w}{2}$$
첫 항은 목표 선을 다 덮는 조건, 둘째 항은 이웃 선에 닿지 않는 조건이다. 둘이 같아지는 \(c = p\)에서 여유가 가장 크고, 그 값은 간격의 절반이다. LB-28에서는 \(c\) = 28 nm일 때 ±7 nm다.

±7 nm는 넉넉해 보이지만 혼자 쓰는 예산이 아니다. 컷의 선폭 오차, 격자 선의 위치 오차(피치 워킹이 선을 좌우로 민다), 컷 모서리의 둥글어짐이 모두 같은 7 nm에서 빠져나간다. 12장의 가장자리 배치 오차(EPE) 예산이 바로 이 계산이다. 남는 오버레이 예산은 대개 3~4 nm 아래다.

두 번째 문제는 컷끼리의 거리다. 컷은 2차원으로 고립된 작은 구멍 무늬라서 선·간격 격자보다 해상 한계가 느슨하다. ArF 액침 한 번으로 구분되는 컷 중심 사이 거리는 약 80~100 nm다. LB-28의 끊긴 자리 다섯 곳은 가까운 쌍끼리 80~98 nm 떨어져 있어, 최소 거리를 90 nm로 잡으면 충돌 그래프에 삼각형이 생기고 컷 마스크가 세 장 필요하다. 앞 절의 색칠 문제가 컷 마스크에서 다시 나타난 것이다. 폭 28 nm, 높이 24 nm짜리 구멍도 ArF 액침으로는 그 크기로 찍히지 않으므로, 크게 찍은 뒤 구멍 안벽에 막을 입혀 줄이는 공정(수축)이 추가로 붙는다.

스페이서는 금속인가 절연막인가

지금까지는 스페이서가 남은 자리를 "선"이라고 불렀다. 금속 배선층에서는 이 선이 무엇이 되는지를 정해야 한다. 다마신 공정(15장)에서 구리는 트렌치에 채워지므로 선택지는 둘이다.

둘의 차이는 오차가 어디로 가느냐다. 방식을 바꿔 가며 맨드릴 선폭 오차를 넣어 보자.

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SID와 SIM: 오차는 금속으로 가는가 절연막으로 가는가

맨드릴스페이서구리절연막
구리 선폭 (최소~최대)—
구리 사이 절연막 (최소)—
배선 저항의 선간 편차—
읽는 법—
해볼 것: ① SID에서 맨드릴 오차를 ±6 nm까지 움직인다. 구리 선폭은 번갈아 굵고 가늘어지지만 절연막 폭은 변하지 않는다. ② SIM으로 바꾼다. 이번에는 구리 선폭이 고정되고 절연막 폭이 번갈아 변한다. ③ SID에서 스페이서 오차를 −4 nm로 내린다. 모든 절연막이 함께 얇아진다. (맨드릴 피치 56 nm, 기준 값은 모두 14 nm. 저항은 선폭에 반비례한다고 보았다.)

SID에서는 구리 사이 거리가 스페이서 두께로 고정된다. 배선이 서로 닿거나 절연막이 얇아져 수명이 줄어드는 사고가 구조적으로 막힌다. 대신 구리 선폭이 흔들리고, 그만큼 저항이 선마다 달라진다. SIM은 반대다. 금속층에서는 단락과 절연 파괴가 저항 편차보다 치명적이고, 맨드릴 폭을 곳곳에서 달리 그려 굵은 전원선을 섞어 넣을 수도 있어서 대체로 SID가 쓰인다.

SALELE와 자기 정렬 블록·비아SID를 한 걸음 더 밀면 SALELE(Self-aligned litho-etch-litho-etch)가 된다. 첫 번째 노광으로 맨드릴 트렌치를 만들고 스페이서를 입힌 뒤, 스페이서 사이의 남은 자리를 두 번째 노광으로 연다. 두 번째 무늬가 조금 어긋나도 스페이서 벽이 가장자리를 정해 주므로 금속 사이 거리는 여전히 스페이서 두께다. LELE의 자유로운 모양과 스페이서의 정렬 무관성을 함께 얻는다. 같은 생각을 컷과 비아에도 쓴다. 이웃한 트렌치를 식각 선택비가 다른 두 재료로 번갈아 채워 두면, 컷이 옆 선 위로 넘어와도 그 선의 재료는 깎이지 않는다(자기 정렬 블록). 비아도 위층 배선의 하드마스크가 옆 가장자리를 막아 주게 만든다(자기 정렬 비아). 오버레이 여유를 간격의 절반에서 피치 하나 가까이로 넓히는 방법들이고, 값은 재료와 공정 단계의 수로 치른다.

EUV 한 장과 ArF 여러 장

피치 28 nm는 EUV 0.33 NA로 한 번에 찍힌다(\(k_1\) = 0.34). 끝-끝 간격도 같은 마스크에 그려 넣으면 되므로 컷 마스크가 필요 없다. 같은 무늬를 ArF 액침으로 만들려면 SAQP에 컷 마스크 여러 장이 든다. 두 길을 숫자로 나란히 놓아 보자.

아래 시뮬레이터는 아주 단순한 비용 모델이다. ArF 액침 노광 한 번의 비용을 1로 두고, EUV 노광 한 번이 그 몇 배인지, 증착·식각·세정 같은 비노광 단계 하나가 얼마인지를 슬라이더로 정한다.

SIMULATOR

LB-28 한 층의 비용: SAQP + 컷 대 EUV

노광증착·식각·세정
마스크 수 (ArF : EUV)—
공정 단계 수—
층 안의 정렬 횟수—
비용 비 (ArF / EUV)—
같아지는 EUV 비용—
해볼 것: ① 기본값에서 두 막대를 비교한다. ② EUV 비용을 올려 두 막대가 같아지는 점을 찾는다. ③ 컷 마스크를 1장으로 줄인다. 끝-끝 간격이 드문 규칙적인 층에서는 ArF 쪽이 싸질 수 있다. (교육용 가정: SAQP 격자는 노광 1 + 비노광 15단계, 컷 한 장마다 노광 1 + 비노광 4단계, EUV는 노광 1 + 비노광 5단계. 실제 단계 수와 비용은 공정마다 크게 다르다. 수율, 사이클 타임, 장비 가동률은 넣지 않았다.)

EUV 노광기는 ArF 액침 노광기보다 값이 약 2~3배이고, 광원 전력과 마스크·펠리클 비용, 시간당 처리량까지 따지면 노광 한 번의 비용은 몇 배가 된다(13장). 그런데도 EUV가 이기는 것은 멀티 패터닝이 노광 말고도 많은 것을 요구하기 때문이다.

항목ArF 액침 SAQP + 컷 3장EUV 한 번
마스크4장1장
공정 단계 (이 책의 가정)약 31약 6
층 안에서 맞추는 정렬컷 3장을 각각 격자에없음
새로 생기는 오차피치 워킹(간격 세 종류), 컷 EPE확률적 결함, 선 거칠기(14장)
설계 자유도한 방향 격자 + 컷2차원 모양 일부 허용
웨이퍼가 층을 지나는 시간길다 (단계 수에 비례)짧다

공정 단계가 늘면 단계마다 결함이 더해지고, 웨이퍼가 공장에 머무는 시간이 늘고, 문제가 생겼을 때 원인을 찾을 곳도 늘어난다. 7 nm급 로직의 첫 세대는 EUV 없이 ArF 액침만으로 만들어졌는데, 가장 촘촘한 금속층과 비아에 마스크가 층마다 서너 장씩 들어 전체 마스크 수가 80장 안팎까지 늘었다. EUV는 그런 층 하나의 마스크 서너 장을 한 장으로 되돌렸다. EUV가 도입된 직접적인 이유는 해상도라기보다 이 단순화였다.

멀티 패터닝은 끝나지 않았다EUV에도 \(k_1\) 한계가 있다. 0.33 NA에서 한 번 노광의 한계 피치는 약 20.5 nm이고, 확률적 결함 때문에 실용 한계는 그보다 넉넉히 위다. 금속 피치가 20 nm 근처로 내려오면 EUV로 LELE나 SADP를 하거나 High-NA로 넘어가야 한다(14장). 이 장의 방법은 광원이 바뀌어도 그대로 쓰인다.

멀티 패터닝이 레이아웃에 요구하는 것

공정 흐름으로 보면 멀티 패터닝은 식각 전사 단계의 기술이지만, 그 영향은 흐름의 맨 앞인 레이아웃까지 거슬러 올라간다. 스페이서가 만드는 것은 한 방향으로 뻗은 고정 피치 격자뿐이므로, 설계가 거기에 맞춰져야 한다.

예전: 양방향 배선 꺾임과 폭 변화가 자유롭다. 홀수 고리가 숨어 있다. 멀티 패터닝: 한 방향 격자 + 컷 선은 격자 위에만, 꺾임은 위아래 층과 비아로. 컷비아
한 방향 설계. 오른쪽에서는 한 층의 선이 모두 같은 방향, 같은 폭, 같은 피치다. 가로로 가야 하는 신호는 비아를 타고 위층(가로 방향 격자)으로 올라갔다 내려온다. 회로의 모양은 컷과 비아의 위치만으로 정해진다.

대표적인 규칙은 다음과 같다.

규칙이 엄격해진 만큼 설계자가 고를 수 있는 모양은 줄었다. 그 대신 노광 쪽에서는 한 방향 격자 하나에만 조명과 OPC를 맞추면 되므로(4장의 쌍극 조명, 7장) 공정 윈도가 넓어진다. 설계와 공정이 서로의 사정을 받아들여 함께 최적화한다는 뜻에서 이것을 설계·공정 동시 최적화(DTCO)라 부른다.

TARGET LB-28타깃 파일 · 16장

EUV가 없다면: ArF 액침 SAQP와 컷 석 장

LB-28을 ArF 액침으로 한 번에 찍으면 \(k_1\) = 0.098이다. 한계 0.25의 절반에도 못 미친다. LELE로 나누려면 마스크 한 장의 피치가 80 nm는 되어야 하므로 세 장(피치 84 nm, \(k_1\) 0.29)이 필요하고, 그러면 A-B, B-C, A-C의 오버레이가 모두 14 nm 간격에 그대로 들어온다. 간격 예산 ±1.4 nm에 오버레이 약 2 nm는 맞지 않는다. 남는 길은 스페이서다.

맨드릴 피치 112 nm(\(k_1\) 0.39)를 한 번 찍어 폭 42 nm로 깎고, 14 nm 스페이서를 두 번 입히면 피치 28 nm, 선폭 14 nm의 세로선 여덟 줄이 정렬 없이 나온다. 간격은 α, β, γ 세 종류가 되고, γ는 맨드릴 1 nm에 −1 nm, 스페이서 1 nm에 −2 nm씩 움직인다. 끊긴 자리 다섯 곳은 폭 28 nm 컷으로 자르며 좌우 오버레이 여유는 ±7 nm다. 가까운 컷끼리의 거리가 80~98 nm여서 한 마스크 안 최소 거리를 90 nm로 잡으면 컷 마스크가 세 장이다. 합치면 마스크 4장, 이 책의 가정으로 공정 약 31단계다. EUV는 마스크 1장, 약 6단계다.

이 장에서 정한 것ArF 액침 경로: 맨드릴 112 nm → SAQP → 컷 3장. EUV 경로: 한 번 노광. 마스크 4 : 1.
아직 남은 문제SAQP의 간격 세 종류와 컷 EPE. EUV 쪽은 확률적 결함과 처리량.
다음 단계LB-28이 실제 칩의 어느 층에 해당하는지, 층마다 어떤 노광을 고르는지 본다(17장).

핵심 정리

  1. 피치 한계 \(\lambda/(2\mathrm{NA})\)는 노광 한 번에 걸린다. 한 층을 \(N\)번에 나눠 만들면 층의 피치는 그 \(1/N\)까지 내려간다. 첫 무늬를 식각으로 굳힌 뒤에 다음 노광을 해야 한다.
  2. LELE는 어떤 모양이든 나눌 수 있지만, 두 노광 사이의 오버레이가 그대로 간격 오차가 된다. 한쪽 간격은 \(+\delta\), 반대쪽은 \(-\delta\)다.
  3. 마스크 배정은 충돌 그래프의 색칠 문제다. 홀수 고리가 있으면 두 장으로 나눌 수 없고, 스티치·세 번째 마스크·레이아웃 수정 중 하나가 필요하다.
  4. SADP는 맨드릴 측벽의 스페이서를 선으로 쓴다. 선폭은 스페이서 두께, 간격은 \(M\)과 \(P - M - 2S\)다. 둘이 다르면 피치 워킹이 생긴다.
  5. SAQP는 스페이서를 두 번 써서 피치를 1/4로 만든다. 오차원이 셋(맨드릴, 스페이서 둘), 간격이 세 종류이고 맨드릴 사이 간격 γ가 가장 민감하다.
  6. 스페이서는 닫힌 고리와 균일한 격자만 만든다. 선을 끊는 것은 컷·블록 마스크이고, 컷의 오버레이 여유는 간격의 절반이 최대다. 컷끼리 가까우면 컷 마스크도 여러 장이 된다.
  7. EUV 한 번 노광은 ArF 액침의 마스크 서너 장과 수십 단계를 대신한다. 멀티 패터닝은 설계에 한 방향 격자와 컷 중심의 규칙을 요구한다.

확인 퀴즈

1. 최종 피치 40 nm, 간격 20 nm인 LELE 층에서 마스크 B가 A에 대해 오른쪽으로 4 nm 어긋났다. 선폭 오차는 없다. B 트렌치의 왼쪽과 오른쪽 간격은?

B가 오른쪽으로 가면 왼쪽 A와는 멀어지고 오른쪽 A와는 가까워진다. 오버레이 δ가 그대로 간격에 ±δ로 들어가므로 24 nm와 16 nm다. 두 간격의 차이는 2δ = 8 nm다.

2. 맨드릴 피치 80 nm, 스페이서 두께 20 nm인 SADP에서 맨드릴 선폭이 목표 20 nm보다 3 nm 넓은 23 nm로 나왔다. 결과는?

선폭은 스페이서 두께이므로 변하지 않는다. 맨드릴 자리 간격은 M = 23 nm, 맨드릴 사이 간격은 P − M − 2S = 80 − 23 − 40 = 17 nm다. 평균 피치는 여전히 40 nm이고 간격만 6 nm 차이로 번갈아 나온다. 이것이 피치 워킹이다.

3. 충돌 그래프에 도형 다섯 개가 고리 모양으로 이어져 있다. 옳은 것은?

홀수 고리는 두 색으로 칠할 수 없다. 번갈아 칠하면 마지막 도형의 양옆이 서로 다른 색이 된다. 이것은 그래프의 성질이므로 오버레이 성능과 무관하다. 도형 하나를 스티치로 잘라 고리 길이를 6으로 만들거나, 세 번째 마스크를 쓰거나, 도형을 떨어뜨려 고리를 끊는다.

4. SAQP에서 둘째 스페이서만 목표보다 0.5 nm 두껍게 증착됐다. 최종 무늬는?

최종 선폭은 S₂다. β = M − 2S₂, γ = P − M − 2S₁ − 2S₂이므로 둘 다 2 × 0.5 = 1 nm 줄어든다. α = S₁은 둘째 스페이서와 무관하다. 그래서 α만 넓고 β, γ가 좁은 무늬가 된다.